ZK-TS-80L 冷熱沖擊試驗箱Thermal Shock Test

冷熱沖擊試驗箱Thermal Shock Test概述

1.冷熱沖擊試驗箱是模擬周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗（沖擊），應用于半導體元器件、OLED、EVA、PCB、IC芯片、集成電路等作溫度快速變化條件下熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，是確認產品品質的理想測試工具（可靠性試驗）。

2.控制系統(tǒng)優(yōu)勢：中英文菜單式人機對話操作方式，有開機自檢功能、溫度線性校正、自動停機、系統(tǒng)預約定時啟動功能；實現(xiàn)工業(yè)自動化，帶數(shù)據交互功能，能與客戶主機鏈接實現(xiàn)遠程監(jiān)控，了解設備運行狀態(tài)，可以通過任何移動終端監(jiān)控。

冷熱沖擊試驗箱Thermal Shock Test性能

1.溫度沖擊范圍：-40℃～+150℃、-55℃～+150℃、-65℃～+150℃。（高溫可定制：+250℃）

2.高低溫區(qū)溫度范圍：

A.高溫蓄能區(qū)：室溫～+165℃。

B.低溫蓄能區(qū)：室溫～-55℃、室溫～-70℃、室溫～-80℃。

3.測試區(qū)溫度范圍：

A.高溫沖擊溫度范圍：+50℃～+150℃。

B.低溫沖擊溫度范圍：-10℃～-40℃、-10℃～-55℃、-10℃～-65℃。

4.溫度波動度：±0.5℃。

5.溫度均勻度：±2.0℃。

6.高溫區(qū)升溫時間：RT（室溫）～＋165℃小于 35min（室溫在＋10～＋25℃時）。

7.低溫區(qū)降溫時間：RT（室溫）～-55℃小于 75min（室溫在＋10～＋25℃時）。

8.低溫沖擊溫度恢復和轉換時間：≤5min。（可定制溫變速率為：10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min，線性與非線性溫變）

9.試驗測試溫度范圍：-40℃～+85℃；-40℃～+120℃；-55℃～+125℃；-65℃～+150℃。（按要求選擇）

10.高溫槽與低溫槽風門切換時間：≤3S。

11.試品重量：≤8 KG。（可按需求定制）

12.整機噪聲：＜75 dB。

13.使用電源：AC3∮5W 380V±10% ；50HZ。

14.總功率：15.5KW。

15.大工作電流：25.0A。

16.重量約：480KG。

17.在無試驗負荷、無層架情況下穩(wěn)定20分鐘后測定的性能。

18.溫度均勻度定義為：實驗機幾何中心點處（計量單位空間9點測溫法）。

19.設備制造標準：GB/T10586-2006，GB/T10592-1989。

20.設備檢定標準：GB/T5170.2-1996，GB/T5170.5-1996。

冷熱沖擊試驗箱測試條件

1.GB2423.2-2008（IEC68-2-2）試驗B：高溫試驗方法。

2.GJB150.3A-2009（MIL-STD-810D）高溫試驗方法。

3.GB/T2423.1-1989 低溫試驗方法。

4.GB/T2423.2-1989 高溫試驗方法。

5.GB/T2423.22-1989 溫度變化試驗。

6.GJB150.5-86 溫度沖擊試驗。

7.GJB360.7-87 溫度沖擊試驗。

8.GJB367.2-87 405 溫度沖擊試驗。

9.國軍標 GJB150.3-2009/GJB150.4-2009。

10.MIT-STD-883E Method 1011.9。

11.JESD22-B106。

12.EIAJED- 4701-B-141。