光致發(fā)光量子效率PLQY測量系統(tǒng)

在材料科學與光電器件研發(fā)的前沿領域，光致發(fā)光量子效率（PLQY）的精確測量對理解材料光學特性、優(yōu)化光電器件性能意義重大。光致發(fā)光現(xiàn)象廣泛存在于有機金屬復合物、熒光探針、染料敏化型 PV 材料、OLED 材料、LED 熒光粉等多種材料中。隨著這些領域的飛速發(fā)展，對光致發(fā)光量子效率測量的準確性、高效性和靈活性提出了更高要求。傳統(tǒng)測量設備在面對復雜多樣的測量場景和高精度測量需求時，往往難以滿足。東譜科技憑借深厚的技術積累和對市場需求的敏銳洞察，推出了光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng) HiYield - PL，為行業(yè)帶來全新解決方案。

（一）原理

光致發(fā)光（Photoluminescence 簡稱 PL），是指物體在受到外界光源照射時，獲得能量，受激發(fā)光的現(xiàn)象，也指物質(zhì)吸收光子（或電磁波）后重新輻射出光子 (或電磁波) 的過程。在量子力學理論中，這一過程可描述為物質(zhì)吸收光子躍遷到較高能級的激發(fā)態(tài)后返回低能態(tài)，同時放出光子。

（二）技術特點

HiYield - PL 采用靈活的模塊化架構，可根據(jù)不同測量場景和用戶需求定制化配置。無論是科研機構的基礎研究，還是企業(yè)的大規(guī)模生產(chǎn)檢測，都能精準適配，確保在各種復雜條件下穩(wěn)定、高效地獲取 PLQY 數(shù)據(jù)。

為減少人為操作誤差，提高測量重復性，該設備可選配自動進樣系統(tǒng)。該系統(tǒng)能按預設程序自動完成樣品的裝載、定位和測量，極大提高測量效率和數(shù)據(jù)可靠性。

配備自動化軟件，實現(xiàn)一鍵測量所有參數(shù)的功能。軟件具備直觀操作界面和智能化數(shù)據(jù)處理能力，操作人員無需復雜培訓即可輕松上手，大大縮短測量周期。

（三）技術優(yōu)勢

HiYield - PL 在設計上充分考慮抑制各種干擾因素，采用高靈敏度探測器和精確光學系統(tǒng)，能實現(xiàn)對光致發(fā)光量子效率的高精度測量，為科研和生產(chǎn)提供可靠數(shù)據(jù)支持。HiYield - PL可適用于薄膜、粉末、液體等多種形態(tài)的光致發(fā)光材料，涵蓋從有機到無機的各類材料體系，滿足不同用戶在不同領域的多樣化測量需求。設備具備快速的數(shù)據(jù)采集和處理能力，能在短時間內(nèi)完成大量樣品的測量和分析，有效提高工作效率，尤其適用于大規(guī)模生產(chǎn)線上的質(zhì)量控制和研發(fā)過程中的快速篩選。

（四）技術功能解釋

HiYield - PL能準確測量材料的發(fā)光量子效率，即發(fā)射光子數(shù)與吸收光子數(shù)之比，同時還可對內(nèi)量子效率精確評估，為深入研究材料發(fā)光機制提供關鍵數(shù)據(jù)。

可測量激發(fā)波長依賴量子效率、藍光吸收比、衰減比等多種效率參數(shù)，全面反映材料在不同激發(fā)條件下的性能變化，有助于用戶深入了解材料光學特性。

涵蓋光譜功率分布、輻射通量、光子數(shù)、光通量、光視效能、峰值波長、中心波長等參數(shù)的測量，為材料光學性能評估提供豐富維度。

能精確測量 CIE 色度坐標、相關色溫（CCT）、MK - 1（mired）、顯色指數(shù)（CRI）、RGB 顏色值等色度學參數(shù)，滿足光電器件在顏色特性方面的測量需求。

可實時監(jiān)測 PLQY - t、λ - t、Radiance - t、Lumen - t、K - t、CIE - t、CCT - t、CRI - t 等衰減參數(shù)，為研究材料穩(wěn)定性和壽命提供重要依據(jù)。（插入衰減參數(shù)隨時間變化的曲線示例圖，標注橫坐標為時間，縱坐標為不同衰減參數(shù)，解釋曲線變化反映的材料穩(wěn)定性和壽命信息）