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高低溫試驗(yàn)箱在電子元器件可靠性測(cè)試中的典型應(yīng)用案例

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    2025年05月16日
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廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司
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在電子信息產(chǎn)業(yè)高速發(fā)展的今天,電子元器件的可靠性直接影響著電子產(chǎn)品的性能與壽命。高低溫試驗(yàn)箱作為模擬環(huán)境的核心設(shè)備,在電子元器件可靠性測(cè)試中扮演著角色。通過幾個(gè)典型案例,我們可以深入了解其實(shí)際應(yīng)用效果。
某手機(jī)廠商在研發(fā)新款智能手機(jī)時(shí),需確保內(nèi)部電子元器件在復(fù)雜環(huán)境下的穩(wěn)定性。在對(duì)主板上的芯片進(jìn)行測(cè)試時(shí),利用高低溫試驗(yàn)箱將溫度從 -40℃至 85℃進(jìn)行循環(huán)變化,每個(gè)溫度點(diǎn)保持 2 小時(shí)。測(cè)試初期,部分芯片出現(xiàn)性能下降、信號(hào)傳輸不穩(wěn)定等問題。經(jīng)分析,發(fā)現(xiàn)是芯片封裝材料在溫度下產(chǎn)生熱脹冷縮,導(dǎo)致引腳焊點(diǎn)出現(xiàn)細(xì)微裂紋。后續(xù)通過優(yōu)化封裝工藝,并多次使用試驗(yàn)箱驗(yàn)證,最終解決了該問題,確保了手機(jī)在嚴(yán)寒與高溫環(huán)境下的正常運(yùn)行。
在車載電子領(lǐng)域,一家汽車零部件供應(yīng)商對(duì)車載導(dǎo)航系統(tǒng)的電子元器件進(jìn)行可靠性測(cè)試。車載環(huán)境復(fù)雜多變,對(duì)元器件的耐溫性要求高。試驗(yàn)箱設(shè)定了 -30℃至 70℃的溫度范圍,并模擬車輛啟動(dòng)、行駛過程中的溫度變化曲線。測(cè)試過程中,顯示屏的背光源在低溫下出現(xiàn)亮度不均的情況。技術(shù)人員通過調(diào)整背光源的驅(qū)動(dòng)電路參數(shù),并在試驗(yàn)箱中反復(fù)測(cè)試驗(yàn)證,成功解決問題,保證了車載導(dǎo)航系統(tǒng)在不同氣候條件下的清晰顯示。



對(duì)于工業(yè)控制領(lǐng)域的電子元器件,某自動(dòng)化設(shè)備制造商進(jìn)行了更為嚴(yán)苛的測(cè)試。利用高低溫試驗(yàn)箱模擬工業(yè)現(xiàn)場(chǎng) -25℃至 65℃的環(huán)境,并增加濕度變化,模擬潮濕的工業(yè)環(huán)境。在測(cè)試?yán)^電器時(shí),發(fā)現(xiàn)高溫高濕環(huán)境下,繼電器觸點(diǎn)出現(xiàn)氧化、接觸不良的現(xiàn)象。通過采用鍍銀觸點(diǎn)、優(yōu)化密封結(jié)構(gòu),并結(jié)合試驗(yàn)箱的多次測(cè)試,有效提升了繼電器的可靠性,確保工業(yè)設(shè)備在惡劣環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行。

這些案例充分表明,高低溫試驗(yàn)箱通過精準(zhǔn)模擬環(huán)境,能夠有效暴露電子元器件潛在的質(zhì)量問題。企業(yè)通過試驗(yàn)箱測(cè)試結(jié)果優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)與生產(chǎn)工藝,極大地提升了電子元器件的可靠性,為電子產(chǎn)品的品質(zhì)保駕護(hù)航,推動(dòng)了電子信息產(chǎn)業(yè)的高質(zhì)量發(fā)展。


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