R3 反射光譜測量系統(tǒng)
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 上海復(fù)享光學(xué)股份有限公司
- 品牌 復(fù)享
- 型號
- 產(chǎn)地 上海
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2022/10/31 16:14:12
- 訪問次數(shù) 2633
產(chǎn)品標(biāo)簽
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按探測器 | CCD | 光譜范圍 | 可見 |
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價格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,電子 |
反射是光譜測量的基本手段,實現(xiàn)反射光譜測量通常需要光譜儀、光源、光纖、測量支架、標(biāo)準(zhǔn)參比樣品和測量軟件等。對于不同種類的樣品,為了獲取較好的光譜數(shù)據(jù),反射這種基本模式又會演化為更多的形式。
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復(fù)享光學(xué)為用戶提供了以光譜儀為核心的反射光譜測量儀器,可以搭建個性化的光譜測量系統(tǒng)。復(fù)享光學(xué) R3 反射光譜測量系統(tǒng)可以配置 1 個或者 2 個支架,用于固體和粉末樣品的反射率測量。R3 光譜測量支架也可以用來固定光纖探頭和光源,具備高靈活性和強實用性。
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