賽默飛Arctis 冷凍等離子體聚焦離子束電鏡
- 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
- 品牌 FEI/賽默飛
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/8/28 13:14:53
- 訪問(wèn)次數(shù) 1955
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| 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 1000萬(wàn)-1500萬(wàn) |
|---|---|---|---|
| 儀器分類 | FIB |
創(chuàng)新點(diǎn)：
賽默飛Arctis 冷凍等離子體聚焦離子束電鏡通過(guò)自動(dòng)上樣系統(tǒng)，Thermo Scientific™ Arctis™ Cryo-PFIB 可自動(dòng)上樣、自動(dòng)處理樣品并且可存儲(chǔ)多達(dá) 12 個(gè)冷凍樣品。與任何配備自動(dòng)上樣器的冷凍透射電鏡（如 Thermo Scientific Krios™ 或 Glacios™）直接聯(lián)用，省去了在 FIB-SEM 和透射電鏡之間的手動(dòng)操作載網(wǎng)和轉(zhuǎn)移的步驟。為了滿足冷凍聚焦離子束電鏡與透射電鏡應(yīng)用的低污染要求，Arctis Cryo-PFIB 還采用了全新的高真空樣品倉(cāng)和經(jīng)過(guò)改進(jìn)的冷卻/保護(hù)功能。
Arctis 冷凍等離子體聚焦離子束專為自動(dòng)化冷凍電子斷層掃描成像樣品的制備而設(shè)計(jì)。用戶可以穩(wěn)定地在原位制備厚度約為 200nm 或更薄的冷凍薄片，同時(shí)避免產(chǎn)生鎵 (Ga) 離子注入效應(yīng)。與目前市場(chǎng)上的其他 cryo-FIB-SEM 系統(tǒng)相比，Arctis Cryo-PFIB 可顯著提高樣品制備通量。
與冷凍透射電鏡和斷層成像工作流程直接相連
通過(guò)自動(dòng)上樣系統(tǒng)，Thermo Scientific™ Arctis™ Cryo-PFIB 可自動(dòng)上樣、自動(dòng)處理樣品并且可存儲(chǔ)多達(dá) 12 個(gè)冷凍樣品。與任何配備自動(dòng)上樣器的冷凍透射電鏡（如 Thermo Scientific Krios™ 或 Glacios™）直接聯(lián)用，省去了在 FIB-SEM 和透射電鏡之間的手動(dòng)操作載網(wǎng)和轉(zhuǎn)移的步驟。為了滿足冷凍聚焦離子束電鏡與透射電鏡應(yīng)用的低污染要求，Arctis Cryo-PFIB 還采用了全新的高真空樣品倉(cāng)和經(jīng)過(guò)改進(jìn)的冷卻/保護(hù)功能。
賽默飛Arctis 冷凍等離子體聚焦離子束電鏡的主要特點(diǎn)
與光學(xué)顯微鏡術(shù)關(guān)聯(lián)以及在透射電鏡中重新定位
"機(jī)載"集成寬場(chǎng)熒光顯微鏡 (iFLM) 支持使用光束、離子束或電子束對(duì)同一樣品區(qū)域進(jìn)行觀察。 特別設(shè)計(jì)的 TomoGrids 確保從最初的銑削到高分辨率透射電鏡成像過(guò)程中，冷凍薄片能與斷層掃描傾斜軸始終正確對(duì)齊。
iFLM 關(guān)聯(lián)系統(tǒng)能夠在電子束和離子束的匯聚點(diǎn)處進(jìn)行熒光成像。無(wú)需移動(dòng)載物臺(tái)即可在 iFLM 靶向和離子銑削之間進(jìn)行切換。CompuStage的180° 的傾轉(zhuǎn)功能使得可以對(duì)樣品的頂部和底部表面進(jìn)行成像，有利于觀察較厚的樣品。
TomoGrids 是針對(duì)冷凍斷層掃描工作流程而特別設(shè)計(jì)的，其上下2面均是平面。這2個(gè)面可防止載樣到冷凍透射電鏡時(shí)出現(xiàn)對(duì)齊錯(cuò)誤，并始終確保薄片軸相對(duì)于透射電鏡傾斜軸的正確朝向。 利用 TomoGrids，整個(gè)可用薄片區(qū)域都可用于數(shù)據(jù)采集。
厚度一致的高質(zhì)量薄片
Arctis 冷凍等離子體聚焦離子束掃描電鏡可在多日內(nèi)保持超潔凈的工作環(huán)境，確保制備一致的高質(zhì)量薄片。等離子體離子束源可在氙離子、氧離子和氬離子間進(jìn)行切換，有利于制備表面質(zhì)量出色的極薄薄片。
等離子體聚焦離子束技術(shù)適用于液態(tài)金屬離子源 (LMIS) 聚焦離子束系統(tǒng)尚未涉及的應(yīng)用。例如，可利用三種離子束的不同銑削特性制備高質(zhì)量樣品，同時(shí)避免鎵注入效應(yīng)。系統(tǒng)外殼的設(shè)計(jì)考慮到了生物安全，生物安全等級(jí)較高的實(shí)驗(yàn)室（如生物安全三級(jí)實(shí)驗(yàn)室）可選用高溫消毒解決方案。
Arctis 冷凍等離子體聚焦離子束掃描電鏡的緊湊型樣品室專為冷凍操作而設(shè)計(jì)。由于縮小了樣品室體積，操作環(huán)境異常干凈，最大限度減少水凝結(jié)的發(fā)生。通過(guò)編織套管冷卻樣品及專用凍存盒屏蔽樣品，進(jìn)一步提升了設(shè)計(jì)帶來(lái)的清潔度，確保了可以進(jìn)行多日批量樣品制備的工作環(huán)境。
自動(dòng)化高通量樣品制備和冷凍斷層掃描連接性
自動(dòng)上樣器可實(shí)現(xiàn)多達(dá) 12 個(gè)網(wǎng)格（TomoGrids 或 AutoGrids）的自動(dòng)上下樣，方便轉(zhuǎn)移到冷凍透射電鏡，同時(shí)最大限度降低樣品損壞和污染風(fēng)險(xiǎn)。通過(guò)新的基于網(wǎng)絡(luò)的用戶界面加載的載網(wǎng)將首先被成像和觀察。 隨后，選擇薄片位置并定義銑削參數(shù)。銑削工作將自動(dòng)運(yùn)行。根據(jù)樣品情況，等離子體源可實(shí)現(xiàn)高銑削速率，以實(shí)現(xiàn)對(duì)大體積材料的快速去除。
自動(dòng)上樣系統(tǒng)為易損的冷凍薄片樣品提供了受保護(hù)的環(huán)境。在很大程度上避免了可能會(huì)損壞或污染樣品的危險(xiǎn)手動(dòng)操作樣品步驟。 自動(dòng)上樣器卡槽被載入到與自動(dòng)上樣器對(duì)接的膠囊中，可在 Arctis 冷凍等離子體聚焦離子束掃描電鏡和 Krios 或 Glacios 冷凍透射電鏡之間互換。
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