TESCAN SEM掃描電鏡

TESCAN SEM掃描電鏡

TESCAN VEGA 鎢燈絲掃描電鏡（SEM）

掃描電子顯微鏡是一種無(wú)損分析技術(shù)，它使用電子束分析樣品表面，分析尺度可至納米級(jí)。掃描電子顯微鏡可獲得高分辨的高倍圖像，廣泛應(yīng)用于各個(gè)科學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域。

TESCAN 提供各種樣品室大小和配置的高性能鎢燈絲掃描電子顯微鏡，以滿足特定的分析需求。

TESCAN VEGA 第四代鎢燈絲掃描電子顯微鏡，采用全新的 Essence™ 電鏡操控軟件系統(tǒng)，將掃描形貌圖像與元素實(shí)時(shí)分析集成于同一個(gè)掃描窗口中。這種組合大大簡(jiǎn)化了樣品表面形貌的采集及所含元素的數(shù)據(jù)分析工作，使得全新的第四代 VEGA SEM 成為質(zhì)量控制、故障分析和研究實(shí)驗(yàn)室中常規(guī)材料等檢測(cè)提供更高效的分析的解決方案。

適用領(lǐng)域

材料科學(xué)：鋼鐵及合金、聚合物及復(fù)合材料、土木工程和建筑材料、木材，紡織品及紙張

生命科學(xué)：生物醫(yī)學(xué)工程、制藥技術(shù)、植物和動(dòng)物科學(xué)、環(huán)境和食品科學(xué)

地球科學(xué)：巖石學(xué) & 礦物學(xué)、古生物學(xué)、礦物加工、廢物回收

突出特點(diǎn)

* 集成的 TESCAN Essence™ EDS 分析平臺(tái)，在 Essence™ 電鏡操控軟件的單一窗口中即可實(shí)現(xiàn) SEM 成像和元素成分分析。

* TESCAN 采用無(wú)機(jī)械光闌設(shè)計(jì)，采用實(shí)時(shí)電子束追蹤（In Flight Beam Tracing™）的技術(shù)，可幫助用戶快速獲得電鏡的良好成像及分析條件。

* 大視野光路（Wide Field Optics™）設(shè)計(jì)，蕞低至2倍的放大倍數(shù)，無(wú)需額外的光學(xué)導(dǎo)航攝像頭即可輕松、精確地實(shí)現(xiàn) SEM 導(dǎo)航。

* SingleVac™ 模式作為標(biāo)準(zhǔn)配置，為觀測(cè)不導(dǎo)電樣品和電子束敏感的樣品提供便利的分析利器。

* 采用 3D 電子束技術(shù)（3D Beam Technology ）可獲得實(shí)時(shí)立體成像。

* 在樣品臺(tái)及裝置的樣品運(yùn)動(dòng)過(guò)程中，Essence™ 3D防碰撞模塊可以直觀的顯示安裝腔室內(nèi)的探測(cè)器及樣品臺(tái)的位置信息，提供良好的安全性的保護(hù)。

* 真空緩沖節(jié)能單元可顯著縮短機(jī)械泵的運(yùn)行時(shí)間，提供環(huán)保、高經(jīng)濟(jì)效益的電子顯微鏡。

* 模塊化分析平臺(tái)，可選配集成多種類的探測(cè)器和附件（如陰極熒光探測(cè)器，水冷背散射電子探測(cè)器或拉曼光譜儀等）。