布魯克面掃描成份分析儀M4 TORNADO
- 公司名稱 鉑悅儀器(上海)有限公司
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/1/2 14:32:22
- 訪問(wèn)次數(shù) 792
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巖芯分析儀,微區(qū)X射線熒光光譜儀,直讀光譜儀,手持式合金分析儀;Bruker臺(tái)階儀,光學(xué)輪廓儀,摩擦磨損儀,原子力顯微鏡;膜厚儀,藝術(shù)與考古分析儀
價(jià)格區(qū)間 | 50萬(wàn)-100萬(wàn) | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
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儀器種類 | 臺(tái)式/落地式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,農(nóng)業(yè),地礦,能源,電子 |
微區(qū)X射線熒光光譜分析技術(shù)是對(duì)不均勻樣品、不規(guī)則樣品、甚至小件樣品和包裹物進(jìn)行高靈敏度的、非破壞性的元素分析方法。
布魯克微區(qū)X射線熒光光譜儀M4 TORNADO采用了技術(shù),為各種用戶提供了佳的分析性能和方便的操控性。
· 采用多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦鏡,照射光斑小,空間分辨率高。
· 渦輪增速X-Y-Z樣品臺(tái),借助放大倍數(shù)可變的攝像系統(tǒng)獲得的樣品影像,可在“飛行中”進(jìn)行元素分布分析。
· 通過(guò)可選的雙X射線光管和多6個(gè)濾光片進(jìn)行靈活的激發(fā)。
· 使用XFlash®探測(cè)器高速地獲取樣品圖譜,另外,使用多個(gè)探測(cè)器可以進(jìn)一步提高測(cè)量速度。
· 基于無(wú)標(biāo)樣分析法準(zhǔn)確定量分析塊狀樣品,準(zhǔn)確分析多層膜樣品。
· 具有便捷進(jìn)樣功能的可抽真空的樣品室
布魯克微區(qū)X射線熒光光譜儀行業(yè)應(yīng)用:
1.地球科學(xué)(巖心、巖石、沉淀物、微體化石、年輪等多元素分布成像、行掃描與相序分析。)
2.司法鑒定、法醫(yī)及痕量分析(彈孔射擊殘留物GSR分析等)
3.藝術(shù)與考古(對(duì)文物進(jìn)行顏料、色料的成分分析,修復(fù)文物)
4.生命科學(xué)(植入材料擴(kuò)散材料分析,生物體內(nèi)的生物礦化,水凝膠質(zhì)檢,樹木橫斷面/葉子/樹根年輪)
5.材料科學(xué)(三元梯度薄膜分析,鋰電池正極材料異物分析,水泥鋼材腐蝕檢驗(yàn))
6.環(huán)境科學(xué)(土壤重金屬、污水污泥重金屬分析、空氣和城市廢物)
7.質(zhì)量控制與故障分析儀(電子和電子部件元素分析,ROHS分析)