SZ-100 動態(tài)光散射納米顆粒分析儀-SZ-100

概要

SZ-100系列納米顆粒分析儀在描述小顆粒物理性質(zhì)方面是靈活的分析工具。根據(jù)不同的配置和應(yīng)用程序可以完成顆粒度的分析，zeta電位的檢測，分子量（Mw）以及第二維利系數(shù)（A₂）的測定。SZ-100的典型應(yīng)用包括：納米顆粒，膠體，乳液以及亞微米懸浮液。

顆粒分析儀采用動態(tài)光散射原理（DLS）。根據(jù)樣品的物理性質(zhì)，動態(tài)測量范圍為0.3 nm – 8 μm。檢測范圍的下限受到以下因素的影響：樣品濃度、樣品對光的散射強度以及大的雜質(zhì)顆粒的存在。檢測上限受樣品濃度影響，因為DLS原理是顆粒的布朗運動而不是重力沉降。

SZ-100以顆粒表面電荷特性來檢測懸浮液的zeta電位。將樣品注入一次性樣品池，通過顆粒電泳遷移率的結(jié)果計算zeta電位。 zeta電位通常是樣品分散穩(wěn)定性的一個指標。Zeta電位的數(shù)值較大表明顆粒帶電較多，斥力較大，較難發(fā)生團聚，溶液保持穩(wěn)定。通常根據(jù)pH值或其他化學參數(shù)的改變檢測zeta電位以便于設(shè)計可長時間保存的產(chǎn)品。相反地，發(fā)現(xiàn)zeta電位為零時（就是說，樣品處于等電點），就要考慮選擇*條件將顆粒進行絮凝和分離。

SZ-100還可以用于檢測蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。用戶準備幾個已知濃度的溶液，然后使用系統(tǒng)的靜態(tài)光散射模式繪制Debye曲線，從而計算出Mw和A₂。

特征

將粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數(shù)的檢測集于一身

寬檢測范圍，寬濃度范圍

雙光路雙角度粒徑測量（90° 和173°）

多重粒徑測量模式用于小顆粒和微弱散射光

用于粒徑和zeta電位檢測的微量樣品池

自動滴定儀：可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定