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Wildfire DENS TEM 原位加熱桿

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司(簡稱“復(fù)納科技”)于 2012 年在上海成立,聚焦荷蘭飛納臺式掃描電鏡在中國市場的推廣和應(yīng)用,涵蓋領(lǐng)域包括材料、鋰電新能源、半導(dǎo)體、生命科學(xué)和法醫(yī)檢測等。

截止目前,復(fù)納科技服務(wù)超過 2000 家飛納電鏡客戶和 100 家相關(guān)產(chǎn)品客戶,包括:清華大學(xué)、北京大學(xué)、復(fù)旦大學(xué)、上海交通大學(xué)、華南理工大學(xué)和中科院系統(tǒng)等高??蒲袉挝唬话退狗?、寧德時(shí)代、微軟、默克和出入境檢驗(yàn)局等企事業(yè)單位。

2017 年開始,復(fù)納科技陸續(xù)與 7 家行業(yè)品牌建立了長期合作,致力于為中國高校、研究所、企業(yè)和政府用戶提供先進(jìn)可靠、高效智能的科學(xué)分析儀器、優(yōu)質(zhì)專業(yè)的服務(wù)和基于核心技術(shù)的解決方案。目前已引進(jìn)先進(jìn)的:DENSsolutions TEM原位樣品桿,飛納臺式掃描電鏡,NEOSCAN臺式高分辨顯微 CT,F(xiàn)orgeNano原子層沉積、 Technoorg Linda SEM/TEM樣品制備和VSParticle 納米氣溶膠沉積等設(shè)備。

十年以來,復(fù)納科技賦能中國科研創(chuàng)新、工業(yè)升級,人工智能檢測的使命也越來越清晰。

 

 

 

 

臺式掃描電鏡,SEM / TEM 樣品制備,ALD 原子層沉積,TEM 原位樣品桿,X 射線顯微 CT

 

DENS Wildfire TEM 原位加熱方案

DENS Wildfire.png

Wildfire 芯片.png

DENSsolutions-logo-big.png

01 產(chǎn)品概況

Wildfire 原位加熱系統(tǒng)是為了探索材料在高溫下的反應(yīng)和狀態(tài)變化的研究人員而設(shè)計(jì)的,其*的穩(wěn)定性超越了市場上大部分的同類產(chǎn)品,允許從室溫加熱到1300℃,并在所有的方向上保證優(yōu)異的溫度控制和樣品穩(wěn)定,確保了在高溫下觀察樣品動態(tài)時(shí),TEM能保持最高的分辨率和分析性能。

同時(shí),設(shè)計(jì)的芯片和4點(diǎn)探針法,可通過快速反饋實(shí)現(xiàn)溫度的局部測量,從而實(shí)現(xiàn)即時(shí)穩(wěn)定和精確的溫度控制。對于需要進(jìn)行高溫下三維重構(gòu)研究的客戶,我們也配備了α傾轉(zhuǎn)角達(dá)到70°的樣品桿,便于客戶進(jìn)行多方位的研究。

 

02 產(chǎn)品特點(diǎn)

 

 

樣品制備簡單便捷

1. 可簡單快速地進(jìn)行薄膜轉(zhuǎn)移

大面積范圍內(nèi)都保持平整,方便轉(zhuǎn)移樣品薄膜

2. 滴加的樣品顆粒都在視野中

樣品直接滴加到芯片上,可有效的降低毛細(xì)效應(yīng)

3. 優(yōu)質(zhì)的 FIB 樣品薄片

使用我們專有的 FIB 樣品臺可輕松制備樣品薄片,并直

接在芯片上進(jìn)行最終減薄,而不會影響加熱性能。

00 DENS 綜合彩頁.jpg

 

可靠的加熱控制

1. 準(zhǔn)確的溫度控制

通過四探針法加熱可以在所有的溫度達(dá)到精準(zhǔn)控制,溫

度穩(wěn)定性偏差 ≤ 0.005°C。

2. 全可視區(qū)域的超高溫度均勻性

溫度均勻性偏差小于 0.5%。

3. 支持客戶親自驗(yàn)證其準(zhǔn)確性和均勻性

客戶可通過使用 EELS 和 SAED 技術(shù)在透射電鏡

(TEM)中直接驗(yàn)證溫度。

 

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高質(zhì)量結(jié)果

1. 高穩(wěn)定性

即使溫度高達(dá) 1000 °C,漂移率也小于 200 nm,并且可

以在最短的時(shí)間內(nèi)穩(wěn)定。

2. 不受影響的 STEM/TEM 性能

極小的 Z 方向位移(膨脹)有效保持了 TEM 的最佳分辨

率,而不需要頻繁移動樣品臺來達(dá)到同研發(fā)的目的。

3. 優(yōu)異的分析能力

微型加熱器極大地降低紅外輻射,可在高達(dá) 1000 °C 的

溫度下進(jìn)行 EDS 分析。

 

 

 

 

微信截圖_20230418155030.png

 

03. 案例分享
 

下圖是 Wildfire 原位樣品桿在 1000℃ 下采集到的 PdAu 納米顆粒的 mapping 圖譜,得到了高質(zhì)量的 EDS 信號,使得高溫下的 EDS 分析成為可能。當(dāng)前,許多科學(xué)家借助 Wildfire 原位樣品桿在高影響因子的期刊上發(fā)表了高質(zhì)量的文章,而利用原位透射電鏡了解材料的形態(tài)和成分變化,也在科研領(lǐng)域越來越受歡迎了。

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04 應(yīng)用領(lǐng)域

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05 原位實(shí)驗(yàn)技術(shù)簡介

透射電子顯微鏡(TEM)一直是觀察微觀世界的有力工具。尤其是球差矯正器的出現(xiàn),科學(xué)家已經(jīng)可以實(shí)現(xiàn)在原子尺度上對材料的化學(xué)結(jié)構(gòu)進(jìn)行表征成像。此外,TEM 的進(jìn)步也帶動了 CCD 相機(jī)的發(fā)展,這樣,TEM 就同時(shí)具有優(yōu)異的空間分辨率和時(shí)間分辨率,那么時(shí)間和空間的結(jié)合,是否可以讓 TEM 動起來?

眾所皆知,TEM 需要在高真空條件下表征靜止?fàn)顟B(tài)下的樣品,但這不足以反映材料在真實(shí)環(huán)境下的微觀結(jié)構(gòu)。為此,荷蘭 DENSsolutions 公司多位科學(xué)家利用最新的 MEMS 技術(shù),設(shè)計(jì)出的納米芯片,據(jù)此可以向 TEM 中引入動態(tài)外界刺激條件,模擬樣品在真實(shí)環(huán)境下的狀態(tài),打破壓力的限制,記錄樣品的動態(tài)變化過程,讓 TEM真正的實(shí)現(xiàn)動起來。

荷蘭 DENSsolutions 公司為透射電鏡提供技術(shù)先進(jìn)的、納米尺度的原位顯微工具,其產(chǎn)品可以為原位 TEM 樣品施加外界刺激,捕捉 TEM 樣品在真實(shí)環(huán)境下的動態(tài)現(xiàn)象。目前,已經(jīng)可以在 TEM 中引入氣、液、熱、電等多種狀態(tài)。

歡迎隨時(shí)聯(lián)系我們獲取更多產(chǎn)品方案和技術(shù)支持

 

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