布魯克 Dektak系列臺階儀/探針式輪廓儀
| 參考價 | ￥500000-￥1000000/件 |
- 公司名稱 鉑悅儀器（上海）有限公司
- 品牌Bruker/布魯克
- 型號
- 所在地上海市
- 廠商性質代理商
- 更新時間2024/11/26 15:13:56
- 訪問次數(shù) 105
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鉑悅儀器自2004年成立以來，憑借與世界各大儀器品牌的戰(zhàn)略合作關系，以及不斷優(yōu)化公司自身經(jīng)營管理，提高服務質量，成為中國國內的儀器供應商。鉑悅儀器所提供的產品均屬于高科技行業(yè)，產品包括高精度的分析儀器、檢測儀器和生產設備，以及配套的耗材和配件，這些產品廣泛應用于工業(yè)、環(huán)境、食品、生物、地質、半導體、太陽能、醫(yī)藥、醫(yī)療器械、藝術考古、刑偵等各個領域并服務于各大院校、研究所、檢測機構、及政府部門等。
鉑悅儀器不僅擁有高品質的產品，更培養(yǎng)了專業(yè)的銷售、應用支持和售后服務團隊。本著客戶至上的原則，從客戶的實際需求出發(fā)，鉑悅儀器為客戶提供儀器銷售，安裝培訓，應用支持，代檢測服務及儀器短期租賃服務等綜合解決方案，并提供持續(xù)而良好的售后服務，由此也獲得了廣大客戶的信任與認可。
企業(yè)文化Corporate Culture： CREDIT
C- Confidence: 自信
R- Responsibility: 責任心
E- Efficiency: 效率
D- Diligence: 勤奮
I- Intelligence: 機智
T- Trust: 信任
鉑悅儀器持續(xù)為您提供：儀器銷售，安裝培訓，應用支持，代檢測服務及儀器短期租賃服務。
行業(yè)涵蓋：
工業(yè)、環(huán)境、食品、生物、地質、半導體、太陽能、醫(yī)藥、醫(yī)療器械、藝術考古、刑偵
應用范圍：
材料成份分析（定性/定量）
大面積材料元素分布
材料表面/形貌分析
3D掃描--快速3D成像
CT--3D內部結構分析
太陽能IV檢測
產品：
-- 直讀光譜儀
-- 手持式XRF分析儀 S1 TITAN
-- 科研級手持式XRF分析儀TRACER
-- 便攜式熒光光譜儀 ELIO
-- 便攜臺式XRF分析儀 CTX
-- 微區(qū)X射線熒光光譜儀-元素掃描M4 TORNADO
-- 巖芯分析儀
-- 臺階儀、光學輪廓儀、原子力顯微鏡AFM
-- 臺式X射線熒光測厚儀
-- X射線透射系統(tǒng)/3D斷層掃描系統(tǒng) （CT ）
-- 3D掃描儀
-- 便攜式IV曲線檢測儀
巖芯分析儀，微區(qū)X射線熒光光譜儀，直讀光譜儀,手持式合金分析儀;Bruker臺階儀,光學輪廓儀,摩擦磨損儀,原子力顯微鏡;膜厚儀，藝術與考古分析儀
| 產地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 化工,生物產業(yè),電子,制藥,綜合 |
BRUKER
布魯克 Dektak系列臺階儀/探針式輪廓儀
BRUKER布魯克 Dektak系列臺階儀/探針式輪廓儀 ，適用于納米級表面測量、表面形貌分析等多種領域，具有超過50年的研發(fā)歷程，技術成熟，性能可靠。
設備可實現(xiàn) 4? （0.4nm） 的優(yōu)異重復性和快速的掃描速度，為微電子技術、半導體、觸摸屏、太陽能、高亮度 LED、醫(yī)療和材料科學、薄膜與涂層、生命科學應用等行業(yè)實現(xiàn)納米級表面形貌測量技術提供支持。
布魯克全新一代的臺階儀設備 - Dektak Pro
Dektak Pro™ 以其多功能，使用的便捷性和準確的精度在薄膜厚度、臺階高度、應力、表面粗糙度和晶圓翹曲測量方面廣受贊許。第十一代Dektak®系統(tǒng)，具有4 ?重復性的優(yōu)異表現(xiàn)，并提供200毫米平臺選項，在科研以及工業(yè)領域中可以為材料的表面形貌提供各種分析。在表面測量方面，Dektak Pro是微電子技術、薄膜與涂層和生命科學應用的理想選擇。
強大的性能和重復性
Dektak Pro以其強大的分辨率、穩(wěn)定性、穩(wěn)健性和耐用性，確保在未來數(shù)年甚至數(shù)十年內提供可靠的優(yōu)質結果。新型號在Dektak平臺上繼承創(chuàng)新，提供更高的分辨率、更低的噪聲和更便捷的探針更換，所有這些因素對于優(yōu)化系統(tǒng)的重復性和準確性至關重要。
在適當?shù)沫h(huán)境下，Dektak Pro甚至能夠測量1納米的臺階高度，并在1微米臺階高度標準上實現(xiàn)優(yōu)于4 ?的重復性。
性能體現(xiàn)在細節(jié)之中
Dektak Pro的單拱設計有效降低了對不利環(huán)境條件（如噪聲和震動）的敏感性，同時又可容納大尺寸樣品測試。新一代的智能電子技術應用更大限度地減少了溫度變化和電子噪聲，從而減少了高精度測量中的誤差和不確定性。
低慣量傳感器（LIS 3）使系統(tǒng)能夠快速適應表面形態(tài)的突然變化，在動態(tài)測量場景中保持準確性和響應性。探頭更換技術通過自對準探頭夾具，消除了錯位和系統(tǒng)重新校準的需要，輕松完成探頭更換，耗時不到一分鐘。
快速獲取結果
Dektak Pro采用直驅掃描平臺技術，這一先進的掃描平臺技術大大減少了測量的時間而不影響分辨率和噪聲底，從而加快了3D形貌或長輪廓掃描的結果獲取速度，同時保持優(yōu)異的數(shù)據(jù)質量和重復性。
Vision64®軟件采用64位并行處理技術，即使面對大數(shù)據(jù)也能實現(xiàn)快速的數(shù)據(jù)處理。此外，自動化的多次掃描分析操作簡化了重復性任務，增強了速度和便捷性。
經(jīng)典可靠的臺階儀 - Dektak XT
布魯克 DektakXT 探針式輪廓儀（臺階儀）采用了革命性的臺式設計，結合成熟的技術和設計，實現(xiàn)了高性能、高易用性以及高性價比的統(tǒng)一，從研發(fā)到質量控制方面都有更好的過程控制。
設備特點：
- 強大性能，臺階高度重現(xiàn)性低于4?
- Single-arch（單拱門式）設計，提供突破性的掃描穩(wěn)定性
- 升級的“智能電子器件”，提高測試精度和穩(wěn)定性
- 優(yōu)化的硬件配置，使數(shù)據(jù)采集時間縮短40%
- 64-bit、Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件，使數(shù)據(jù)分析速度提高了十倍
- 直觀的Vision64用戶操作界面，使用更簡單
- 針尖自動校準系統(tǒng)，讓用戶輕松更換針尖探針
- 廣泛的探針型號
- 單傳感器設計
- 確保高通量測試
探針式輪廓儀系統(tǒng)/臺階儀系統(tǒng) - Dektak XTL
Dektak XTL 探針式輪廓儀系統(tǒng)（臺階儀系統(tǒng)）是為大型晶圓和面板制造等應用而設計的探針式輪廓儀系統(tǒng)，可容納高達 350mm x 350mm 的樣品，擁有高精度的掃描性能和優(yōu)異的可重復性和再現(xiàn)性。
設備采用空氣振動隔離和全封閉工作站設計，具有易用的聯(lián)鎖門，可用于苛刻的生產環(huán)境中。雙攝像頭架構，可增強空間感知能力。高自動化水平可更大限度地提高測試通量。
產品特點：
- Dektak系列臺階儀所具有的強大性能
- 單拱形架構、集成振動隔離系統(tǒng)和大型聯(lián)鎖門
- 更大且支持高精度編碼 XY 樣品工作臺
- 雙攝像頭控制系統(tǒng)
- 方便的分析和數(shù)據(jù)采集
- N-Lite 低作用力，采用軟觸控技術
- 可靠的自動化設置和操作
- 增強的分析軟件
- 針尖自動校準系統(tǒng)，讓用戶輕松更換針尖探針
- 廣泛的探針型號
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