Excion 東譜科技電吸收光譜儀

產(chǎn)品關(guān)鍵詞：電吸收譜、電場誘導(dǎo)吸收光譜、電荷注入吸收光譜、EIEAS、CIEAS、電荷調(diào)制吸收譜、斯塔克效應(yīng)、帶隙測定、激子態(tài)、量子阱子帶躍遷、電場誘導(dǎo)效應(yīng)、注入電荷誘導(dǎo)效應(yīng)

▌ 產(chǎn)品簡介

電吸收光譜儀（EAS）是一種通過測量樣品在施加電場時對光的吸收變化來研究半導(dǎo)體和其他材料屬性的技術(shù)。通過電吸收光譜，可以得到吸收系數(shù)與電場的一階、二階等高階效應(yīng)的樣品信息。其中，斯塔克效應(yīng)（Box1）是典型導(dǎo)致電吸收信號產(chǎn)生的物理效應(yīng)，此外還可以用來研究電荷調(diào)制吸收譜等。Excion 包括電場誘導(dǎo)吸收光譜（EIEAS）和電荷注入吸收光譜（CIEAS）兩大模塊功能，方便用戶靈活研究電場誘導(dǎo)效應(yīng)和注入電荷誘導(dǎo)效應(yīng)。 

Excion 是業(yè)內(nèi)范圍內(nèi)首套電吸收光譜商業(yè)化設(shè)備，由東譜科技的科研人員和工程師攜手來自劍橋大學、香港城市大學、中山大學、華南理工大學的專家成員聯(lián)合研發(fā)而成。 

從應(yīng)用方向上，EAS 具有廣泛的應(yīng)用范圍，特別是在半導(dǎo)體物理和光電子學領(lǐng)域。以下是一些EAS應(yīng)用的關(guān)鍵領(lǐng)域和方向： 

（1）帶隙測定：EAS可用于測量半導(dǎo)體的帶隙。在外加電場作用下，靠近帶邊的吸收起始點會發(fā)生移動，從而允許精確確定帶隙能量。 

（2）激子態(tài)：在半導(dǎo)體中，激子——電子和空穴的束縛態(tài)——可以使用 EAS 進行研究。外加電場可以改變這些激子存在所需的能量，這表現(xiàn)為吸收光譜的變化。

（3）量子阱子帶躍遷(intersubband transition)：對于像量子阱、線和點這樣的量子限制結(jié)構(gòu)，EAS 可以用來觀察子帶間的躍遷，這對于理解材料的尺寸對電子性質(zhì)的影響非常重要。 

（4）材料質(zhì)量評估：EAS可以幫助檢測半導(dǎo)體樣品中的雜質(zhì)和缺陷。吸收光譜的變化可能表明存在影響電子結(jié)構(gòu)的缺陷或雜質(zhì)。

（5）光電子器件特性表征：在開發(fā)LED、光電探測器和太陽能電池等器件時，EAS可以提供有關(guān)材料在工作狀態(tài)下的行為的理解。這包括研究電場對光發(fā)射或吸收過程效率的影響。 

（6）調(diào)制器和開關(guān)：基于半導(dǎo)體的光調(diào)制器和開關(guān)依賴于斯塔克效應(yīng)，這可以通過EA光譜學來表征和優(yōu)化。

（7）非線性光學特性：具有非線性光學特性的材料可以使用EAS進行研究，以了解它們?nèi)绾闻c強電場相互作用，這對于光信號處理和通信應(yīng)用至關(guān)重要。 

（8）量子信息處理：在新興的量子計算領(lǐng)域，EAS可以協(xié)助設(shè)計和分析可能作為量子比特（qubits）或其他量子光學組件的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)。 總之，EA光譜學的應(yīng)用使研究人員和工程師能夠深入了解材料的電子屬性，有助于推進材料科學的發(fā)展，并優(yōu)化光電子器件，服務(wù)于包括半導(dǎo)體、電信、能源、照明及顯示和量子計算等在內(nèi)的各個行業(yè)。

Excion電吸收光譜儀的一般使用流程如下：

（1）樣品準備： 將半導(dǎo)體或其他材料的薄膜樣品準備好，并附上電接觸點，以便在其上施加電場。常見的方式是把樣品制備成三明治結(jié)構(gòu)。

（2）施加電場： 向樣品施加直流或低頻電場，可以在軟件靈活設(shè)置電場的大小、頻率、偏置值等。

（3）光吸收測量： 在EIEAS 或CIEAS的模式下，設(shè)置掃描波長、掃描電場頻率、掃描電場大小等測試變量，進行變量依賴的光吸收測量。

（4）數(shù)據(jù)分析： 通過比較有無電場時的吸收光譜，可以觀察到對應(yīng)于材料中不同電子態(tài)之間轉(zhuǎn)換的吸收變化。施加電場可能會導(dǎo)致吸收峰的位移，表明電子在能級間轉(zhuǎn)換所需能量的變化。Excion 提供了數(shù)據(jù)平滑、分峰、一階導(dǎo)、二階導(dǎo)、指數(shù)擬合、多項式擬合等豐富的數(shù)據(jù)分析功能。

（5）數(shù)據(jù)導(dǎo)出：Excion提供便捷的數(shù)據(jù)導(dǎo)出功能，可以導(dǎo)出TXT/CSV等文本格式的數(shù)據(jù)。

（6）數(shù)據(jù)解釋：用戶從Excion獲得的數(shù)據(jù)可以用來研究半導(dǎo)體材料的各種性質(zhì)，包括帶隙（價帶和導(dǎo)帶之間的能量差）、帶邊緣附近的態(tài)密度、內(nèi)建電場以及可能影響電子結(jié)構(gòu)的缺陷或雜質(zhì)的存在等等。

Excion憑借其高靈敏度與精確度、多功能性、易用性、高通量檢測、耐用性、完善的技術(shù)支持與售后服務(wù)等優(yōu)點，成為工業(yè)和科研領(lǐng)域的理想選擇。

▌ 產(chǎn)品特點

□ 多功能性：Excion 開發(fā)借鑒了前沿的電吸收科研與工業(yè)應(yīng)用研究成果，集成了EIEAS和CIEAS兩種原理模式，集成了透射與反射兩種光路檢測模式，還可以進行多達8種以上的物理變量掃描與單點檢測測試；

□ 高靈敏度與精確度：Excion 采用了新的調(diào)制、傳感與檢測技術(shù)，能夠捕捉到極其微小的變化，其測量結(jié)果具有高度的可靠性和重復(fù)性，確保了數(shù)據(jù)的準確性；

□ 寬光譜范圍：這款光譜儀覆蓋了從紫外到近紅外（200-2500nm）的廣泛波段，適用于多種不同的電吸收光譜分析需求；

□ 高通量檢測：人工智能的設(shè)計理念，高程度的自動化設(shè)計，高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)使得 Excion 能夠迅速完成光譜掃描，大大提高了工作效率和實驗通量；

□ 易于操作：Excion的用戶界面設(shè)計直觀易懂，即使是非專業(yè)人員也能輕松上手，具有典型的“Plug & Play”和“Turn-key”特征。；

□ 穩(wěn)定性與可靠性：Excion采用高質(zhì)量的零部件和精密的制造工藝，引入了完善的錯誤處理與設(shè)計，確保了儀器長期穩(wěn)定運行，減少了維護成本；

□ 完善的技術(shù)支持與售后服務(wù)：我們?yōu)?Excion 提供全面的技術(shù)支持和保修服務(wù)，確保用戶在使用過程中無后顧之憂。

▌ 測量模式

測量模式

□ 單點測量；

□ 掃描測量；

• 波長掃描
  

• 頻率掃描
  

• 相位掃描
  

• 光源強度掃描
  

• 電場強度掃描
  

• 注入電流掃描
  

• 溫度掃描：變溫測試
  

原理模式   

• 電場誘導(dǎo)吸收光譜（EIEAS）
  

• 電荷注入吸收光譜（CIEAS）
  

• 電荷調(diào)制吸收譜等
  

• 電吸收譜
  

▌ 功能參數(shù)

▌ 產(chǎn)品應(yīng)用

□ 帶隙測定；

□ 激子態(tài)研究；

□ 量子阱子帶躍遷；

□ 材料質(zhì)量評估；

□ 光電子器件特性表征；

□ 調(diào)制器和開關(guān)；

□ 非線性光學特性；

□ 量子信息處理等。