Thermo Scientific Escalab 俄歇電子能譜（AES）

武漢鑠思百檢測(cè)技術(shù)有限公司是華中地區(qū)領(lǐng)xian的第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，與武漢眾多高校師生及其分析測(cè)試中心有交流合作。

業(yè)務(wù)覆蓋材料、化學(xué)、生物、食品等多個(gè)領(lǐng)域，針對(duì)高校及企業(yè)在產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量控制中遇到的問(wèn)題，我們會(huì)提供合適的解決方案以及規(guī)范的測(cè)試服務(wù)。

 俄歇電子能譜（AES）

測(cè)試項(xiàng)目：

1.能分析≥20nm直徑的異物成分，且異物的厚度不受限制（能達(dá)到單個(gè)原子層厚度，0.5nm）。 2.利用AES的深度濺射功能測(cè)試≥3nm膜厚厚度。 3.利用D-SIMS結(jié)合AES能準(zhǔn)確測(cè)定各層薄膜厚度及組成成分。

測(cè)試范圍：

應(yīng)用于鑒定樣品表面的化學(xué)性質(zhì)及組成的分析，其特點(diǎn)在俄歇電子來(lái)極表面甚至單個(gè)原子層，僅帶出表面的化學(xué)信息，具有分析區(qū)域小、分析深度淺和不破壞樣品的特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于材料分析以及催化、吸附、腐蝕、磨損等方面的研究。

測(cè)試要求：

1.樣品大規(guī)格尺寸為1×1×0.5cm，當(dāng)樣品尺寸過(guò)大需切割取樣。

2.取樣的時(shí)候避免手和取樣工具接觸到需要測(cè)試的位置，取下樣品后使用真空包裝或其他能隔離外界環(huán)境的包裝， 避免外來(lái)污染影響分析結(jié)果。

3.由于AES測(cè)試深度太淺，無(wú)法對(duì)樣品噴金后再測(cè)試，所以絕緣的樣品不能測(cè)試，只能測(cè)試導(dǎo)電性較好的樣品。

4.AES元素分析范圍Li-U，只能測(cè)試無(wú)機(jī)物質(zhì)，不能測(cè)試有機(jī)物物質(zhì)，檢出限0.1%。

 俄歇電子能譜（AES）

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