M4 TORNADO PLUS 超輕元素微區(qū)X射線熒光成像光譜儀M4 PLUS
- 公司名稱 鉑悅儀器（上海）有限公司
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號 M4 TORNADO PLUS
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2024/1/2 12:36:51
- 訪問次數(shù) 2040
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鉑悅儀器自2004年成立以來，憑借與世界各大儀器品牌的戰(zhàn)略合作關系，以及不斷優(yōu)化公司自身經(jīng)營管理，提高服務質(zhì)量，成為中國國內(nèi)的儀器供應商。鉑悅儀器所提供的產(chǎn)品均屬于高科技行業(yè)，產(chǎn)品包括高精度的分析儀器、檢測儀器和生產(chǎn)設備，以及配套的耗材和配件，這些產(chǎn)品廣泛應用于工業(yè)、環(huán)境、食品、生物、地質(zhì)、半導體、太陽能、醫(yī)藥、醫(yī)療器械、藝術考古、刑偵等各個領域并服務于各大院校、研究所、檢測機構、及政府部門等。
鉑悅儀器不僅擁有高品質(zhì)的產(chǎn)品，更培養(yǎng)了專業(yè)的銷售、應用支持和售后服務團隊。本著客戶至上的原則，從客戶的實際需求出發(fā)，鉑悅儀器為客戶提供儀器銷售，安裝培訓，應用支持，代檢測服務及儀器短期租賃服務等綜合解決方案，并提供持續(xù)而良好的售后服務，由此也獲得了廣大客戶的信任與認可。
企業(yè)文化Corporate Culture： CREDIT
C- Confidence: 自信
R- Responsibility: 責任心
E- Efficiency: 效率
D- Diligence: 勤奮
I- Intelligence: 機智
T- Trust: 信任
鉑悅儀器持續(xù)為您提供：儀器銷售，安裝培訓，應用支持，代檢測服務及儀器短期租賃服務。
行業(yè)涵蓋：
工業(yè)、環(huán)境、食品、生物、地質(zhì)、半導體、太陽能、醫(yī)藥、醫(yī)療器械、藝術考古、刑偵
應用范圍：
材料成份分析（定性/定量）
大面積材料元素分布
材料表面/形貌分析
3D掃描--快速3D成像
CT--3D內(nèi)部結構分析
太陽能IV檢測
產(chǎn)品：
-- 直讀光譜儀
-- 手持式XRF分析儀 S1 TITAN
-- 科研級手持式XRF分析儀TRACER
-- 便攜式熒光光譜儀 ELIO
-- 便攜臺式XRF分析儀 CTX
-- 微區(qū)X射線熒光光譜儀-元素掃描M4 TORNADO
-- 巖芯分析儀
-- 臺階儀、光學輪廓儀、原子力顯微鏡AFM
-- 臺式X射線熒光測厚儀
-- X射線透射系統(tǒng)/3D斷層掃描系統(tǒng) （CT ）
-- 3D掃描儀
-- 便攜式IV曲線檢測儀
巖芯分析儀，微區(qū)X射線熒光光譜儀，直讀光譜儀,手持式合金分析儀;Bruker臺階儀,光學輪廓儀,摩擦磨損儀,原子力顯微鏡;膜厚儀，藝術與考古分析儀
| 價格區(qū)間 | 100萬-150萬 | 能量分辨率 | < 145eVeV |
|---|---|---|---|
| 行業(yè)專用類型 | 通用 | 儀器種類 | 臺式/落地式 |
| 應用領域 | 農(nóng)業(yè),地礦,電子 | 元素分析范圍 | C(6)~Am(95) |
M4 TORNADO PLUS 產(chǎn)品簡介：
超輕元素微區(qū)X射線熒光成像光譜儀M4 TORNADO PLUS是布魯克微區(qū)X射線熒光光譜儀M4 TORNADO 系列的新產(chǎn)品，擁有更多特性和功能，例如可檢測出C（6）- Am（95）間全部元素的強大性能、創(chuàng)新性的孔徑管理系統(tǒng)，高通量脈沖處理器以及快速靈活更換的樣品臺等。
產(chǎn)品特點：
· 超輕元素窗口SDD探測器，可檢測到輕質(zhì)元素，如碳元素等
· 高通量脈沖處理器，有效減少測樣時間，提高測試效率
· 孔徑管理系統(tǒng)，更大景深，對表面不平整樣品分析具有特別的優(yōu)勢
· 快速靈活的樣品臺（可選），模塊化的樣品臺接口，減少樣品的更換和準備時間
· 配備準直器的第二個X射線光管（可選），四種光斑尺寸，高能量線性分析更靈活
· 氦氣吹掃功能（可選），增加元素的分析范圍，在常壓下進行輕質(zhì)元素分析
應用實例：
1、超輕元素探測器區(qū)分螢石和方解石
螢石（CaF2）和方解石（CaCO3）都是以鈣為主要成分的礦物。它們的區(qū)別在于分別存在輕質(zhì)元素氟（F），氧（O），碳（C），因此無法使用普通的X射線光譜儀來進行檢測區(qū)分。M4 TORNADO PLUS具備超輕元素探測器，可以有效的檢測到氟（F）、氧(O)和碳(C)元素，從而可靠地鑒別這兩種礦物。
2、在孔徑管理系統(tǒng)（AMS）下分析電路板
M4 TORNADO PLUS 所具備的孔徑管理系統(tǒng)（AMS）能夠有效提高景深和空間分辨率，景深可達±5mm。這意味著即使樣本表面高度在幾毫米內(nèi)變化，空間分辨率也不會受損，并且始終保證聚焦樣品特征處。這使得本設備在面對一些對表面分析有更高要求的行業(yè)樣本時更具優(yōu)勢，例如電子學，刑偵或地球科學等。
由于AMS的場深度極深，如圖所示電路板的X射線圖像獲得更多的細節(jié)。此外，由于激發(fā)X射線光子的入口和出口角度減小，光束能量依賴性變得不那么明顯
更多應用案例
M4 Tornado 系列的微區(qū)X射線熒光光譜儀具有廣泛的應用環(huán)境，目前已經(jīng)在植物環(huán)境、科技考古、地球科學、材料科學、生物工程等領域有著諸多的應用案例。該設備在國內(nèi)外有專業(yè)的應用開發(fā)人員，專注于新應用領域的開發(fā)。
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