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OLS4100 工業(yè)共聚焦顯微鏡

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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元中銳科集成檢測(cè)技術(shù)有限公司是工業(yè)檢測(cè)技術(shù)和系統(tǒng)集成商。是日本奧林巴斯(OLYMPUS)株式會(huì)社三維超景深顯微鏡,正立金相顯微鏡,小型系統(tǒng)顯微鏡,數(shù)碼光學(xué)顯微鏡,激光共焦顯微鏡,工業(yè)顯微鏡的代理商。還是德國(guó)UHL產(chǎn)品在北方的總代理。致力于為工業(yè)制造和科研領(lǐng)域用戶提供顯微分析、圖像分析、缺陷識(shí)別和檢驗(yàn)、無損探查、品質(zhì)管理、計(jì)量,過程控制等專業(yè)檢測(cè)設(shè)備,依托強(qiáng)有力的技術(shù)資源及完善專業(yè)的售后服務(wù)與維修體系,向用戶提供專業(yè)成熟細(xì)致的服務(wù)及全面地解決方案 。
服務(wù)對(duì)象涵蓋科研院校,航空航天、冶金、電力、地質(zhì),石油石化等材料研究行業(yè),機(jī)械及微機(jī)械領(lǐng)域,以及電子領(lǐng)域、光電顯示制造、電子零件制造、半導(dǎo)體、液晶及MEMS,NANO等諸多領(lǐng)域,為用戶提供*的儀器和完善的解決方案,為用戶工作提供Z強(qiáng)有力的技術(shù)支持。
我們的技術(shù):可見光、激光、深紫外、紅外、偏光、掃描、共聚焦等多種顯微術(shù)、精密量測(cè)技術(shù)、全自動(dòng)顯微觀察及測(cè)量、數(shù)字圖象處理和識(shí)別,自動(dòng)控制等。
我們的宗旨:秉承 創(chuàng)新Innovation; 技術(shù) Technology;集成 Integration;服務(wù) Service的理念,
堅(jiān)持專業(yè)周到細(xì)致的服務(wù),不斷努力創(chuàng)新,更好地創(chuàng)造顧客價(jià)值和公司價(jià)值,成為工業(yè)檢測(cè)和質(zhì)量及過程控制方面的優(yōu)秀的公司之一。

激光共聚焦顯微鏡

工業(yè)共聚焦顯微鏡采用了有著高N.A. 的物鏡和光學(xué)系統(tǒng)(能zui大限度發(fā)揮405 nm 激光性能),LEXT OLS4100 可以精確地測(cè)量一直以來無法測(cè)量的有尖銳角的樣品。這有利于粗糙度的測(cè)量。

作為表面粗糙度測(cè)量的新標(biāo)準(zhǔn),奧林巴斯開發(fā)了LEXT OLS4100。對(duì)LEXT OLS4100 進(jìn)行了與接觸式表面粗糙度測(cè)量?jī)x同樣的校正,并在LEXT OLS4100 上配置了幾乎所有必要的粗糙度參數(shù)和濾鏡。這樣,對(duì)于使用接觸式表面粗糙度測(cè)量?jī)x的用戶來說,能得到操作性和互換性良好的輸出結(jié)果。另外,還搭載了粗糙度模式,可以用自動(dòng)拼接功能測(cè)量樣品表面直線距離zui長(zhǎng)為100 mm 的粗糙度。 OLS4100 具有與接觸式表面粗糙度測(cè)量?jī)x相同的表面輪廓參數(shù),因此具有相互兼容的操作性和測(cè)量結(jié)果。

截面曲線 Pp, Pv, Pz, Pc, Pt, Pa, Pq, Psk, Pku, Psm, PΔq, Pmr(c), Pδc, Pmr
粗糙度曲線 Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rsm, RΔq, Rmr(c),Rδc, Rmr, RZJIS, Ra75
波動(dòng)曲線 Wp, Wv, Wz, Wc, Wt, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wsm, WΔq, Wmr(c), Wδc, Wmr
負(fù)荷曲線 Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2
基本圖形 R, Rx, AR, W, , AW, Wte
粗糙度 (JIS1994) Ra(JIS1994), Ry, Rz(JIS1994), Sm, S, tp
其他 R3z, P3z, PeakCount

適應(yīng)下一代參數(shù)
OLS4100 具有符合ISO25178 的粗糙度(3D)參數(shù)。通過評(píng)估平面區(qū)域,可以進(jìn)行高可靠性的分析。

振幅參數(shù) Sq, Ssk, Sku, Sp, Sv, Sz, Sa
功能參數(shù) Smr(c), Sdc(mr), Sk, Spk, Svk, SMr1, SMr2, Sxp
體積參數(shù) Vv(p), Vvv, Vvc, Vm(p), Vmp, Vmc
橫向參數(shù) Sal, Str

• LEXT OLS4100 與表面粗糙度測(cè)量?jī)x的結(jié)果相兼容。 
surface roughness gauge

微細(xì)粗糙度

Micro Roughness1
Micro Roughness2

使用接觸式表面粗糙度測(cè)量?jī)x,無法測(cè)量比探針的針尖直徑更細(xì)微的表面輪廓。而OLS4100 有著微小的激光光斑直徑,所以能夠?qū)ξ⒓?xì)形狀進(jìn)行高分辨率的粗糙度測(cè)量。

非接觸式測(cè)量

使用接觸式表面粗糙度測(cè)量?jī)x測(cè)量柔軟的樣品時(shí),樣品容易受到探針損傷而變形。另外,帶有粘性的樣品會(huì)粘在探針上,無法得到正確的測(cè)量結(jié)果。而非接觸式的激光顯微鏡OLS4100,不會(huì)影響樣品的表面狀態(tài),可以準(zhǔn)確的測(cè)量樣品 
的表面粗糙度。

Soft Specimen
柔軟的樣品
Adhesive Specimen
帶有粘性的樣品

Polymer Film 3D image
高分子薄膜3D 影像(上)和粗糙度測(cè)量結(jié)果(左)

 

Results of Roughness Measurement

工業(yè)共聚焦顯微鏡主機(jī)
LSM 部分 光源、檢出系統(tǒng) 光源:405 nm 半導(dǎo)體激光 
檢出系統(tǒng):光電倍增管
總倍率 108x ~ 17,280x
變焦 光學(xué)變焦1x ~ 8x
測(cè)量 平面測(cè)量 重復(fù)性 00x: 3σn-1=0.02 µm
正確性 測(cè)量值的±2%以內(nèi)
高度測(cè)量 方式 物鏡轉(zhuǎn)換器上下驅(qū)動(dòng)方式
行程 10 mm
內(nèi)置比例尺 0.8 nm 
移動(dòng)分辨率 10 nm
顯示分辨率 1 nm 
重復(fù)性 50x: σn-1=0.012 μm
正確性 0.2 + L/100 μm 以下(L=測(cè)量長(zhǎng)度μm)
彩色觀察部分 光源、檢查系統(tǒng) 光源:白色LED, 
檢查系統(tǒng):1/1.8 英寸200 萬像素單片CCD
變焦 數(shù)碼變焦1x ~ 8x
物鏡轉(zhuǎn)換器 6 孔電動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)換器
微分干涉單元 微分干涉滑片:U-DICR, 
內(nèi)置偏振光片單元
物鏡 明視場(chǎng)平面半消色差透鏡5x、10x 
LEXT 平面復(fù)消色差透鏡20x、50x、100x
Z 對(duì)焦部分行程 100 mm 
XY 載物臺(tái) 100×100 mm(電動(dòng)載物臺(tái)), 
選件: 300×300 mm(電動(dòng)載物臺(tái))

為專為在工業(yè)環(huán)境下實(shí)施檢測(cè)設(shè)計(jì)的A 類設(shè)備。如在住宅區(qū)內(nèi)使用可能會(huì)干擾其他設(shè)備。

物鏡
型號(hào) 倍率 視場(chǎng) 工作距離(WD) 數(shù)值孔徑(N/A)
MPLFLN5X 108x-864x 2,560-320 μm 20.0 mm 0.15
MPLFLN10X 216x-1,728x 1,280-160 μm 11.0 mm 0.30
MPLAPON20XLEXT 432x-3,456x 640-80 μm 1.0 mm 0.60
MPLAPON50XLEXT 1,080x-8,640x 256-32 μm 0.35 mm 0.95
MPLAPON100XLEXT 2,160x-17,280x 128-16 μm 0.35 mm 0.95


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