ZK-TS-150L 冷熱沖擊試驗(yàn)箱

冷熱沖擊試驗(yàn)箱用途

應(yīng)用于國(guó)防工業(yè)、航空工業(yè)、高校院所、自動(dòng)化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑膠、化工業(yè)、OLED、BGA封裝、PCB基扳、IC封裝、IC芯片、半導(dǎo)體元器件、制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性沖擊測(cè)試，作溫度快速變化或漸變條件下產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn)

1.外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝*、選材考究，具有簡(jiǎn)單便利的操作性能和可靠的設(shè)備性能。

2.試驗(yàn)箱分為高溫箱、低溫箱、測(cè)試箱三部分，采*之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗(yàn)時(shí)待 測(cè)物*靜止，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷，熱溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測(cè)試目的。

3.采用*的計(jì)測(cè)裝置，控制器采用大型彩色液晶人機(jī)觸控對(duì)話式LCD人機(jī)接口控制器，操作簡(jiǎn)單、學(xué)習(xí)容易、穩(wěn)定可靠，中/英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。

4.具96個(gè)試驗(yàn)規(guī)范獨(dú)立設(shè)定，沖擊時(shí)間999小時(shí)59分鐘，循環(huán)周期1～999次可設(shè)定，可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)，大程度上實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，減輕操作人員工作量，可在任意時(shí)間自動(dòng)啟動(dòng)、停止工作運(yùn)行。

5.箱體左側(cè)具一直徑50mm之測(cè)試孔，可供外加電源負(fù)載配線測(cè)試部件。

6.可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí)，可選擇三槽式及冷沖、熱沖進(jìn)行沖擊之功能，具備高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能。

7.具備全自動(dòng)，高精密系統(tǒng)回路、任一機(jī)件動(dòng)作，*有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動(dòng)演算控制，溫度控制精度高。

8.*科學(xué)的空氣流通循環(huán)設(shè)計(jì)，使室內(nèi)溫度均勻，避免任何死角完備的安全保護(hù)裝置，避免了任何可能發(fā)生安全隱患，保證設(shè)備的長(zhǎng)期可靠性。

9.可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動(dòng)（手動(dòng)） 除霜。 

10.出風(fēng)口于回風(fēng)口感知器檢測(cè)控制，風(fēng)門機(jī)構(gòu)切換時(shí)間為5秒內(nèi)完成，冷熱沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間為5分鐘內(nèi)完成。

11.運(yùn)轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線顯示發(fā)生異常狀況時(shí)，螢?zāi)簧霞纯套詣?dòng)顯示故障點(diǎn)及原因和提供排除故障的方法。

12.冷凍系統(tǒng)采用復(fù)迭高效低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)，冷凍機(jī)組采用歐美*壓縮機(jī)，并采用對(duì)臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保（HFC）制冷劑R404A/R23。

沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)

1.溫度沖擊范圍：-40℃～+150℃；-55℃～+150℃；-65℃～+150℃。（高溫可定制：+250℃）

2.高低溫區(qū)溫度范圍：

A.高溫蓄能區(qū)：室溫～+155℃。（定制性：室溫～+215℃）

B.低溫蓄能區(qū)：室溫～-55℃；室溫～-70℃；室溫～-80℃。

3.測(cè)試區(qū)溫度范圍：

A.高溫沖擊溫度范圍：+50℃～+150℃。（定制型：+50℃～+200℃）

B.低溫沖擊溫度范圍：-10℃～-40℃；-10℃～-55℃；-10℃～-65℃。

C.溫度波動(dòng)度：±0.5℃。

D.溫度均勻度：±2.0℃。

4.高低溫測(cè)試區(qū)溫度恢復(fù)和轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤5分鐘。（可定制溫變速率為：10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min，線性與非線性溫變）

5.試驗(yàn)測(cè)試溫度范圍：-40℃～+85℃；-40℃～+120℃；-55℃～+125℃。（可根據(jù)試驗(yàn)要求選擇溫度范圍）

6.試驗(yàn)測(cè)試方式：高低溫沖擊試驗(yàn)、冷熱沖擊試驗(yàn)、高低溫恒定試驗(yàn)、高低溫交變沖擊試驗(yàn)。

7.試品重量：8 KG（可訂制其他規(guī)格）。

8.使用電源：AC3∮5W 380V±10% ；50HZ。

9.重量約：480KG。

10.在無(wú)試驗(yàn)負(fù)荷、無(wú)層架情況下穩(wěn)定20分鐘后測(cè)定的性能。

11.溫度均勻度定義為：實(shí)驗(yàn)機(jī)幾何中心點(diǎn)處（計(jì)量單位空間9點(diǎn)測(cè)溫法）。

12.設(shè)備制造標(biāo)準(zhǔn)：GB/T10586-2006，GB/T10592-1989。

13.設(shè)備檢定標(biāo)準(zhǔn)：GB/T5170.2-1996，GB/T5170.5-1996。

14.設(shè)備的型號(hào)和規(guī)格選擇如下：

 型 號(hào)          內(nèi)箱尺寸（mm）        外箱尺寸（mm）

ZK-TS -80L       W500×H600×D500      W850×H1680×D1250

ZK-TS-120L       W500×H750×D600      W850×H1880×D1350

ZK-TS-150L       W500×H600×D500      W850×H1680×D1250

ZK-TS-225L       W500×H750×D600      W850×H1880×D1350

ZK-TS-408L       W600×H850×D800      W900×H1980×D1550

ZK-TS-800L       W800×H1000×D1000     W1100×H2150×D1650

ZK-TS-1000L      W1000×H1000×D1000    W1300×H2150×D1650

可按需求尺寸非標(biāo)定制......

沖擊試驗(yàn)箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

1.GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件。

2.GB11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件。

3.GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件。

4.GB2423.1 低溫試驗(yàn)、試驗(yàn)A。

5.GB2423.2 高溫試驗(yàn)、試驗(yàn)B。

6.GB2423.22 溫度變化試驗(yàn),試驗(yàn)N。

7.IEC68-2-14 試驗(yàn)N。

8.國(guó)軍標(biāo)GJB150.3-86。

9.國(guó)軍標(biāo)GJB150.4-86。     

10.GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法。 　

11.GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法。