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飛馳(北京)科學(xué)儀器有限公司

化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>粒度儀>Zeta電位儀/微電泳儀>JS94系列 微電泳儀(zeta電位儀)

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JS94系列 微電泳儀(zeta電位儀)

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 北京斯達(dá)沃科技有限公司
  • 品牌 斯達(dá)沃
  • 型號 JS94系列
  • 產(chǎn)地 北京
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2019/11/28 22:50:57
  • 訪問次數(shù) 3141

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    北京斯達(dá)沃科技有限公司(以下簡稱“斯達(dá)沃”)依托北分儀器廠技術(shù)為支持,和附近各大科研單位建立緊密戰(zhàn)略合作關(guān)系,公司研發(fā)中心針對目前行業(yè)動態(tài)需求,制訂研發(fā)戰(zhàn)略進(jìn)行技術(shù)預(yù)研、技術(shù)研發(fā)、技術(shù)創(chuàng)新,以適應(yīng)當(dāng)前的行業(yè)發(fā)展需要,堅持與時俱進(jìn),自主創(chuàng)新研發(fā),研制了完整的油品分析儀器、水質(zhì)分析儀器、氣體分析等三維實驗室,其中“全自動開口閃點測定儀”“全自動微量水分測定儀” “全自動運動粘度測定儀” “ 臺式油液顆粒計數(shù)器”“便攜式油液顆粒計數(shù)器”“便攜式精密棱鏡露點儀”“ 硅磷銅鐵聯(lián)氨濁度分析儀系列” “便攜式溶解氧分析儀”“紫外/可見分光光度計”等多種儀器,在國內(nèi)的電廠、石油石化、化工廠、鋼鐵廠、檢測單位等用戶里有良好的應(yīng)用合作關(guān)系。持續(xù)為我國核工業(yè)、化工廠、污水處理廠、環(huán)境監(jiān)測站、放射性管理部門、應(yīng)急響應(yīng)、國土安全、科研機(jī)構(gòu)、高校、工業(yè)廠礦、高xin技術(shù)企業(yè)等眾多的領(lǐng)域和部門提供高質(zhì)量、高性能的產(chǎn)品的技術(shù)支持與服務(wù)。
   與此同時,公司為了滿足客戶水分析,油分析,氣分析等方面?zhèn)€性化市場需求,公司代理經(jīng)銷英國Partech、英國百靈達(dá)、美國HF水工業(yè)、美國哈希、德國WTW、德國羅維邦、英國杰普儀器、意大利哈納分析儀、瑞士斯旺、E+H等水質(zhì)分析儀;日本京都電子、日本田中科學(xué)等油分析儀器;美國pss激光粒度分析儀、德國柯雷水分儀和核輻射分析儀;美國華瑞氣體檢測儀、美國霍尼韋爾氣體檢測儀、北川氣體檢測管、美國英思科氣體檢測儀英國凱恩煙氣分析儀、英國ppm甲醛檢測儀等國外分析儀器。為我國能源清潔高效利用、污水污泥處理、固廢處理、廢氣治理、環(huán)境修復(fù)等領(lǐng)域提供技術(shù)設(shè)備支持,為眾多客戶提供了環(huán)境保護(hù)與資源再生利用工程的技術(shù)支持,公司全體員工精誠團(tuán)結(jié)、不斷創(chuàng)新,為推動國家青山綠水環(huán)保型經(jīng)濟(jì)發(fā)展而努力奮斗!

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

實驗室水質(zhì)分析設(shè)備,實驗室油品分析設(shè)備,氣體檢測儀,空氣質(zhì)量檢測儀

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工,石油,能源,綜合

微電泳儀(zeta電位儀)JS94系列介紹

 

微電泳儀(Zeta電位儀)JS94系列可用于測定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位),也可用于測量乳狀液液滴的界面電性,也可用于測定等電點、研究界面反應(yīng)過程的機(jī)理。通過測定顆粒的Zeta電位,求出等電點,是認(rèn)識顆粒表面電性的重要方法,在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國內(nèi)外其它同類型儀器相比,它具有顯著的*性??蓮V泛應(yīng)用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細(xì)材料、環(huán)境保護(hù)、海洋化學(xué)等行業(yè),也是化學(xué)、化工、醫(yī)學(xué)、建材等專業(yè)的重要教學(xué)儀器之一。

 

首部《膠體顆粒zeta電位分析 電泳法通則》國家標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布,標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 32668-2016,該國家標(biāo)準(zhǔn)于2016年11月1日起實施。

 

型號

適用體系

主要粒徑范圍

(微米)

顯微光學(xué)系統(tǒng)

分辨率

JS94H

水性體系

0.5~20

高倍顯微光學(xué)系統(tǒng)

4pixel/μm

JS94H2

水性體系和有機(jī)體系

0.5~20

高倍顯微光學(xué)系統(tǒng)

4pixel/μm

JS94J

水性體系

0.1~10

日本W(wǎng)KD

高倍顯微光學(xué)系統(tǒng)

12pixel/μm

JS94J2

水性體系和有機(jī)體系

0.1~10

日本W(wǎng)KD

高倍顯微光學(xué)系統(tǒng)

12pixel/μm

JS94K

水性體系

0.2~50

日本連續(xù)變倍光學(xué)系統(tǒng),適用于更寬范圍顆粒的測量

8pixel/μm

JS94K2

水性體系和有機(jī)體系

0.2~50

日本連續(xù)變倍光學(xué)系統(tǒng),適用于更寬范圍顆粒的測量

8pixel/μm

 

JS94系列微電泳儀(Zeta電位儀)共性參數(shù)

1、功耗:<150W

2、電源輸入電壓:220V 50Hz

3、適用環(huán)境:防震平臺  

4、適用溫度范圍:室溫到35℃,讀取精度0.1

5、測數(shù)準(zhǔn)確度:系統(tǒng)誤差在5%以內(nèi)

6、pH范圍:一般應(yīng)用在下2.0~12.0,亦可在1.6~13.0范圍內(nèi)使用

7、工作距離7mm

8、杯型開放式電泳裝置,配套特制電極支架

 

 

JS94系列微電泳儀(Zeta電位儀)功能特點

1. 儀器采用新設(shè)計的新型簡便的電泳池,采用0.5cm 厚的玻璃杯,電極內(nèi)置在池內(nèi)。電泳杯與內(nèi)置電極經(jīng)精密的微流場計算、表面處理,組成一套與傳統(tǒng)的電泳池*不一樣電泳裝置。測試時樣品用量極少,每次僅 0.5ml,易于清洗,使用方便,經(jīng)濟(jì)實用。

2. 采用經(jīng)過精心設(shè)計的電極支架,與電泳杯緊密配合,形成一個杯形開放式電泳裝置,電極采用銀、鉑和鈦金屬絲制成,經(jīng)表面處理后工作狀態(tài)穩(wěn)定。

3. 制作精良的十字標(biāo),置入電泳杯后放在三維平臺上,調(diào)整三維平臺,在計算機(jī)屏幕看到清晰的十字圖像,便找到測定位置,沒有靜止層問題。

4. 該電泳儀采用半導(dǎo)體發(fā)光近場光學(xué)系統(tǒng),功率僅幾十微瓦,不會因發(fā)熱而影響測量環(huán)境和測量精度,并調(diào)整了光學(xué)系統(tǒng)  ,加大了放大倍率 ,采用波長較短的藍(lán)光和綠光,因此可以看清更小的顆粒。

5. 采用恒壓低頻轉(zhuǎn)換電源, 可以防止極化,同時又可大大提高測量速度。正負(fù)換向時間為0.30秒至1.20秒連續(xù)可調(diào),采樣時間僅需 3~10秒。電極間電壓可根據(jù)需要調(diào)節(jié)。

6. 采用溫度采樣探頭, 自動連續(xù)對環(huán)境溫度進(jìn)行采樣, 返回計算機(jī),自動調(diào)整參數(shù),用于計算Zeta電位。采用計算機(jī)多媒體技術(shù), 在給定的節(jié)拍下, 自動對經(jīng)放大1200倍的超細(xì)顆粒連續(xù)“拍照”,提供雙向共四幅灰度圖像進(jìn)行分析計算。

 

 

 

視頻法測量zeta電位和激光衍射法測量zeta電位的優(yōu)缺點

如果需要比較視頻法測量zeta電位和激光衍射法測量zeta電位的優(yōu)缺點,參見表2及《精確和準(zhǔn)確——關(guān)于zeta電位兩種測量方法的討論》。

國內(nèi)外微電泳儀(zeta電位儀)對比表(表2)

Zeta

電位

JS94系列

進(jìn)口(一般為激光衍射法)

測量

方法

采用視頻測量技術(shù),全部分析過程均是“所見即所得”,所以數(shù)據(jù)一定是準(zhǔn)確的,想做錯都難,是實測值。

一般采用激光衍射測量技術(shù),“在ISO13320標(biāo)準(zhǔn)中,特別提出如果顆粒粒徑小于幾十微米,需采用米氏理論,輸入正確的樣品折射率和吸收率以便能獲得更為準(zhǔn)確的結(jié)果”。由此可見該類儀器測量的zeta電位是需要在正確的折射率和吸收率等參數(shù)支持下才能得出的計算值。

測量

對象

是測量zeta電位準(zhǔn)確的儀器,沒有之一。但受其測量方法限制,只能逐個觀察帶電顆粒形狀和粒徑,無法生成整個分散體系的粒徑分布直方圖。

是測量整個分散體系中粒徑分布直方圖的儀器,但其附帶的測量zeta電位功能只具有參考意義。

適用

范圍

由于無需測量整個體系的粒徑分布,只需截取部分部分不沉降的帶電顆粒來表征整個分散體系中帶電顆粒的zeta電位,因此被測樣品只需有部分帶電顆粒的粒徑在0.1~50微米之間即可。

“當(dāng)顆粒小到幾百納米時,其衍射光強(qiáng)對于角度幾乎*失去依賴性”。

樣品

準(zhǔn)備

樣品無需預(yù)處理,即便情況(比如濃稠不透光樣品)僅需稀釋即可。

不少樣品需要按照操作手冊做預(yù)處理,并事先測量該樣品正確的折射率和吸收率數(shù)據(jù),輸入操作軟件以便得到zeta電位的計算值。

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