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微波法少子壽命

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公司成立于2021年,是一家注冊在蘇州、具備技術(shù)的非接觸式半導(dǎo)體檢測分析設(shè)備制造商。公司集研發(fā)、設(shè)計、制造、銷售于一體,主要攻克國外壟斷技術(shù),替代進口產(chǎn)品,使半導(dǎo)體材料測試設(shè)備國產(chǎn)化。

主要產(chǎn)品:非接觸式無損方塊電阻測試儀、晶圓方阻測試儀、方阻測試儀、硅片電阻率測試儀、渦流法高低電阻率分析儀、晶錠電阻率分析儀、渦流法電阻率探頭和PN探頭測試儀、遷移率(霍爾)測試儀、少子壽命測試儀,晶圓、硅片厚度測試儀、表面光電壓儀JPV\SPV、汞CV、ECV。碳化硅、硅片、氮化鎵、襯底和外延廠商提供測試和解決方案。

憑借*的技術(shù)和豐富的產(chǎn)品設(shè)計經(jīng)驗,申請各項知識產(chǎn)權(quán)20余項,已發(fā)展成為中國大陸少數(shù)具有一定國際競爭力的半導(dǎo)體專用設(shè)備提供商,產(chǎn)品得到眾多國內(nèi)外主流半導(dǎo)體廠商的認可,并取得良好的市場口碑。





晶圓電阻率測試儀,硅片電阻率測試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率測試儀,少子壽命測試儀

即少數(shù)載流子壽命。光生電子和空穴從一開始在半導(dǎo)體中產(chǎn)生直到消失的時間稱為壽命。載流子壽命就是指非平衡載流子的壽命。而非平衡載流子一般也就是非平衡少數(shù)載流子(因為只有少數(shù)載流子才能注入到半導(dǎo)體內(nèi)部、并積累起來,多數(shù)載流子即使注入進去后也就通過庫侖作用而很快地消失了),所以非平衡載流子壽命也就是指非平衡少數(shù)載流子壽命,即少數(shù)載流子壽命。半導(dǎo)體材料中有電子和空穴兩種載流子。如果在半導(dǎo)體材料中某種載流子占少數(shù),導(dǎo)電中起到次要作用,則稱它為少子。如:在N型半導(dǎo)體中,空穴是少數(shù)載流子,電子是多數(shù)載流子;在P型半導(dǎo)體中,空穴是多數(shù)載流子,電子是少數(shù)載流子。

多子和少子的形成:五價元素的原子有五個價電子,當它頂替晶格中的四價硅原子時,每個五價元素原子中的四個價電子與周圍四個硅原子以共價鍵形式相結(jié)合,而余下的一個就不受共價鍵束縛,它在室溫時所獲得的熱能足以使它掙脫原子核的吸引而變成自由電子。出于該電子不是共價鍵中的價電子,因而不會同時產(chǎn)生空穴。而對于每個三價元素原子,盡管它釋放出一個自由電子后變成帶一個電子電荷量的正離子,但它束縛在晶格中,不能象載流子那樣起導(dǎo)電作用。這樣,與本征激發(fā)濃度相比,N型半導(dǎo)體中自由電子濃度大大增加了,而空穴因與自由電子相遇而復(fù)合的機會增大,其濃度反而更小了。
少子濃度主要由本征激發(fā)決定,所以受溫度影響較大。


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