Xevo G2-XS Tof 飛行時間質(zhì)譜

飛行時間質(zhì)譜根據(jù)科學(xué)家的需求量身定制，幫助鑒定、定量和確認挑戰(zhàn)性的復(fù)雜樣品中種類多樣的化合物。

• 保證性能的同時zui大化提升穩(wěn)定性

• zui全面的高質(zhì)量定性信息

• 靈活應(yīng)對多變需求

• 簡單易用，專業(yè)和非專業(yè)人士均可輕松上手

• 可升級至完整的QTof全功能版本

飛行時間質(zhì)譜保證性能的同時zui大化提升穩(wěn)定性

樣品和研究的復(fù)雜程度日趨增加，要在保持*分析性能的同時獲得高質(zhì)量的目標(biāo)組分?jǐn)?shù)據(jù)則面臨著更大的難度。

Xevo G2-XS Tof結(jié)合StepWave離子光學(xué)組件和XS碰撞室技術(shù)，保持著一如既往的良好選擇性，同時帶來靈敏度的顯著提升。長時分析期間，關(guān)鍵的硬件組件可持久保持潔凈，為您提供更重現(xiàn)性的結(jié)果，保證實驗室生產(chǎn)效率。

分析大量樣品時，可獲取比以往更多、更有意義的組分信息，幫助您全面深入了解樣品，制定更可靠的決策。

zui全面的高質(zhì)量定性信息

本系統(tǒng)可在短時間內(nèi)收集充分了解樣品所需的詳盡、準(zhǔn)確的各目標(biāo)組分定性及定量信息，完整展現(xiàn)出現(xiàn)代分離技術(shù)的優(yōu)勢。

MSE方法雖然簡單，但功能強大，無論可檢測組分在色譜上是否可分離，此方法都能夠確定出精確的母離子質(zhì)量數(shù)和碎片離子數(shù)據(jù)，為您帶來的定性信息，這些數(shù)據(jù)還將提供準(zhǔn)確的定量信息。由于該方法無靶向性，因此隨著科學(xué)問題的發(fā)展，您可在以后重新查詢使用這些數(shù)據(jù)。

靈活應(yīng)對多變需求

實驗室對效率和產(chǎn)量的日益重視對分析系統(tǒng)提出了更高的要求，不僅需要系統(tǒng)具備良好的耐用性和可靠性，也應(yīng)當(dāng)能夠靈活應(yīng)對現(xiàn)今的各種任務(wù)，才能在未來實現(xiàn)創(chuàng)新發(fā)展。

沃特世通用型離子源結(jié)構(gòu)可以將單一分析平臺用于多種不同應(yīng)用和化合物類型，并可以根據(jù)需求和優(yōu)先情況的變化添加新的功能。所有的離子源選項經(jīng)過精心設(shè)計，可以實現(xiàn)快速互換，輕松完成使用前準(zhǔn)備，為您帶來zui全面的系統(tǒng)功能，zui大程度減少停機時間。

簡單易用，專業(yè)和非專業(yè)人士均可輕松上手

通常，要使如此強大的分析系統(tǒng)實現(xiàn)并保持*性能，往往需要具備一定的專業(yè)知識和經(jīng)驗。

Xevo G2-XS Tof采用了*的InliStart技術(shù)，這一直觀的用戶界面可實現(xiàn)日常任務(wù)的自動化，保證了出色的可重現(xiàn)數(shù)據(jù)，確保所有人都可以使用系統(tǒng)的所有功能。InliStart可自動執(zhí)行以下基本功能：

• MS分辨率和校正檢查

• 輕松設(shè)置各種實驗

• 定期LC/MS系統(tǒng)檢查

• 持續(xù)進行系統(tǒng)監(jiān)測

可升級至完整的QTof全功能版本

為應(yīng)對日益增長的需求與挑戰(zhàn)，Xevo G2-XS Tof可直接升級至QTof全功能版本，而對實驗室的繁忙工作并不會產(chǎn)生多大影響。該升級操作可進一步增強分析系統(tǒng)的分析性能與多功能性：

在現(xiàn)實的日常實驗室條件下，Tof-MRM分析結(jié)果大大優(yōu)于以往使用高分辨率MS所獲得的檢測限和定量限，提供業(yè)內(nèi)的定量性能。

自動化靶向性數(shù)據(jù)采集技術(shù)FastDDA具備快速、智能的精確質(zhì)量數(shù)MS/MS功能，可用于確認已知化合物或鑒定未知化合物，適用于只有真正的MS/MS數(shù)據(jù)才符合要求的情況。