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體視顯微鏡

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 克拉克中國
  • 品牌
  • 型號
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時間 2016/3/28 4:17:49
  • 訪問次數(shù) 608
產(chǎn)品標簽

體視顯微鏡 顯微鏡

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克拉克(中國)有限公司從事可靠性測試設(shè)備的銷售和測試服務。    

一、金屬鑄件,巖石,橡膠輪胎等檢測: 工業(yè)CT,X射線實時成像系統(tǒng),X光機,透視機。( 工業(yè)CT高精度計算機斷層掃描系統(tǒng)鑄件密度分割容積計算空間分布 )

二、激光測振儀(進口)位移分辨率高達0.008納米。測量物體振動的速度,加速度,位移,運動軌跡,頻率.全場激光測振實現(xiàn)整面物體的XY軸的振動測量可以彩色動畫輸出。三維激光測振可以實現(xiàn)三軸振動測量。多點激光測振可以同時實現(xiàn)16個振動點振動并可以測量物體瞬間振動和實時的振動模擬.

三、 耗材: 磁粉探傷,滲透探傷        

     磁粉探傷:磁粉對導磁材料鋼,鐵,鈷,鎳等,材料表面微小裂紋的檢測。 如,發(fā)動機,軸承,鋼管的表面裂紋的快速檢測。滲透探傷包括熒光法和著色法。熒光法是將含有熒光物質(zhì)的滲透液涂敷在被探傷件表面,通過毛細作用滲入表面缺陷中,然后清洗去表面的滲透液,將缺陷中的滲透液保留下來,進行顯象。典型的顯象方法是將均勻的白色粉末撒在被探傷件表面,將滲透液從缺陷處吸出并擴展到表面。這時,在暗處用紫外線燈照射表面,缺陷處發(fā)出明亮的熒光。 著色法與熒光法相似,只是滲透液內(nèi)不含熒光物質(zhì),而含著色染料,使?jié)B透液鮮明可見,可在白光或日光下檢查。


過程補償聲共振測試系統(tǒng)-在線無損檢測工件結(jié)構(gòu)缺陷

    它是一種工藝過程補償?shù)穆暪舱駲z測系統(tǒng) 使用給定的頻率振動工件并記錄工件的響應情況. 將工件的共振狀態(tài)與存儲的數(shù)據(jù)(圖形)進行比較 VIPR軟件將對所存儲的樣品組的每一只工件樣品的共振記錄進行分析,來確定可以準確區(qū)分良品和不良品的樣式,從而建立分選模塊。.自動判定工件的好壞..  PCRI檢測缺陷的類型: 常見缺陷----所有工藝裂縫, 夾渣, 化學物質(zhì), 性能缺失, ,充填不足, 尺寸差異PCRI檢測工藝加工而成的缺陷類型鑄鋁: 氧化物; 冷疤;收縮孔隙;吹砂孔;延伸度(距角).鑄鐵: 氧化物; 冷疊邊;收縮孔隙;球化率;t熱處理; 碳化物.粉末冶金:氧化物;齒缺陷;多孔性;燒結(jié);模壓缺陷; 脫碳.鍛造:  端料工件; 重復鍛壓;疊壓工件; 淬火;材質(zhì)差異.

   

四、 環(huán)境可靠性試驗   工業(yè)冷熱沖擊箱、工業(yè)烤箱、恒溫恒濕實驗箱、溫濕度循環(huán)實驗箱、工業(yè)壓力鍋蒸煮實驗箱


五、電子行業(yè)的失效分析設(shè)備銷售及測試服務

芯片分析手段匯總(微焦點xray,SAT;DECAP)

芯片分析手段有:

     1   SAT(超聲掃描),無損檢查:1.材料內(nèi)部的晶格結(jié)構(gòu),雜質(zhì)顆粒.夾雜物.沉淀物.2. 內(nèi)部裂紋. 3.分層缺陷.4.空洞,氣泡,空隙等.

     2   微焦點XRay  用途:半導體BGA,線路板等內(nèi)部位移的分析 ;利于判別空焊,虛焊等BGA焊接缺陷

  ?。豏AY:微焦點X射線可以穿過塑封料并對包封內(nèi)部的金屬部件成像,因此,它特別適用于評價由流動誘導應力引起的引線變形 在電路測試中,引線斷裂的結(jié)果是開路,而引線交叉或引線壓在芯片焊盤的邊緣上或芯片的金屬布線上,則表現(xiàn)為短路。X射線分析也評估氣泡的產(chǎn)生和位置,塑封料中那些直徑大于1毫米的大空洞,很容易探測到. ), 德國Feinfocus

     3  日本UNION HISOMET 測量工具顯微鏡   測量焊球、邦定線高度 Z軸測量誤差低于2微米.

     4  BGA LED推拉力測試儀 焊接強度測試儀 采用了AUTO-RANGE技術(shù)和VPM垂直定位技術(shù),測試傳感器采用自動量程設(shè)計,分辨率高達0.0001克.

激光測振儀,芯片推拉力測試儀,HISOMET,納米CT,滲透探傷

CLACK系列定檔體視顯微鏡
1.雙目鏡筒:傾斜45 °可旋轉(zhuǎn)360°  
瞳距55-75mm視度±5°  
2.廣角目鏡:WF10X/18mm   
3.物鏡:1X-2X、1X-3X、1X-4X、2X-4X(任選一組)  
4.總放大倍數(shù):10X-20X  10X-30X             
 10X-40X  20X-40X    
5.調(diào) 焦 :粗動 可調(diào)立柱高度245 mm   
升降范圍65mm    
6.工作距離:100mm   
7. 光源:上光源LED燈  

 

CLACK5-B連續(xù)變倍體視顯微鏡
1.雙目鏡筒:傾斜45 °可旋轉(zhuǎn)360°,  
瞳距54-75 mm  視度±5°  
2.高眼點目鏡:WF10X/20mm  
3.物鏡:0.7X-4.5X(變倍比1:6.4)  
   標配放大倍數(shù):7X-45X  
   4.調(diào) 焦 :粗動 立桿高度250 mm ,  
升降范圍48mm    
5.允許試樣zui大高度:120mm  
6.工作距離:95mm    
7.光 源:上下光源可調(diào)鹵素12V/20W   
8. 底座面積:200mm×255mm  
9. 圓形載物臺直徑:95mm  
 



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