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KLA Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀

參考價	￥50000-￥999999/臺

具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱 德國韋氏納米系統(tǒng)（香港）有限公司
品牌KLA-Tencor
型號
所在地香港特別行政區(qū)
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時間2025/3/10 7:42:31
訪問次數(shù) 25

產(chǎn)品標簽

KLA Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀 F3-sX薄膜厚度測量儀

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FIRSTNANO成立于2012年，一家由三位材料學博士共同創(chuàng)辦的德國公司?；?/span> “Science is international”的想法，“全球協(xié)同實驗室”成為三位博士追逐的夢想。

公司愿景是從科學家到科學家，科學開創(chuàng)美好未來。

FIRSTNANO深耕于半導體技術、材料科學、生命科學等科研領域，始終秉承“前沿、專業(yè)、科學”的宗旨，將前沿技術引進到協(xié)同實驗室。我們的產(chǎn)品覆蓋了微納加工制程；材料科學的檢測、分析；生命科學成像，腦科學與行為認知等相關領域。作為全球科技前沿的儀器供應商，FIRSTNANO具有全球技術視野、優(yōu)質(zhì)供應體系、以及嚴格的質(zhì)量管控系統(tǒng)，能為客戶提供前沿的技術解決方案。

公司服務的客戶領域廣泛，其中包括消費電子、航空、航天、醫(yī)藥技術、半導體行業(yè)、光電子行業(yè)、高校和研究機構。

在成長的過程中，我們腳踏實地、奮勇向前。自2015年香港（中華區(qū)）公司成立以來，我們一相繼在香港、深圳、上海和武漢設立了分支機構。

我們真誠邀請業(yè)內(nèi)英才加入FIRSTNANO TEAM，一起為夢想揚帆起航！

展開

半導體儀器和電子產(chǎn)品耗材耗材

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產(chǎn)地類別	進口	價格區(qū)間	50萬-100萬
應用領域	電子,航天,汽車,電氣,綜合

KLA Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀能測量半導體與介電層薄膜厚度到3毫米,而這種較厚的薄膜與較薄的薄膜相比往往粗糙且均勻度較為不佳

波長選配

KLA Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀系列使用近紅外光來測量薄膜厚度，即使有許多肉眼看來不透光(例如半導體)。 F3-s980 是波長為980奈米的版本，是為了針對成本敏銳的應用而設計,F3-s1310是針對重摻雜硅片的最佳化設計,F3-s1550則是為了最厚的薄膜設計。

附件

附件包含自動化測繪平臺，一個影像鏡頭可看到量測點的位置以及可選配可見光波長的功能使厚度測量能力最薄至15奈米。

包含的內(nèi)容：

集成光譜儀/光源裝置
光斑尺寸10微米的單點測量平臺
FILMeasure 8反射率測量軟件
Si 參考材料
FILMeasure 獨立軟件 (用于遠程數(shù)據(jù)分析)
型號規(guī)格
型號厚度范圍波長范圍
F3-s980 1μm-1mm
960-1000nm
F3-s1310 15μm-2mm
1280-1340nm
F3-s1550 25μm-3mm 1520-1580nm

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型號	厚度范圍	波長范圍
F3-s980	1μm-1mm	960-1000nm
F3-s1310	15μm-2mm	1280-1340nm
F3-s1550	25μm-3mm	1520-1580nm

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