供應(yīng)進(jìn)口原裝日立分析儀器FT150鍍層測(cè)厚儀

日立分析儀器FT150鍍層測(cè)厚儀深圳譜賽斯科技有限公司du家代理商，主要經(jīng)營(yíng)：日立X射線測(cè)厚儀全套系列、銅厚測(cè)量?jī)x、X射線管、標(biāo)準(zhǔn)片、切片研磨機(jī)、取樣機(jī)、金相顯微鏡、阻抗測(cè)試儀、剝離強(qiáng)度測(cè)試儀，離子污染測(cè)試儀、元素分析儀、二次元、三次元、長(zhǎng)臂板厚測(cè)試儀，線寬測(cè)量?jī)x、X光檢查機(jī)等、原子吸收分光光度計(jì)、各種化學(xué)實(shí)驗(yàn)試劑。

日立分析儀器FT150鍍層測(cè)厚儀使用新開(kāi)發(fā)的X射線聚光用多毛細(xì)管的產(chǎn)品陣容誕生了。另外，以X射線檢測(cè)結(jié)構(gòu)為中心，對(duì)各類元件進(jìn)行優(yōu)化，從而大幅提高了檢測(cè)靈敏度，在不損失檢測(cè)精度的前提下實(shí)現(xiàn)了的高處理能力。并且，對(duì)設(shè)備進(jìn)行了重新設(shè)計(jì)，使得樣本室的使用，以及對(duì)檢測(cè)點(diǎn)的檢查變得更為容易。

X射線熒光鍍層厚度測(cè)厚儀 FT150系列 特長(zhǎng)

1．顯微領(lǐng)域的高精度檢測(cè)

通過(guò)采用新開(kāi)發(fā)的多毛細(xì)管，以及對(duì)探測(cè)器的優(yōu)化，在實(shí)現(xiàn)照射半徑等同于舊有型號(hào)FT9500X為30 μm（設(shè)想FWHM： 17 μm）的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步將處理能力提高到了2倍以上。

2．產(chǎn)品陣容適應(yīng)各類檢測(cè)樣本

針對(duì)檢測(cè)樣本的不同種類，可在下列3種型號(hào)中進(jìn)行選擇。

測(cè)量引線架、連接器等各類電子元器件的微型部件、超薄薄膜的型號(hào)
能夠處理尺寸為600 mm×600 mm的大型印刷電路板的大型印刷電路板用型號(hào)
適合對(duì)陶瓷芯片電極部分中，過(guò)去難以同時(shí)測(cè)量的Sn/Ni兩層進(jìn)行高能測(cè)量的型號(hào)

3．日立分析儀器FT150鍍層測(cè)厚儀兼顧易操作性與安全性

放大了開(kāi)口，同時(shí)樣本室的門也可單手輕松開(kāi)閉。從而提高了取出、放入檢測(cè)樣本的操作簡(jiǎn)便性，并且該密封結(jié)構(gòu)也大大減少了X射線泄漏的風(fēng)險(xiǎn)，讓用戶放心使用。

4．檢測(cè)部位可見(jiàn)

通過(guò)設(shè)置大型觀察窗、修改部件布局，使得樣本室門在關(guān)閉狀態(tài)下亦可方便地觀察檢測(cè)部位。

5．清晰的樣本圖像

使用了分辨率比以往更高的樣本觀察攝像頭，采用全數(shù)碼變焦，從而消除位置偏差，可以清晰地觀察數(shù)十μm的微小樣本。

另外，亦采用LED作為樣本觀察燈，無(wú)需像以往的機(jī)型那樣對(duì)燈泡進(jìn)行更換。

6．新GUI

將各類檢測(cè)方法、檢測(cè)樣本都以應(yīng)用程序圖標(biāo)的形式進(jìn)行了登記。圖標(biāo)皆為檢測(cè)樣本的照片、多層膜的圖示等，因此登記、整理起來(lái)就很方便，從而使得用戶可以不走彎路，直接進(jìn)行檢測(cè)。
使用檢測(cè)向?qū)Т翱趤?lái)指導(dǎo)操作。通過(guò)與檢測(cè)畫面聯(lián)動(dòng)，逐步引導(dǎo)用戶執(zhí)行當(dāng)前所需進(jìn)行的工作。