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高分辨薄膜X射線衍射儀檢測

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束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司自成立以來,憑借與德國布魯克(BRUKER)、衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)、德國Freiberg等實(shí)驗(yàn)室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作,迅速成為業(yè)界儀器供應(yīng)商。

我們擁有一支積極樂觀,正直誠信的年輕團(tuán)隊(duì),我們熱忱的信仰科學(xué),相信科學(xué)技術(shù)能為我們的客戶帶來高品質(zhì)的生活,為社會(huì)的進(jìn)步起到積極的促進(jìn)作用。

束蘊(yùn)儀器為各類客戶提供優(yōu)質(zhì)的實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)檢測儀器及過程控制設(shè)備,專業(yè)的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù),在中國大陸的諸多領(lǐng)域擁有大量用戶,如高校、科研院所、航空航天,政府組織、檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)、及工業(yè)企業(yè)。產(chǎn)品覆蓋了醫(yī)藥、生物、材料、考古、電子、食品等各個(gè)行業(yè)。

公司的宗旨:為客戶量身打造合適的綜合解決方案、技術(shù)支持和現(xiàn)場服務(wù),優(yōu)質(zhì)的客戶培訓(xùn),快速及時(shí)的售后服務(wù)。

 

束蘊(yùn)儀器,讓世界更清晰!

主營儀器設(shè)備:

--高分辨X射線顯微CT、多量程X射線納米CT、X射線衍射儀、X射線熒光光譜儀、電子順磁共振波譜儀          (ESR/EPR)、臺(tái)式核磁共振波譜儀 TD-NMR、光學(xué)輪廓儀等 -- 德國布魯克Bruker 授權(quán)代理商

--PDF衍射數(shù)據(jù)庫、JADE軟件--衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)授權(quán)代理商

--晶圓片壽命檢測儀、在線晶圓片/晶錠點(diǎn)掃或面掃檢測、晶圓片在線面掃檢測儀、臺(tái)式PID潛在誘導(dǎo)退化測試儀、釋光測定儀等--德國Freiberg Instruments授權(quán)代理商

--BPCL化學(xué)發(fā)光儀--微光科技華東區(qū)總代理

 


 單位名稱:束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司

詳細(xì)地址:上海市松江區(qū)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號(hào)樓602室

 

 

 

 

 

MicroCT,顯微CT,微焦點(diǎn)CT,骨骼成像,顯微CT材料學(xué)檢測,微納顯微CT,X射線斷層掃描,TOC,元素檢測

價(jià)格區(qū)間 面議 儀器種類 單晶衍射儀
應(yīng)用領(lǐng)域 生物產(chǎn)業(yè),農(nóng)業(yè),電子,制藥

高分辨薄膜X射線衍射儀檢測

 

項(xiàng)目

細(xì)則

收費(fèi)

說明

Rocking Curve

單一圖譜,30min 以內(nèi);若超 過 30min,延長時(shí)間按240元 /30min計(jì),不足30min 按 30min計(jì); 薄膜帶襯底材料的薄膜或帶 基材的鍍層等原始形狀,厚 度≤1mm,直徑≤2cm

240元/樣

1.長時(shí)間數(shù)據(jù)手機(jī)(大于5h)、復(fù)雜樣品等特殊測試,價(jià)格需面議;

2.原位測試需提供測試方法

2Theta/Omega Scan

對(duì)稱掃描單一圖譜,30min 以 內(nèi);掃描時(shí)間大于 30min,延 長時(shí)間按240元/30min,不足 30min 按 30min 計(jì)

240元/樣

2Theta/Omega Scan

不對(duì)稱掃描單一圖譜,30min 以內(nèi);掃描時(shí)間大于 30min, 延長時(shí)間按 240元/30min計(jì),不足 30min 按 30min 計(jì)

300元/樣

Skew Scan

不對(duì)稱掃描單一圖譜,30min 以內(nèi);掃描時(shí)間大于 30min, 延長時(shí)間按 240 元/30min計(jì),不足 30min 按 30min 計(jì)

300元/樣

XRR

單一圖譜,30min 以內(nèi);掃描 時(shí)間大于 30min,延長時(shí)間按240 元 /30min計(jì),不足30min 按 30min 計(jì)

300元/樣

GID

單一圖譜,30min 以內(nèi);掃描 時(shí)間大于 30min,延長時(shí)間按240 元 /30min計(jì),不足30min 按 30min 計(jì)

300元/樣

Phi Scan

Phi 掃描單一圖譜,30min 以 內(nèi);掃描時(shí)間大于30min,延長時(shí)間按 240元/30min計(jì),不足 30min 按 30min 計(jì)

300元/樣

RSM

單點(diǎn)倒易空間 mapping 單一圖譜,30min 以內(nèi);掃描時(shí)間 大于 30min,延長時(shí)間按240元/30min計(jì),不足30min 按 30min 計(jì)

400元/樣

低溫測試

包含 2 個(gè)溫度點(diǎn),第二點(diǎn)后, 240 元/ 測試點(diǎn);低溫測試液氮另加30元/時(shí)

900元/樣

高分辨薄膜X射線衍射儀檢測

儀器功能特點(diǎn):

1- 高效的6KW TXS-HE轉(zhuǎn)靶光源,強(qiáng)度是封閉靶的5倍;

2- 入射光路三光路自動(dòng)切換系統(tǒng):粉末衍射聚焦光路、薄膜反射、掠入射平行光路;高分辨光路:高分辨毛細(xì)管透射、反射、外延薄膜高分辨;

3- 探測器的開口大,適合測試速度快原位;配置準(zhǔn)直器后開展二維衍射實(shí)時(shí)分析,還原原位二維信息;配備的高低溫系統(tǒng)可實(shí)時(shí)檢測反應(yīng)中結(jié)構(gòu)的演變過程;

4- 原位充放電、原位電化學(xué)附件更是快速準(zhǔn)確地追溯揭示了phase transformation過程。

應(yīng)用范圍:

原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結(jié)構(gòu)變化,探索材料合成條件;也可以用來探測充放電到某個(gè)電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應(yīng)的結(jié)構(gòu)變化,這對(duì)探討實(shí)際電池安全性產(chǎn)生的原因之一,即材料結(jié)構(gòu)變化引起的安全問題是一種重要的手段;

科研支撐

變溫物相分析

變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數(shù)及動(dòng)力學(xué)分析

分析、電池充放電物相分析、原位電化學(xué)反應(yīng)物相分析。

產(chǎn)業(yè)支撐

藥物作用機(jī)理及動(dòng)力學(xué)分析、藥物理化性質(zhì)及穩(wěn)定性分析。

 



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