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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>分析儀器>X射線儀器>X射線定向儀>Freiberg-Omega/Theta XRD Omega/Theta XRD Mapping面掃功能

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Freiberg-Omega/Theta XRD Omega/Theta XRD Mapping面掃功能

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司
  • 品牌 Freiberg Instruments
  • 型號(hào) Freiberg-Omega/Theta XRD
  • 產(chǎn)地 德國(guó)
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2024/9/12 9:03:21
  • 訪問(wèn)次數(shù) 1329

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束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司自成立以來(lái),憑借與德國(guó)布魯克(BRUKER)、衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)、德國(guó)Freiberg等實(shí)驗(yàn)室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作,迅速成為業(yè)界儀器供應(yīng)商。

我們擁有一支積極樂(lè)觀,正直誠(chéng)信的年輕團(tuán)隊(duì),我們熱忱的信仰科學(xué),相信科學(xué)技術(shù)能為我們的客戶帶來(lái)高品質(zhì)的生活,為社會(huì)的進(jìn)步起到積極的促進(jìn)作用。

束蘊(yùn)儀器為各類(lèi)客戶提供優(yōu)質(zhì)的實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)檢測(cè)儀器及過(guò)程控制設(shè)備,專業(yè)的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù),在中國(guó)大陸的諸多領(lǐng)域擁有大量用戶,如高校、科研院所、航空航天,政府組織、檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)、及工業(yè)企業(yè)。產(chǎn)品覆蓋了醫(yī)藥、生物、材料、考古、電子、食品等各個(gè)行業(yè)。

公司的宗旨:為客戶量身打造合適的綜合解決方案、技術(shù)支持和現(xiàn)場(chǎng)服務(wù),優(yōu)質(zhì)的客戶培訓(xùn),快速及時(shí)的售后服務(wù)。

 

束蘊(yùn)儀器,讓世界更清晰!

主營(yíng)儀器設(shè)備:

--高分辨X射線顯微CT、多量程X射線納米CT、X射線衍射儀、X射線熒光光譜儀、電子順磁共振波譜儀          (ESR/EPR)、臺(tái)式核磁共振波譜儀 TD-NMR、光學(xué)輪廓儀等 -- 德國(guó)布魯克Bruker 授權(quán)代理商

--PDF衍射數(shù)據(jù)庫(kù)、JADE軟件--衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)授權(quán)代理商

--晶圓片壽命檢測(cè)儀、在線晶圓片/晶錠點(diǎn)掃或面掃檢測(cè)、晶圓片在線面掃檢測(cè)儀、臺(tái)式PID潛在誘導(dǎo)退化測(cè)試儀、釋光測(cè)定儀等--德國(guó)Freiberg Instruments授權(quán)代理商

--BPCL化學(xué)發(fā)光儀--微光科技華東區(qū)總代理

 


 單位名稱:束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司

詳細(xì)地址:上海市松江區(qū)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號(hào)樓602室

 

 

 

 

 

MicroCT,顯微CT,微焦點(diǎn)CT,骨骼成像,顯微CT材料學(xué)檢測(cè),微納顯微CT,X射線斷層掃描,TOC,元素檢測(cè)

價(jià)格區(qū)間 面議 儀器種類(lèi) 雙晶衍射
應(yīng)用領(lǐng)域 化工,能源,電子,航天,電氣

Omega/Theta XRD Mapping面掃功能

Omega/Theta XRD Mapping面掃功能掃臺(tái)允許使用受控的網(wǎng)格模式來(lái)探索整個(gè)樣品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地在轉(zhuǎn)盤(pán)頂部容納額外的XY定位平臺(tái)。樣品表面可以根據(jù)用戶定義的網(wǎng)格進(jìn)行掃描。由于樣品上X射線光斑的大小,小的網(wǎng)格間距約為1毫米。


 


繪圖階段可以與Omega掃描結(jié)合起來(lái),以獲得晶體方向圖,或與搖擺曲線測(cè)量結(jié)合起來(lái),以獲得表面的扭曲圖??商峁┯糜陲@示和分析的軟件包。

 

Omega/Theta XRD Mapping面掃功能

是診斷晶體生長(zhǎng)過(guò)程中和制造過(guò)程中出現(xiàn)的質(zhì)量問(wèn)題的一個(gè)寶貴工具


即使在單晶中,晶體取向也可以在表面上表現(xiàn)出微小的變化,這是由晶格缺陷引起的內(nèi)部應(yīng)變?cè)斐傻摹S行蛏L(zhǎng)的薄膜也可以有一個(gè)有趣的面內(nèi)取向分布。

繪制一個(gè)表面需要大量的測(cè)量。在這里,歐米茄掃描方法可以提供其速度方面的優(yōu)勢(shì)。圖中顯示的是在一個(gè)(Si,Ge)固溶體晶片上測(cè)量的取向圖。較大的方向差是0.03°。同心圓是按照晶體的生長(zhǎng)環(huán)進(jìn)行的。



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