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D8 X射線衍射儀 布魯克代理商

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XRD 布魯克D8 advance地質(zhì)

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束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司自成立以來,憑借與德國布魯克(BRUKER)、衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)、德國Freiberg等實驗室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作,迅速成為業(yè)界儀器供應(yīng)商。

我們擁有一支積極樂觀,正直誠信的年輕團(tuán)隊,我們熱忱的信仰科學(xué),相信科學(xué)技術(shù)能為我們的客戶帶來高品質(zhì)的生活,為社會的進(jìn)步起到積極的促進(jìn)作用。

束蘊(yùn)儀器為各類客戶提供優(yōu)質(zhì)的實驗室和工業(yè)檢測儀器及過程控制設(shè)備,專業(yè)的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù),在中國大陸的諸多領(lǐng)域擁有大量用戶,如高校、科研院所、航空航天,政府組織、檢驗機(jī)構(gòu)、及工業(yè)企業(yè)。產(chǎn)品覆蓋了醫(yī)藥、生物、材料、考古、電子、食品等各個行業(yè)。

公司的宗旨:為客戶量身打造合適的綜合解決方案、技術(shù)支持和現(xiàn)場服務(wù),優(yōu)質(zhì)的客戶培訓(xùn),快速及時的售后服務(wù)。

 

束蘊(yùn)儀器,讓世界更清晰!

主營儀器設(shè)備:

--高分辨X射線顯微CT、多量程X射線納米CT、X射線衍射儀、X射線熒光光譜儀、電子順磁共振波譜儀          (ESR/EPR)、臺式核磁共振波譜儀 TD-NMR、光學(xué)輪廓儀等 -- 德國布魯克Bruker 授權(quán)代理商

--PDF衍射數(shù)據(jù)庫、JADE軟件--衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)授權(quán)代理商

--晶圓片壽命檢測儀、在線晶圓片/晶錠點掃或面掃檢測、晶圓片在線面掃檢測儀、臺式PID潛在誘導(dǎo)退化測試儀、釋光測定儀等--德國Freiberg Instruments授權(quán)代理商

--BPCL化學(xué)發(fā)光儀--微光科技華東區(qū)總代理

 


 單位名稱:束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司

詳細(xì)地址:上海市松江區(qū)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號樓602室

 

 

 

 

 

MicroCT,顯微CT,微焦點CT,骨骼成像,顯微CT材料學(xué)檢測,微納顯微CT,X射線斷層掃描,TOC,元素檢測

應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品,化工,生物產(chǎn)業(yè)

布魯克 D8 達(dá)芬奇 X射線衍射儀

布魯克D8達(dá)芬奇X射線衍射儀

型號:D8 Advance

產(chǎn)地:德國

 

 

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計,通過TWIN-TWIN光路設(shè)計,成功實現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過革命性的TWIST TUBE技術(shù),使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用(常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點光源應(yīng)用(織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū))的切換,讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史!

     

高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個衍射峰(注意不是一個衍射峰)的測量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過0.01度,布魯克AXS公司提供保證!

*的林克斯陣列探測器可以提高強(qiáng)度150倍,不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率, 而且大幅提高了設(shè)備的探測靈敏度。

 

技術(shù)指標(biāo):                                          

Theta/theta 立式測角儀                              

2Theta角度范圍:-110~168°

角度精度:0.0001度                    

Cr/Co/Cu靶,標(biāo)準(zhǔn)尺寸光管                  

探測器:林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器                  

儀器尺寸:1868x1300x1135mm                            

重量:770kg     

                                        

應(yīng)用

物相定性分析

結(jié)晶度及非晶相含量分析

結(jié)構(gòu)精修及解析

物相定量分析

點陣參數(shù)精確測量

無標(biāo)樣定量分析

微觀應(yīng)變分析

晶粒尺寸分析

原位分析

殘余應(yīng)力

低角度介孔材料測量

織構(gòu)及ODF分析

薄膜掠入射

薄膜反射率測量

小角散射

 

 



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