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Exicor-System 美國(guó)Hinds Instruments

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北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司成立于 2010 年,專業(yè)代理歐美(德國(guó)、瑞士、美國(guó)、波蘭等)高精度的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備,致力于為科研和工業(yè)客戶提供光學(xué)檢測(cè)解決方案及包括售前、售中及售后在內(nèi)的服務(wù)。主要包括:
光學(xué)檢測(cè)產(chǎn)品:應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等測(cè)量系統(tǒng)/剪切干涉儀/非接觸式測(cè)厚儀/測(cè)角儀/可調(diào)相位延遲波片等;
激光檢測(cè)產(chǎn)品:激光功率計(jì)、能量計(jì)及光束質(zhì)量分析儀等;
                         集成系統(tǒng)所需的激光器、步進(jìn)位移平臺(tái)、偏振光轉(zhuǎn)換器等
                         顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動(dòng)載物臺(tái)、波片進(jìn)片機(jī)、高速相機(jī)ICCD、像增強(qiáng)器300ps門控時(shí)間、FLIM、高精度脈沖延時(shí)器等。
                         值得一提的是,近年來(lái)公司科研團(tuán)隊(duì)自主研發(fā)PCI弱吸收測(cè)量?jī)x,CRD光腔衰蕩法高反測(cè)量?jī)x,偏心曲率測(cè)量?jī)x等產(chǎn)品,為今后的發(fā)展壯大奠定了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。

測(cè)角儀,應(yīng)力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測(cè)設(shè)備,波片相位延遲,剪切

應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子,交通
  概述:
  美國(guó)Hinds Instruments的Exicor®雙折射測(cè)量技術(shù)于1999年推出,型號(hào)為150AT,為客戶提供技術(shù),具生產(chǎn)價(jià)值的測(cè)量雙折射的能力。
  Exicor系統(tǒng)的高靈敏度是美國(guó)Hinds Instruments的PEMLabs™技術(shù)的產(chǎn)品,該技術(shù)推出了超低雙折射光彈性調(diào)制器(PEM)。PEM的調(diào)制純度增強(qiáng)了Exicor的靈敏度,這是調(diào)制器的諧振特性的結(jié)果。 PEM的調(diào)制頻率為50 kHz,提供快速測(cè)量功能。
  雙檢測(cè)器光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與PEM科學(xué)相結(jié)合,提供了一個(gè)重要特性:光學(xué)系統(tǒng)中沒(méi)有移動(dòng)部件。 移動(dòng)部件的缺失產(chǎn)生高機(jī)械可靠性以及測(cè)量的可重復(fù)性,并允許同時(shí)測(cè)量幅度和角度。
  Exicor測(cè)量通過(guò)正在研究的光學(xué)樣品沿著光路積分的延遲。 它旨在測(cè)量并顯示延遲軸的大小和方向。
  此設(shè)計(jì)減了光學(xué)系統(tǒng)中的移動(dòng)部件,并避免了在測(cè)量角度之間切換的重復(fù)性。 氦氖激光束被偏振,然后被PEM調(diào)制。 調(diào)制后的光束通過(guò)樣品傳輸并分配一個(gè)分光鏡。 每束光束通過(guò)分析儀、光學(xué)濾光片和光電探測(cè)器的組合。 電子信號(hào)通過(guò)一個(gè)鎖定放大器處理,提供非常低的信號(hào)檢測(cè)。
  由Hinds儀器公司開(kāi)發(fā)的軟件算法將來(lái)自電子模塊的信號(hào)電平轉(zhuǎn)換為可以確定線性雙折射的參數(shù)。
  計(jì)算機(jī)從兩個(gè)輸入中選擇,允許從兩個(gè)信號(hào)通道進(jìn)行連續(xù)測(cè)量。 分析數(shù)據(jù),然后顯示延遲大小和軸角度并存儲(chǔ)在文件中。 當(dāng)在自動(dòng)映射模式下操作時(shí),x-y平移階段將把樣本移動(dòng)到下一個(gè)預(yù)定的測(cè)量位置。 結(jié)果以用戶確認(rèn)的格式即時(shí)顯示。
美國(guó)Hinds Instruments


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