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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>實驗室常用設(shè)備>其它實驗室常用設(shè)備>其它實驗室設(shè)備> 全自動測汞儀

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全自動測汞儀

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 克拉克中國
  • 品牌
  • 型號
  • 產(chǎn)地 美國利曼
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時間 2015/11/29 19:28:17
  • 訪問次數(shù) 905

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克拉克(中國)有限公司從事可靠性測試設(shè)備的銷售和測試服務(wù)。    

一、金屬鑄件,巖石,橡膠輪胎等檢測: 工業(yè)CT,X射線實時成像系統(tǒng),X光機,透視機。( 工業(yè)CT高精度計算機斷層掃描系統(tǒng)鑄件密度分割容積計算空間分布 )

二、激光測振儀(進口)位移分辨率高達0.008納米。測量物體振動的速度,加速度,位移,運動軌跡,頻率.全場激光測振實現(xiàn)整面物體的XY軸的振動測量可以彩色動畫輸出。三維激光測振可以實現(xiàn)三軸振動測量。多點激光測振可以同時實現(xiàn)16個振動點振動并可以測量物體瞬間振動和實時的振動模擬.

三、 耗材: 磁粉探傷,滲透探傷        

     磁粉探傷:磁粉對導磁材料鋼,鐵,鈷,鎳等,材料表面微小裂紋的檢測。 如,發(fā)動機,軸承,鋼管的表面裂紋的快速檢測。滲透探傷包括熒光法和著色法。熒光法是將含有熒光物質(zhì)的滲透液涂敷在被探傷件表面,通過毛細作用滲入表面缺陷中,然后清洗去表面的滲透液,將缺陷中的滲透液保留下來,進行顯象。典型的顯象方法是將均勻的白色粉末撒在被探傷件表面,將滲透液從缺陷處吸出并擴展到表面。這時,在暗處用紫外線燈照射表面,缺陷處發(fā)出明亮的熒光。 著色法與熒光法相似,只是滲透液內(nèi)不含熒光物質(zhì),而含著色染料,使?jié)B透液鮮明可見,可在白光或日光下檢查。


過程補償聲共振測試系統(tǒng)-在線無損檢測工件結(jié)構(gòu)缺陷

    它是一種工藝過程補償?shù)穆暪舱駲z測系統(tǒng) 使用給定的頻率振動工件并記錄工件的響應(yīng)情況. 將工件的共振狀態(tài)與存儲的數(shù)據(jù)(圖形)進行比較 VIPR軟件將對所存儲的樣品組的每一只工件樣品的共振記錄進行分析,來確定可以準確區(qū)分良品和不良品的樣式,從而建立分選模塊。.自動判定工件的好壞..  PCRI檢測缺陷的類型: 常見缺陷----所有工藝裂縫, 夾渣, 化學物質(zhì), 性能缺失, ,充填不足, 尺寸差異PCRI檢測工藝加工而成的缺陷類型鑄鋁: 氧化物; 冷疤;收縮孔隙;吹砂孔;延伸度(距角).鑄鐵: 氧化物; 冷疊邊;收縮孔隙;球化率;t熱處理; 碳化物.粉末冶金:氧化物;齒缺陷;多孔性;燒結(jié);模壓缺陷; 脫碳.鍛造:  端料工件; 重復鍛壓;疊壓工件; 淬火;材質(zhì)差異.

   

四、 環(huán)境可靠性試驗   工業(yè)冷熱沖擊箱、工業(yè)烤箱、恒溫恒濕實驗箱、溫濕度循環(huán)實驗箱、工業(yè)壓力鍋蒸煮實驗箱


五、電子行業(yè)的失效分析設(shè)備銷售及測試服務(wù)

芯片分析手段匯總(微焦點xray,SAT;DECAP)

芯片分析手段有:

     1   SAT(超聲掃描),無損檢查:1.材料內(nèi)部的晶格結(jié)構(gòu),雜質(zhì)顆粒.夾雜物.沉淀物.2. 內(nèi)部裂紋. 3.分層缺陷.4.空洞,氣泡,空隙等.

     2   微焦點XRay  用途:半導體BGA,線路板等內(nèi)部位移的分析 ;利于判別空焊,虛焊等BGA焊接缺陷

  ?。豏AY:微焦點X射線可以穿過塑封料并對包封內(nèi)部的金屬部件成像,因此,它特別適用于評價由流動誘導應(yīng)力引起的引線變形 在電路測試中,引線斷裂的結(jié)果是開路,而引線交叉或引線壓在芯片焊盤的邊緣上或芯片的金屬布線上,則表現(xiàn)為短路。X射線分析也評估氣泡的產(chǎn)生和位置,塑封料中那些直徑大于1毫米的大空洞,很容易探測到. ), 德國Feinfocus

     3  日本UNION HISOMET 測量工具顯微鏡   測量焊球、邦定線高度 Z軸測量誤差低于2微米.

     4  BGA LED推拉力測試儀 焊接強度測試儀 采用了AUTO-RANGE技術(shù)和VPM垂直定位技術(shù),測試傳感器采用自動量程設(shè)計,分辨率高達0.0001克.

激光測振儀,芯片推拉力測試儀,HISOMET,納米CT,滲透探傷

目前, 利曼公司測汞儀的總銷量占美國市場 80%以上, 在國家出入境、環(huán)保、農(nóng)業(yè)、研究機關(guān)、大學等眾多的重要實驗室已經(jīng)有幾百臺成熟可靠的應(yīng)用參考。
 
主要特點
(1) 固體直接進樣分析, 不需要樣品前處理,符合EPA 7473標準方法。
(2) 雙光束設(shè)計光學設(shè)計、自動監(jiān)控基線穩(wěn)定。
(3) *的干燥管除水技術(shù)避免干擾信號,無需恒溫、即開即用、快速簡單。
(4) zui高的分析范圍, 檢出限0.001ng, 測定上限高達1500ng. 特殊配置可以提升到25000ng的zui高水平。
(5) *的穩(wěn)定重現(xiàn)性  <1.5 % @ 1ng Hg 。

Hydra II C 冷原子吸收測汞儀
技術(shù)參數(shù)
 1.檢出限:0.001ng-1500ng
2.平均分析時間:1個樣品/5分鐘 
3.工作范圍:25000ng(高汞測量選擇項)


 

一、設(shè)備的用途:主要應(yīng)用于固體和液體等樣品中汞元素的定量分析。
二、設(shè)備的原理:通過高溫熱解作用使樣品中的汞元素釋放,并通過金汞齊吸收汞蒸氣;再通過加熱吹掃,定量釋放金汞齊中吸附的汞,然后根據(jù)原子吸收原理進行分析測量。
三、工作條件
1、工作電壓:220VAC±10%;
2、溫度:10~30℃;
3、濕度:20%~80%。
四、主要技術(shù)參數(shù):
1.  無須任何樣品前處理、無須使用任何試劑、直接測定固體或液體樣品分析, 符合EPA 7473標準方法。
*2. 雙光束光路設(shè)計,有效消除電壓、溫度等波動引起的信號漂移
*3.  外置70位樣品自動進樣器,固體/液體樣品均適用,機械手臂自動進樣;具有無樣品數(shù)限制的連續(xù)分析功能, 緊急樣品可以隨時插入分析。
*4. 高效去濕管,自動去除樣品燃燒后產(chǎn)生的水氣,至少1年無需更換。
*5. 樣品中的檢出限:≤0.001ng  
*6、工作范圍:0.001ng-1500ng;25000ng(高汞測量選擇項)
7. 重復性:  RSD≤1.5%@1ngHg
8. zui大樣品量:³1500mg(固體樣品);³1500ml(液體樣品)
9. 分析速度:≤5分鐘/樣品
10. 具有樣品自動濃縮功能:即在分析超低含量樣品金汞齊自動富集, 具備10倍的富集能力。
11.具有極低的樣品記憶效應(yīng),100ng汞分析后空白值<0.5ng Hg.
12. 圖文操作界面方便儀器操作.
13. 樣品分析過程由計算機動態(tài)監(jiān)控,直觀,實用.
14. 軟件功能強大,可進行各種數(shù)據(jù)處理及在線幫助。
*15、在同一臺儀器設(shè)備上可以直接升級為液體自動進樣器,不需要增加任何的檢測器;實現(xiàn)兩套不同的進樣系統(tǒng)共用一套檢測系統(tǒng)。
*16、全自動測汞儀主要配置包括:測汞儀主機、外置70位自動進樣器、計算機、打印機、工作站軟件、一套金汞齊管、2 個催化管、1個汞燈、1個去濕管及 O 型圈。


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