QE-2000 量子效率測量系統(tǒng)
- 公司名稱 大塚電子（蘇州）有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大塚
- 型號 QE-2000
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2020/6/11 16:24:54
- 訪問次數(shù) 1542
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zeta電位?粒徑?分子量測量系統(tǒng)，晶圓在線測厚系統(tǒng)，線掃描膜厚儀，顯微分光膜厚儀，線掃描膜厚儀，分光干涉式晶圓膜厚儀，相位差膜?光學(xué)材料檢測設(shè)備，非接觸光學(xué)膜厚儀，小角激光散射儀，多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)，量子效率測量系統(tǒng)
| 測量模式 | 直流 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子,印刷包裝,電氣 |
量子效率測量系統(tǒng) QE-2000/2100
量子效率測量系統(tǒng)可瞬間測量量子效率（量子收率）。適用于粉體、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量。通過低迷光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區(qū)域的迷光。另，采用了積分半球unit，實現(xiàn)了明亮的光學(xué)系的同時，運用其再激勵熒光補(bǔ)正的優(yōu)點，可進(jìn)行高精度的測量。另，QE-2100對應(yīng)范圍廣，從量子效率的溫度依賴性測量或紫外～近紅的的波長范圍。
產(chǎn)品信息
特 點
1)測量精度高
- 可瞬間測量量子效率（量子收率）
- 可去除再激勵熒光發(fā)光
- 采用了積分半球unit，實現(xiàn)了明亮的光學(xué)系
- 采用了低迷光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區(qū)域的迷光
2)操作簡單
- 專業(yè)軟件，操作簡單
- 輕松裝卸樣品測量用cell
- 小型設(shè)計，省空間
- 利用分光器型的激勵光源，可選擇任意波長
- 可在軟件激勵波長的波長及step的值，進(jìn)行自動測量
3)功能多
- 可用于粉體、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測量
- 豐富的解析功能
4)測量項目
- 量子効率（量子收率）測量
- 激勵波長依賴性測量
- 發(fā)光光譜測量
- PL激勵光譜測量
- EEM（Excitation Emission Matrix）測量
5)用 途
- LED、有機(jī)EL用熒光體的量子効率（量子收率）測量
- 膜狀樣品的透過熒光?反射熒光的量子効率（量子收率）測量
- 非接觸式熒光粉用熒光體樣品等
- 量子Dot、熒光探頭、生體領(lǐng)域、包接化合物等的熒光測量
- 色素敏化型太陽電池的量子効率（量子收率）測量
- 絡(luò)化物化合物的測量
精度高的理由
1.積分半球的理想的光學(xué)系
QE-2000搭載了積分半球。積分半球與積分球（）相比，有以下特點
• 可將非發(fā)光部分（手柄等）隔離在外部，有效控制了自我吸收，實現(xiàn)了理想的光學(xué)系。
• 通過鏡子可將同一測量點的發(fā)光強(qiáng)度增加約2倍，測量的感光度好
• 輕松裝卸樣品測量用cell、劃傷積分球內(nèi)部的風(fēng)險小
2.根據(jù)再激勵熒光補(bǔ)正功能，觀察”真正德物性值”
包括再激勵熒光發(fā)光狀態(tài)下，不僅不能觀察材料本身的物性，也不能觀測到包含裝置的特性，無法求出真正的物性值。QE-2000通過利用積分半球的再激勵熒光補(bǔ)正的特點，可簡單的測量出真正的物性值，且精度高。
3.通過低迷光多通道分光檢出器，降低紫外區(qū)域的迷光
以往的檢出器（多色儀），因檢測出的紫外區(qū)域的迷光很高，可以說不適合量子効率（量子收率）的測量。大塚電子開發(fā)出了去除迷光的技術(shù)，這個問題也得以解決。搭載在QE-2000上的多通道分光檢出器，與本公司以往的產(chǎn)品相比，迷光量約1/5，即使在紫外區(qū)域，測量的精度也非常高。
規(guī)格式樣
降低雜散光的多通道分光光譜儀 | |
|---|---|
波長范圍 | 250nm ~ 800nm (視光譜儀規(guī)格) |
光譜儀分光元件 | 全息成像光柵 F=3 f=135 mm |
波長精度 | ±0.3 nm |
感光元件 | 電子冷卻型CCD影像感測器 |
感光元件解析能力 | 1.2nm / pixel |
受光光纖 | 石英制光纖、外層技術(shù)包覆、固定口徑φ12 mm |
激發(fā)光源系統(tǒng) | |
激發(fā)光源套件 | 150W Xe燈 + 分光光柵 |
激發(fā)波長范圍 | 250nm ~ 700nm |
波長掃描方式 | Sine Bar正弦桿方式 |
其它 | |
積分半球設(shè)備 | φ150 mm |
電源 | |
功率 | 700VA |
AC輸入 | 100V ±10% 50 / 60Hz |
Option
• 自動取樣器
• 樣品支架
①粉體測量用 SUS304制、有石英蓋子
②膜測量用 透過測量用樣品支架
軟件
直觀明了、使用方便的專業(yè)軟件。組裝好樣品測量用cell便可輕松測量量子効率（量子收率）、激勵光譜等。
測量例
1）粉體樣品的測量
BAM的復(fù)數(shù)激勵的測量例
激勵波長變化，量子効率（量子收率）也會隨之變化。下圖中顯示的時BAM（粉體）的量子効率（量子收率）及反射率的激勵波長依賴性。（BAM＝BaMgAl10O17:Eu） ● 藍(lán)色（左邊的scale）：再激勵補(bǔ)正后的內(nèi)部量子効率（內(nèi)部量子收率） ■ 紅色（右邊的scale）：各激勵波長中的反射率根據(jù)此圖，如是BAM的情況時，激勵光越接近可視區(qū)域，收率越低。也就是反射率變大。
2）溶液樣品的測量
熒光素的激勵光譜測量
激勵光譜表示的是在哪段激勵波長中，熒光強(qiáng)度是大的光譜。右圖，表示的是熒光素的激勵光譜（藍(lán)色）和熒光強(qiáng)度大的激勵波長（493nm）時的熒光光譜（綠色）。
熒光素的內(nèi)部量子効率（內(nèi)部量子收率）測量
激勵波長493nm中的熒光素溶液的熒光光譜（含激勵光）如右圖所示。內(nèi)部量子効率（內(nèi)部量子收率）可得出和0.903（濃度6.43 x 10-6mol/L）、文獻(xiàn)值0.921）同等的值。 1） G. Weber and F. W. J. Teale, Trans Faraday Soc 53, 646(1957)
量子Dot的內(nèi)部量子効率（內(nèi)部量子收率）測量
量子Dot通過改變組成和內(nèi)部構(gòu)造，調(diào)整光學(xué)的特性的材料而被關(guān)注。量子Dot的激勵光譜和、激勵波長370nm時的熒光光譜見下圖。
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