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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學儀器及設(shè)備>光學測量儀>NP FLEX 三維表面測量系統(tǒng)

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NP FLEX 三維表面測量系統(tǒng)

具體成交價以合同協(xié)議為準

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鉑悅儀器自2004年成立以來,憑借與世界各大儀器品牌的戰(zhàn)略合作關(guān)系,以及不斷優(yōu)化公司自身經(jīng)營管理,提高服務(wù)質(zhì)量,成為中國國內(nèi)的儀器供應(yīng)商。鉑悅儀器所提供的產(chǎn)品均屬于高科技行業(yè),產(chǎn)品包括高精度的分析儀器、檢測儀器和生產(chǎn)設(shè)備,以及配套的耗材和配件,這些產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于工業(yè)、環(huán)境、食品、生物、地質(zhì)、半導體、太陽能、醫(yī)藥、醫(yī)療器械、藝術(shù)考古、刑偵等各個領(lǐng)域并服務(wù)于各大院校、研究所、檢測機構(gòu)、及政府部門等。

鉑悅儀器不僅擁有高品質(zhì)的產(chǎn)品,更培養(yǎng)了專業(yè)的銷售、應(yīng)用支持和售后服務(wù)團隊。本著客戶至上的原則,從客戶的實際需求出發(fā),鉑悅儀器為客戶提供儀器銷售,安裝培訓,應(yīng)用支持,代檢測服務(wù)及儀器短期租賃服務(wù)等綜合解決方案,并提供持續(xù)而良好的售后服務(wù),由此也獲得了廣大客戶的信任與認可。

企業(yè)文化Corporate Culture: CREDIT

C- Confidence: 自信

R- Responsibility: 責任心

E- Efficiency: 效率

D- Diligence: 勤奮

I- Intelligence: 機智

T- Trust: 信任

鉑悅儀器持續(xù)為您提供:儀器銷售,安裝培訓,應(yīng)用支持,代檢測服務(wù)及儀器短期租賃服務(wù)。

行業(yè)涵蓋:

工業(yè)、環(huán)境、食品、生物、地質(zhì)、半導體、太陽能、醫(yī)藥、醫(yī)療器械、藝術(shù)考古、刑偵

應(yīng)用范圍:

材料成份分析(定性/定量)
大面積材料元素分布
材料表面/形貌分析
3D掃描--快速3D成像
CT--3D內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析
太陽能IV檢測

產(chǎn)品:

-- 直讀光譜儀
-- 手持式XRF分析儀 S1 TITAN
-- 科研級手持式XRF分析儀TRACER
-- 便攜式熒光光譜儀 ELIO
-- 便攜臺式XRF分析儀 CTX
-- 微區(qū)X射線熒光光譜儀-元素掃描M4 TORNADO
-- 巖芯分析儀
-- 臺階儀、光學輪廓儀、原子力顯微鏡AFM
-- 臺式X射線熒光測厚儀
-- X射線透射系統(tǒng)/3D斷層掃描系統(tǒng) (CT )
-- 3D掃描儀
-- 便攜式IV曲線檢測儀

 

 

 

 

 

巖芯分析儀,微區(qū)X射線熒光光譜儀,直讀光譜儀,手持式合金分析儀;Bruker臺階儀,光學輪廓儀,摩擦磨損儀,原子力顯微鏡;膜厚儀,藝術(shù)與考古分析儀

產(chǎn)地類別 進口

       為大尺寸工件加工提供非接觸準確測量布魯克的NPFlex 三維表面測量系統(tǒng)為大樣品的表面表征測量提供了靈活的非接觸式的方案,可廣泛用于醫(yī)療植入,航空航天、汽車或加工上的大型、異型工件的測量。基于白光干涉原理,NPFlex 為用戶提供超過接觸式方法所能達到的更大數(shù)據(jù)量、更高分辨率和更好的重復性,使它成為互補型的測量方案。

       開放式的龍門設(shè)計克服了以往某些零件由于角度或取向造成的測量困難,現(xiàn)在NPFlex可實現(xiàn)超過300度的測量空間。NPFlex的靈活性、數(shù)據(jù)準確性和測試效率為加工行業(yè)提供了一種簡單的方法,來實現(xiàn)其更苛刻的加工要求、加工工藝和更好的終端產(chǎn)品。

 

        布魯克NPFLEX 三維表面測量系統(tǒng)為大樣品的表面表征測量提供了靈活的非接觸式的方案,超過300度的測量空間,克服了以往由于零件某些角度或取向問題造成的測量困難。NPFLEX是臺針對大型、異型工件進行非接觸測量,獲得微米級、毫米級樣品形貌特征的三維表面測量系統(tǒng)。
 

其靈活性表現(xiàn)在可用于測量表征更大的面型和更難測的角度
·  空間設(shè)計使得可測零件(樣品)更大、形狀更多
·  開放式龍門、定制的夾具和可選的搖擺測量頭可輕松測量想測部位
 

三維表面信息測量
·  每次測量均可獲取多種分析結(jié)果
·  更容易獲得更多的測量數(shù)據(jù)來幫助分析
 

垂直方向可達納米級分辨率,提供更多的細節(jié)
·  干涉技術(shù)實現(xiàn)每一個測量象素點上亞納米級垂直分辨率
·  工業(yè)界使用多年業(yè)已驗證的干涉技術(shù)提供具有統(tǒng)計意義的數(shù)據(jù),為日漸苛刻的加工工藝提供
 

快速獲取測量數(shù)據(jù),測試過程迅速
·  少的樣品準備時間和測量準備時間
·  比接觸法測量(一條線)更大的視場(一個面)獲得表面更多的數(shù)據(jù)

 

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