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Freiberg--MDPmap MDPmap晶圓片壽命檢測(cè)儀--少子壽命測(cè)試

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱(chēng) 束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào) Freiberg--MDPmap
  • 產(chǎn)地 德國(guó)
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2025/2/11 13:04:51
  • 訪問(wèn)次數(shù) 2448

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束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司自成立以來(lái),憑借與德國(guó)布魯克(BRUKER)、衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)、德國(guó)Freiberg等實(shí)驗(yàn)室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作,迅速成為業(yè)界儀器供應(yīng)商。

我們擁有一支積極樂(lè)觀,正直誠(chéng)信的年輕團(tuán)隊(duì),我們熱忱的信仰科學(xué),相信科學(xué)技術(shù)能為我們的客戶(hù)帶來(lái)高品質(zhì)的生活,為社會(huì)的進(jìn)步起到積極的促進(jìn)作用。

束蘊(yùn)儀器為各類(lèi)客戶(hù)提供優(yōu)質(zhì)的實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)檢測(cè)儀器及過(guò)程控制設(shè)備,專(zhuān)業(yè)的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù),在中國(guó)大陸的諸多領(lǐng)域擁有大量用戶(hù),如高校、科研院所、航空航天,政府組織、檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)、及工業(yè)企業(yè)。產(chǎn)品覆蓋了醫(yī)藥、生物、材料、考古、電子、食品等各個(gè)行業(yè)。

公司的宗旨:為客戶(hù)量身打造合適的綜合解決方案、技術(shù)支持和現(xiàn)場(chǎng)服務(wù),優(yōu)質(zhì)的客戶(hù)培訓(xùn),快速及時(shí)的售后服務(wù)。

 

束蘊(yùn)儀器,讓世界更清晰!

主營(yíng)儀器設(shè)備:

--高分辨X射線顯微CT、多量程X射線納米CT、X射線衍射儀、X射線熒光光譜儀、電子順磁共振波譜儀          (ESR/EPR)、臺(tái)式核磁共振波譜儀 TD-NMR、光學(xué)輪廓儀等 -- 德國(guó)布魯克Bruker 授權(quán)代理商

--PDF衍射數(shù)據(jù)庫(kù)、JADE軟件--衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)授權(quán)代理商

--晶圓片壽命檢測(cè)儀、在線晶圓片/晶錠點(diǎn)掃或面掃檢測(cè)、晶圓片在線面掃檢測(cè)儀、臺(tái)式PID潛在誘導(dǎo)退化測(cè)試儀、釋光測(cè)定儀等--德國(guó)Freiberg Instruments授權(quán)代理商

--BPCL化學(xué)發(fā)光儀--微光科技華東區(qū)總代理

 


 單位名稱(chēng):束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司

詳細(xì)地址:上海市松江區(qū)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號(hào)樓602室

 

 

 

 

 

MicroCT,顯微CT,微焦點(diǎn)CT,骨骼成像,顯微CT材料學(xué)檢測(cè),微納顯微CT,X射線斷層掃描,TOC,元素檢測(cè)

產(chǎn)地類(lèi)別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 電子,冶金,航天,汽車(chē),電氣

?產(chǎn)品介紹

 --MDPmapMDPmap晶圓片壽命檢測(cè)儀--少子壽命測(cè)試是一個(gè)緊湊的離線臺(tái)式檢測(cè)設(shè)備,主要被設(shè)計(jì)用于生產(chǎn)控制或研發(fā)、測(cè)量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和缺陷信息等參數(shù)。其工作狀態(tài)為穩(wěn)態(tài)或短脈沖激勵(lì)下(μ-PCD)。

 --MDPmap(MDPmap晶圓片壽命檢測(cè)儀--少子壽命測(cè)試)自動(dòng)化的樣品識(shí)別和參數(shù)設(shè)置可以使該儀器方便地適應(yīng)各種不同的樣品,包括從生長(zhǎng)的晶圓到高達(dá)95%的金屬化晶圓之間不同制備階段的各種外延片和晶圓片。

 --MDPmap主要優(yōu)點(diǎn)是其高度的靈活性,它允許集成多達(dá)4個(gè)激光器,用于從超低注入到高注入的與注入水平相關(guān)的壽命測(cè)量,或者通過(guò)使用不同的激光波長(zhǎng)提取深度信息。

 

 

?設(shè)備特點(diǎn)

 --靈敏度:對(duì)外延工藝監(jiān)控和不可見(jiàn)缺陷檢測(cè),具有可視化測(cè)試的較高分辨率
 --測(cè)量速度:6英寸硅晶圓片,1mm分辨率 ,小于5分鐘
 --壽命測(cè)試范圍: 20納秒到幾十毫秒
 --沾污檢測(cè):源自坩堝和生長(zhǎng)設(shè)備的金屬(Fe)污染
 --測(cè)量能力:從初始切割的晶圓片到所有工藝加工的樣品
 --靈活性:允許外部激光通過(guò)觸發(fā)器,與探測(cè)模塊耦合
 --可靠性: 模塊化和緊湊臺(tái)式儀器,更高可靠性,正常運(yùn)行時(shí)間> 99%
 --重現(xiàn)性: > 99.5%
 --電阻率:無(wú)需時(shí)常校準(zhǔn)的電阻率面掃描

 

 

?設(shè)備參數(shù)



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