日立儀器FT110膜厚測(cè)試儀

膜厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。鍍層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。

日立儀器FT110膜厚測(cè)試儀，與以往的膜厚儀相同，適用于各種應(yīng)用程序，同時(shí)通過(guò)增加新功能以提高可操作性和測(cè)量性能，從而大幅縮短從準(zhǔn)備樣品到完成所有處理的時(shí)間。

日立儀器FT110膜厚儀采用新FP法，高精度化在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的情況下也能測(cè)量。支持階梯測(cè)量進(jìn)一步提高波峰離能力，測(cè)量精度更高。對(duì)于存在階梯或高度差的樣品采用自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)和新FP法，可以在不處理樣品、不更改條件設(shè)置的情況下進(jìn)行測(cè)量。（適用于80mm以內(nèi)的階梯或高度差）

日立儀器FT110膜厚測(cè)試儀規(guī)格
測(cè)量元素：鈦Ti 22到鈾U92
X射線管：W靶材，管電壓50kv 管電流1mA
檢測(cè)器：比例計(jì)算管
準(zhǔn)直器：Φ0.1、Φ0.2mm
樣品觀察：CCD攝像頭

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