ContourX100 bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-100
- 公司名稱 鉑悅儀器(上海)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 ContourX100
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2024/1/2 15:38:20
- 訪問次數(shù) 795
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巖芯分析儀,微區(qū)X射線熒光光譜儀,直讀光譜儀,手持式合金分析儀;Bruker臺階儀,光學輪廓儀,摩擦磨損儀,原子力顯微鏡;膜厚儀,藝術(shù)與考古分析儀
產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
直觀經(jīng)濟的臺式粗糙度計量設(shè)備
ContourX-100光學輪廓儀是準確和可重復(fù)的非接觸式表面計量設(shè)備。
該小尺寸系統(tǒng)采用流線型設(shè)計,結(jié)合了數(shù)十年布魯克白光干涉儀(WLI)創(chuàng)新,可提供毫不遜色的2D / 3D高分辨率測量功能。滿足計量要求的臺式系統(tǒng)具有業(yè)界先進的友好用戶界面,可直觀訪問多種預(yù)編程濾鏡和分析工具,用于加工的表面,薄膜和摩擦學應(yīng)用分析。
快速、可重復(fù)的三維計量
* 與放大倍率無關(guān)Z軸分辨率
* 大尺寸的標準視場
* 高穩(wěn)定性和重復(fù)性的集成防震設(shè)計
高性能的測量和分析功能
* 易于使用的界面,可快速準確地獲得結(jié)果
* 廣泛的濾鏡和分析工具選項,用于粗糙度和關(guān)鍵尺寸測量分析
* 滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標準在內(nèi)的定制化分析報告