QEMSCAN 650F巖芯、巖屑自動定量分析系統(tǒng)

一、設備介紹

QEMSCAN 650F巖芯、巖屑自動定量分析系統(tǒng)是一個高速自動化的礦物參數自動定量分析系統(tǒng)。能對樣品進行礦物物質組成、巖石特征、成份定量、礦物嵌布特征、礦物粒級分布、礦物解離度等重要參數進行自動定量分析，主要用于石油、礦業(yè)、冶金、地質等領域。

QEMSCAN 650F巖芯、巖屑自動定量分析系統(tǒng)在石油領域的應用包括：

1）鉆芯、鉆削礦物組成、巖石類型分析

2）鉆井數據集累

3）石油、天然氣勘探

4）石油、天然氣資源、藏量評估

5）生產井位置選擇

6）卡鉆事故預防

QEMSCAN巖芯、巖屑分析系統(tǒng)采用FEI公司Quanta 650F 場發(fā)射環(huán)境掃描電鏡作作為主要的硬件平臺。Quanta 650F 場發(fā)射環(huán)境掃描電鏡利用電子束激發(fā)樣品產生的二次電子、背散射電子以及X射線等信號，以獲得樣品表面形貌，結合能譜儀等分析儀器可以對微區(qū)成分進行檢測，是用于試樣的顯微形貌觀察及微區(qū)成分分析的*手段，除氣體以外的試樣均可用掃描電鏡進行觀察。在石油天然氣領域，Quanta 650F適用于觀察非常規(guī)油氣樣品的微納米孔隙結構、大小、類型、微裂縫發(fā)育等；用于研究微納孔隙及縫隙上附著的水、油或瀝青，對巖石孔隙的含水飽和度及含油飽和度等進行研究

二、QUANTA 650F多用途掃描電鏡主要參數

1、電子光學

1）高分辨率肖特基場發(fā)射電子槍

2）加速電壓: 200 V - 30 kV

3）束流: 大200 nA并連續(xù)可調

4）放大倍數: 6 x 1,000,000 x （四幅圖像顯示）

2、分辨率

1）30 kV下 3.0 nm（背散射探頭）

2）30 kV下 1.0 nm（二次電子探頭）

3）3 kV下 3.0 nm（二次電子探頭）

3、檢測器

1）高靈敏度、低電壓固體背散射探頭

2）二次電子探頭

3）樣品室紅外 CCD 相機

4、真空系統(tǒng)

1）樣品室真空度 (高真空模式) < 6e-4 Pa

2）樣品室真空度(低真空模式) < 10 to 130 Pa

3）樣品室真空度(環(huán)境真空模式) < 10 to 4000 Pa

5、樣品室

1）左右內徑 379mm

2）10 mm 分析工作距離

3）10個 探測器 / 附件接口

4）EDS 采集角: 35°

6、樣品臺

1）X/Y = 150 mm

2）Z = 65 mm

3）Z向間隙 93.5mm

4）傾斜：- 5° - + 70°

5）連續(xù)旋轉 360°

6）復精度: 2 μm (X/Y 方向)

7）偽全對中樣品臺

7、SEM 計算機

Windows 7操作系統(tǒng)

8、能譜儀

1）雙硅漂移探頭

2）超快速脈沖處理

3）電制冷 （無需液氮）