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Beam'R2 掃描狹縫光束分析儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 科藝儀器有限公司
  • 品牌 DataRay/美國
  • 型號 Beam'R2
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間 2021/9/8 16:48:56
  • 訪問次數(shù) 808
產(chǎn)品標(biāo)簽

光學(xué)測量光束分析

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科藝儀器(A &P Instrument),1984年成立于香港,著名的激光、光電產(chǎn)品,教學(xué)儀器及實(shí)驗(yàn)室通用儀器代理商,是許多歐美在中國的代理,其中包含:博光,Apico,Velodyne,PHOTON ENERGY,Dataray,SLM,Admatec,Directphotonic,Pasco,Cole-Parmer,hrwallingford,F(xiàn)esto,GCC,Jasper,Matrix,Motic,Photron,PALAS,PolyScience,PreSens等??扑噧x器致力于引進(jìn)優(yōu)秀的產(chǎn)品和技術(shù)、提供給客戶完善的服務(wù),幫助客戶解決在科研、生產(chǎn)中遇到的問題,帶動國內(nèi)教育、科研及相關(guān)行業(yè)水平的提高。

公司產(chǎn)品內(nèi)容涉及以下三個(gè)方面:

1. 各種激光器件及系統(tǒng)、光學(xué)器件及系統(tǒng)、精密移動控制產(chǎn)品及光電測試設(shè)備;

2. 大學(xué)、中學(xué)各學(xué)科的教學(xué)儀器:普通物理教學(xué)設(shè)備;工程研究及教學(xué)儀器;電工電子,電力;通信,液壓,自動化和機(jī)器人,馬達(dá)控制,空調(diào)與制冷技術(shù);儀表與過程控制,多種培訓(xùn)系統(tǒng)等。

3. 氣溶膠及顆粒分析監(jiān)測儀及采樣器、實(shí)驗(yàn)室通用儀器及設(shè)備、工業(yè)在線監(jiān)測儀器、流量計(jì)、及食品、環(huán)保監(jiān)測、材料測試儀器和設(shè)備。

三十多年來,科藝儀器一貫秉持“專業(yè)·品質(zhì)·服務(wù)”的經(jīng)營理念,切實(shí)為國內(nèi)廠家和用戶提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)和產(chǎn)品解決方案而倍受用戶的信賴。我們以提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和專業(yè)的服務(wù)為宗旨,以專業(yè)高效的員工隊(duì)伍為依托,以客戶的滿意為己任??扑噧x器的銷售、技術(shù)服務(wù)網(wǎng)絡(luò)覆蓋全國,輻射東南亞,公司已在北京、上海、廣州、深圳、成都、武漢、中國臺灣、新加坡等地設(shè)有分公司或辦事處,常駐銷售和技術(shù)人員,為客戶提供全面的售前、售中、售后支持和服務(wù)。同時(shí)我們?yōu)榭蛻籼峁└皶r(shí)、周到及滿意的服務(wù)。

 

 

光譜儀;激光器;教學(xué)產(chǎn)品;氣溶膠測試儀器;過濾器測試系統(tǒng);蠕動泵;

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 地礦,能源,交通

掃描狹縫光束分析儀

DataRay 的 Beam'R2 非常適合許多激光光束分析應(yīng)用。 Beam'R2 具有標(biāo)準(zhǔn)的 2.5 µm 狹縫和更大的刀口狹縫,能夠測量直徑小至 2 µm 的光束。 通過選擇Si InGaAs 或擴(kuò)展 InGaAs,Beam'R2 可以對 190 nm 至 2500 nm 的光束進(jìn)行輪廓分析。 掃描狹縫儀器提供比基于相機(jī)的系統(tǒng)高得多的分辨率。

DataRay 的 BeamMap2 代表了一種*不同的實(shí)時(shí)光束分析方法。 它允許沿光束行進(jìn)在多個(gè)位置進(jìn)行測量,從而擴(kuò)展了 Beam'R2 的測量能力。 這種實(shí)時(shí)狹縫掃描系統(tǒng)在旋轉(zhuǎn)圓盤上的多個(gè) z 平面中使用 XY 狹縫對,同時(shí)測量四個(gè)不同 軸向位置光束輪廓。 BeamMap2 *的設(shè)計(jì)良好利于實(shí)時(shí)測量焦點(diǎn)位置、M2、光束發(fā)散和指向。

系統(tǒng)特點(diǎn)

? 符合 ISO 標(biāo)準(zhǔn)的光束直徑測量

? 端口USB2.0供電

? 自動增益功能

? 用于符合 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)的 M2 測量的可選載物臺附件。

? True2D 狹縫

? 分辨率高達(dá) 0.1 µm

? 探測器選項(xiàng),190 – 2500 nm

? 5 Hz 更新率(用戶可調(diào) 2-12 Hz)

? 測量高重復(fù)脈沖激光

? 脈沖最小 PRR = [500/(光束直徑,單位為 µm)] kHz

Beam'R2-001.jpg


BeamMap2 增加了以下功能

? 多 z 平面掃描

? XYZ 截面包括 θ-Φ

? 焦點(diǎn)位置和直徑

? 實(shí)時(shí) M2、指向和發(fā)散

? 使用 BeamMap2-Collimate 實(shí)時(shí)測量準(zhǔn)直光束的發(fā)散度

? 以 ±1 µm 的重復(fù)精度(取決于光束)識別焦點(diǎn)

? 可選的 LensPlate2 用于到達(dá)難以接近的束腰和重新成像波導(dǎo)

Beam'R2-002.jpg


應(yīng)用

? 非常小的激光束輪廓測量

? 光學(xué)組裝和儀器校準(zhǔn)

? OEM 集成

? 鏡頭焦距測試

? 聚焦和準(zhǔn)誤差的實(shí)時(shí)診斷

? 將多個(gè)組件實(shí)時(shí)設(shè)置同一焦點(diǎn)

True2D 狹縫

? 藍(lán)寶石襯底上的 0.4 µm 厚多層金屬

? 相對于氣隙的優(yōu)勢

? 避免隧道效應(yīng)

? 氣隙通常比寬度更深,并且在高輻照度下會彎曲

Beam'R2-003.jpg


規(guī)格

參數(shù)

規(guī)格

BeamMap2

Beam'R2

Comments

波長

190-1150 nm, 650-1800 nm,

190- 1800 nm, 190-2500 nm

Si, InGaAs, Si + InGaAs, Si + InGaAs, extended

掃描光束直徑:

2 µm to 4 mm (2 mm for IGA-X.X)


X-Y 輪廓和質(zhì)心分辨率:

測量準(zhǔn)確性:

0.1 µm 或掃描范圍的 0.05% ±<2% ± ≤0.5µm







連續(xù)或脈沖

CW,

脈沖最小 PRR ≈ [500/(光束直徑,單位為 µm)]kHz


光束對準(zhǔn):

± 1 mrad 結(jié)合BeamMap2 Colli Mate

-

光束相關(guān)

M2測量:

1 to >20, ± 5%

-

4 Z-平面雙曲線擬合

實(shí)時(shí)更新:

5 Hz

2-12 Hz可調(diào)

最大功率 & 輻照度:

1 W 總功率 & 0.3 mW/µm2

藍(lán)寶石狹縫上的金屬膜

增益范圍:

32dB

12-bit ADC

顯示圖形:

全部:X-Y 位置;光束質(zhì)量

僅 BeamMap2:M2,焦點(diǎn); 發(fā)散,視軸/指向







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