高分辨率微焦點(diǎn)X射線顯微CT 參考價(jià)：面議
高分辨率微焦點(diǎn)X射線顯微CT*的掃描引擎—可變掃描幾何：可以提高成像質(zhì)量，或?qū)呙钑r(shí)間縮短1/2到1/5。
SKYSCAN 1272/1275X射線顯微CT 參考價(jià)：面議
地質(zhì)、石油和天然氣■測(cè)量孔隙網(wǎng)絡(luò)的性質(zhì)、晶粒大小和形狀■計(jì)算礦物相的3D分布■對(duì)珍貴樣品進(jìn)行3D數(shù)字化,如考古發(fā)現(xiàn)■分析動(dòng)態(tài)過(guò)程藥品和包裝■測(cè)量涂層厚度和活性成...
高分辨率X射線顯微CT——材料應(yīng)用 參考價(jià)：面議
高分辨率X射線顯微CT——材料應(yīng)用，是一種非破壞性的3D成像技術(shù)，可以在不破壞樣本的情況下清楚了解樣本的內(nèi)部顯微結(jié)構(gòu)。它與普通臨床的CT大的差別在于分辨率*，可...
微納米ct-高分辨率X射線三維成像系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
微納米ct-高分辨率X射線三維成像系統(tǒng)，即SKYSCAN 微納米ct/高容量三維 X射線顯微鏡, 該探測(cè)器具有600萬(wàn)像素，視野范圍大，輸出速度快，15秒內(nèi)即可...
微焦點(diǎn)CT-半導(dǎo)體元器件X射線顯微成像系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
微焦點(diǎn)CT-半導(dǎo)體元器件X射線顯微成像系統(tǒng)是一種基于X射線的成像技術(shù)，使用微型計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)（Micro Computed Tomography）。包括掃描...
PDF-4 Axiom -精簡(jiǎn)版PDF-5+數(shù)據(jù)庫(kù) 參考價(jià)：200000
PDF-4 Axiom -精簡(jiǎn)版PDF-5+數(shù)據(jù)庫(kù)，所收錄物相的標(biāo)準(zhǔn)衍射卡片涵蓋約多種科學(xué)研究領(lǐng)域，如電池材料、熱電材料、超導(dǎo)材料、金屬材料、陶瓷材料、礦物材料...
PDF-5+2025 參考價(jià)：200000
PDF-5+2025版數(shù)據(jù)庫(kù),所收錄物相的標(biāo)準(zhǔn)衍射卡片涵蓋約50多種科學(xué)研究領(lǐng)域,如電池材料,熱電材料,超導(dǎo)材料,金屬材料,陶瓷材料,礦物材料,金屬合金,藥物,...
PHI 硬X射線光電子能譜儀 參考價(jià)：面議
PHI 硬X射線光電子能譜儀，下一代透明發(fā)光材料使用直徑約為10nm~50nm 的納米量子點(diǎn)(QDs)，結(jié)合使用 XPS(Al Ka X射線)和 HAXPES(...
俄歇電子能譜儀 參考價(jià)：面議
PHI公司的PHI 710俄歇電子能譜儀是一臺(tái)設(shè)計(jì)高性能的俄歇電子能譜（AES）儀器。該設(shè)備能分析納米級(jí)特征區(qū)域,超薄薄膜和多層結(jié)構(gòu)表界面的元素態(tài)和化學(xué)態(tài)信息。
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀 參考價(jià)：面議
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀PHI nano TOF3+，先進(jìn)的多功能TOF-SIMS具有更強(qiáng)大的微區(qū)分析能力，更加出色的分析精度
PHI X射線光電子能譜儀 參考價(jià)：面議
PHI X射線光電子能譜儀 提供了一種全新的用戶(hù)體驗(yàn)，儀器高性能、全自動(dòng)化、簡(jiǎn)單易操作。 操作界面可在同一個(gè)屏幕內(nèi)設(shè)置常規(guī)和高級(jí)的多功能測(cè)試參數(shù)，同時(shí)保留諸如進(jìn)...
C60-40 離子源系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
C60-40 離子源系統(tǒng) 是目前性能較高的C60光束，具有300納米的光斑尺寸和高達(dá)1毫安的束流。從生物醫(yī)學(xué)應(yīng)用到聚合物科學(xué)和冶金，C60-40都可以做到這一點(diǎn)...
C60-20 離子源系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
lonoptika公司的C60-20 離子源系統(tǒng)是一種高性能的20kV離子束系統(tǒng)，用于高化學(xué)復(fù)雜性樣品的SIMS分析。C60-20是一種功能強(qiáng)大，成本效益高的分...
C60-20S 離子源系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
C60-20S 離子源系統(tǒng)雖然所有離子束都會(huì)濺射或蝕刻，但我們的一些系統(tǒng)的表面是專(zhuān)為高效和快速濺射而設(shè)計(jì)的。濺射光束有三個(gè)特點(diǎn)：高電流、大光斑尺寸和寬視場(chǎng)。這些...
GCIB-10S 離子源系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
GCIB-10S 離子源系統(tǒng)是一種高性能10千伏氣體團(tuán)簇離子束，用于快速、低損傷濺射和更高質(zhì)量的表面分析。GCIB 10S提供了大量有用的功能，包括實(shí)時(shí)集群大小...
GCIB-40 離子源系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
GCIB-40 離子源系統(tǒng)是一種40 kV氣體團(tuán)簇離子束，產(chǎn)生團(tuán)簇離子聚焦束，用于需要對(duì)分子離子敏感的分析應(yīng)用。GCIB在較大程度地減少碎片和從表面去除完整分子...
GCIB-70 離子源系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
GCIB-70 離子源系統(tǒng)是一種70 kV高性能氣體團(tuán)簇離子束，可產(chǎn)生高度聚焦的團(tuán)簇離子束，用于高分辨率成像SIM，具有沒(méi)有可以比較的的靈敏度。在SIMS中使用...
少子壽命測(cè)試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+) 參考價(jià)：面議
少子壽命測(cè)試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+)用于單晶硅錠、硅磚和硅晶圓片的生產(chǎn)和質(zhì)量監(jiān)控。用于HJT、HIT、TOPcon、雙面PERC...
電阻率測(cè)試儀（RESmap ） 參考價(jià)：面議
電阻率測(cè)試儀（RESmap ）在對(duì)低電阻率晶錠和晶圓進(jìn)行非接觸式測(cè)量方式上擁有非常重要的重復(fù)性 Si | Ge | 化合物半導(dǎo)體 | 寬帶隙 | 材料 | 金屬...
Bruker布魯克臺(tái)式傅里葉變換核磁 Fourier80 參考價(jià)：面議
Bruker布魯克臺(tái)式傅里葉變換核磁 Fourier80是新一代高性能80 MHz傅里葉變換核磁共振（FT-NMR）臺(tái)式譜儀，它的設(shè)計(jì)適用于任何化學(xué)實(shí)驗(yàn)室的有機(jī)...
PDF-5+ 2024 參考價(jià)：100000
PDF-5+ 2024數(shù)據(jù)庫(kù)可以滿(mǎn)足幾乎所有的材料領(lǐng)域的分析需求，無(wú)機(jī)材料如水泥、金屬和合金、電池、礦物和固態(tài)設(shè)備，有機(jī)材料包括藥物、染料、顏料和聚合物，以及其...
PDF-4 Axiom 參考價(jià)：100000
PDF-4 Axiom 2024版數(shù)據(jù)庫(kù)，所收錄物相的標(biāo)準(zhǔn)衍射卡片涵蓋約多種科學(xué)研究領(lǐng)域，如電池材料、熱電材料、超導(dǎo)材料、金屬材料、陶瓷材料、礦物材料、金屬合金...
PDF-2 2024 參考價(jià)：100000
PDF-2 2024 版數(shù)據(jù)庫(kù)，所收錄物相的標(biāo)準(zhǔn)衍射卡片涵蓋約50多種科學(xué)研究領(lǐng)域，如電池材料、熱電材料、超導(dǎo)材料、金屬材料、陶瓷材料、礦物材料、金屬合金、藥物...
多功能桌面式（臺(tái)式）衍射系統(tǒng)D6 Phaser 參考價(jià)：面議
X射線衍射儀是材料學(xué)相關(guān)領(lǐng)域基礎(chǔ)且不能缺少的分析手段，具備無(wú)損、樣品制備簡(jiǎn)單等優(yōu)勢(shì)。X射線衍射儀一般主要由X射線光源部分、測(cè)角儀、樣品臺(tái)、光路系統(tǒng)、探測(cè)器五大部...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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