PHI Versaprobe 4 X射線(xiàn)光電子能譜儀
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱(chēng) 上海斯邁歐分析儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠(chǎng)商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間 2024/12/24 9:42:35
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 1349
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| 價(jià)格區(qū)間 | 150萬(wàn)-200萬(wàn) | 儀器種類(lèi) | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
XPS 作為一種重要的表面分析方法，廣泛應(yīng)用于固體材料表面的元素組分和化學(xué)態(tài)的研究，例如電池材料，催化劑，集成電路，半導(dǎo)體，金屬，聚合物，陶瓷和玻璃等，可滿(mǎn)足從研發(fā)到失效分析的廣泛分析需求。VersaPrabe4 采用了全新設(shè)計(jì)的高靈敏分析器，靈敏度是上一代的2倍，具有更低的檢測(cè)限，能夠?qū)崿F(xiàn)從微區(qū)到大面積的高靈敏度化學(xué)分析。微聚焦掃描X射線(xiàn)和SXI影像，通過(guò)類(lèi)似SEM的SXI影響可以作為樣品導(dǎo)航，實(shí)現(xiàn)100%精準(zhǔn)地定義微區(qū)分析位置
PHI Versaprobe 4 X射線(xiàn)光電子能譜儀應(yīng)用范圍：
包括表面的元素與化學(xué)態(tài)分析（氫和氦除外）。
表面物種的化學(xué)狀態(tài)的識(shí)別，包括有機(jī)和無(wú)機(jī)材料，導(dǎo)體和絕緣體。
深入薄膜中的組成元素分布概況，包括半導(dǎo)體、薄膜結(jié)構(gòu)，磁介質(zhì)薄膜，光學(xué)鍍膜，裝飾涂料，和耐磨涂層。
在必須避免會(huì)對(duì)電子束技術(shù)有破壞性效果時(shí)的樣品成分分析。
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