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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>測量/計量儀器>表面測量儀器>臺階儀>Dektak XT 布魯克臺階儀-表面輪廓儀

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Dektak XT 布魯克臺階儀-表面輪廓儀

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 鉑悅儀器(上海)有限公司
  • 品牌 Alicona/奧地利
  • 型號 Dektak XT
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時間 2024/1/2 13:32:14
  • 訪問次數(shù) 1396

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鉑悅儀器自2004年成立以來,憑借與世界各大儀器品牌的戰(zhàn)略合作關系,以及不斷優(yōu)化公司自身經(jīng)營管理,提高服務質(zhì)量,成為中國國內(nèi)的儀器供應商。鉑悅儀器所提供的產(chǎn)品均屬于高科技行業(yè),產(chǎn)品包括高精度的分析儀器、檢測儀器和生產(chǎn)設備,以及配套的耗材和配件,這些產(chǎn)品廣泛應用于工業(yè)、環(huán)境、食品、生物、地質(zhì)、半導體、太陽能、醫(yī)藥、醫(yī)療器械、藝術考古、刑偵等各個領域并服務于各大院校、研究所、檢測機構、及政府部門等。

鉑悅儀器不僅擁有高品質(zhì)的產(chǎn)品,更培養(yǎng)了專業(yè)的銷售、應用支持和售后服務團隊。本著客戶至上的原則,從客戶的實際需求出發(fā),鉑悅儀器為客戶提供儀器銷售,安裝培訓,應用支持,代檢測服務及儀器短期租賃服務等綜合解決方案,并提供持續(xù)而良好的售后服務,由此也獲得了廣大客戶的信任與認可。

企業(yè)文化Corporate Culture: CREDIT

C- Confidence: 自信

R- Responsibility: 責任心

E- Efficiency: 效率

D- Diligence: 勤奮

I- Intelligence: 機智

T- Trust: 信任

鉑悅儀器持續(xù)為您提供:儀器銷售,安裝培訓,應用支持,代檢測服務及儀器短期租賃服務。

行業(yè)涵蓋:

工業(yè)、環(huán)境、食品、生物、地質(zhì)、半導體、太陽能、醫(yī)藥、醫(yī)療器械、藝術考古、刑偵

應用范圍:

材料成份分析(定性/定量)
大面積材料元素分布
材料表面/形貌分析
3D掃描--快速3D成像
CT--3D內(nèi)部結構分析
太陽能IV檢測

產(chǎn)品:

-- 直讀光譜儀
-- 手持式XRF分析儀 S1 TITAN
-- 科研級手持式XRF分析儀TRACER
-- 便攜式熒光光譜儀 ELIO
-- 便攜臺式XRF分析儀 CTX
-- 微區(qū)X射線熒光光譜儀-元素掃描M4 TORNADO
-- 巖芯分析儀
-- 臺階儀、光學輪廓儀、原子力顯微鏡AFM
-- 臺式X射線熒光測厚儀
-- X射線透射系統(tǒng)/3D斷層掃描系統(tǒng) (CT )
-- 3D掃描儀
-- 便攜式IV曲線檢測儀

 

 

 

 

 

巖芯分析儀,微區(qū)X射線熒光光譜儀,直讀光譜儀,手持式合金分析儀;Bruker臺階儀,光學輪廓儀,摩擦磨損儀,原子力顯微鏡;膜厚儀,藝術與考古分析儀

產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 面議
應用領域 醫(yī)療衛(wèi)生,能源,電子,綜合

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德國布魯克DektakXT臺階儀探針式表面輪廓儀可以提供更高的重復性和分辨率,測量重復性可以到5?。臺階儀這項性能的到了過去四十年Dektak技術,更加鞏固了其行業(yè)。不論應用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量,通過在研究工作中的廣泛使用,DektakXT能夠做到功能更強大,操作更簡易,檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺階儀(探針式表面輪廓儀)的技術,使納米尺度的表面輪廓測量成為可能,從而可以廣泛的應用于微電子器件,半導體,電池,高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學領域。

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   臺階儀DektakXT能實現(xiàn):

   1、 使用溫度條件:10-30℃;

   2、很好的性能,臺階高度重現(xiàn)性低于4埃

   3、Single-arch設計提供掃描穩(wěn)定性

   4、的“智能電子器件”設立了新低噪音基準

   5、新硬件配置使數(shù)據(jù)采集時間縮短

   6、64-bit,Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件,使數(shù)據(jù)分析速度高了10倍

   7、頻率,操作簡易

   8、直觀的Vision64用戶界面,操作簡易

   9、針尖自動校準系統(tǒng)

   10、布魯克(Bruker)以實惠的配置實現(xiàn)高的性能

   11、單傳感器設計,提供單一平面上低作用和寬掃描范圍

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      建立在40多年的探針輪廓技術的知識和經(jīng)驗薄膜測試儀,在基于微處理器的輪廓儀,和300mm自動輪廓儀DektakXT繼承了以往的。新的DektakXT是single-arch設計的探針輪廓儀,內(nèi)置真彩高清光學攝像機,及安裝64-bit并行處理架構已獲得測量及操作效率的探針輪廓儀

當需要臺階高度、表面粗糙度、測量時,人們就會借助Dektak。引進DektakXT,Bruker能讓您進一步獲得表面測量



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數(shù)據(jù)采集和分析速度
  直接驅動掃描平臺,Dektak XT減少了掃描間的時間,而沒有影響分辨率和背景噪聲。這一改進大范圍掃描3D形貌或者對于表面應力長程掃描(就探針輪廓儀而言,通常是耗時的)的掃描速度。在行業(yè)的質(zhì)量和重現(xiàn)性前提下,DektakXT可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度。另外,DektakXT采用Bruker64-bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作軟件Vision64,它可以大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度,并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描是的數(shù)據(jù)分析。Vision64還具有行業(yè)內(nèi)的直觀用戶界面,簡化了實驗操作設置,自動完成多掃描模式,讓重復和常規(guī)的實驗操作變得更快速簡潔。

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