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KLA Alpha-Step®D-500探針式輪廓儀
KLA Alpha-Step®D-500探針式輪廓儀能夠測量幾納米到1200微米高的2D臺階。D-500也支持在研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)節(jié)中對粗糙度、彎曲度和應力...
型號:
所在地:香港特別行政區(qū)
參考價:
¥50000更新時間:2025/3/17 10:32:02
對比
Alpha-Step®D-500KLA-Tencor探針式輪廓儀臺階儀接觸式輪廓儀
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KLA Tencor® P-17探針式輪廓儀
KLA Tencor® P-17探針式輪廓儀為生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)節(jié)提供從幾納米到一毫米的臺階高度測量功能。該系統(tǒng)支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行二維...
型號:
所在地:香港特別行政區(qū)
參考價:
¥50000更新時間:2025/3/17 10:30:38
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KLAP-17探針式輪廓儀臺階儀粗糙度測量
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KLA Tencor® P-7探針式輪廓儀
KLATencor® P-7探針式輪廓儀為生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)節(jié)提供了從幾納米到一毫米的臺階高度測量功能。該系統(tǒng)支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行二維(...
型號:
所在地:香港特別行政區(qū)
參考價:
¥50000更新時間:2025/3/17 10:29:25
對比
kla探針式輪廓儀kla p-7p-7臺階儀
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KLA Alpha-Step® D-600探針式輪廓儀
半導體薄膜生長表面檢測KLA Alpha-Step® D-600探針式輪廓儀能夠測量從幾納米到 1200微米的2D和3D臺階高度。D-600 還支持2...
型號:
所在地:香港特別行政區(qū)
參考價:
¥50000更新時間:2025/3/17 10:27:03
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科磊探針式輪廓儀Alpha-Step® D-600kla半導體表面測量
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KLA Filmetrics F50薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F50薄膜厚度測量儀采用自動化R-Theta平臺,支持標準和定制化樣品夾盤,最大樣品直徑達450毫米,能高效測繪薄膜厚度。該設備適...
型號:
所在地:香港特別行政區(qū)
參考價:
¥50000更新時間:2025/3/10 8:08:33
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KLA Filmetrics F50薄膜厚度測量儀Filmetrics F50薄膜厚度測量儀Filmetrics F50薄膜厚度測量儀白光干涉測厚儀
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KLA Filmetrics F40薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F40薄膜厚度測量儀通過將顯微鏡轉變?yōu)楸∧y量工具,實現(xiàn)小至1微米光斑的厚度和折射率測量。該設備配備集成彩色攝像機,可在1秒內(nèi)完成...
型號:
所在地:香港特別行政區(qū)
參考價:
¥50000更新時間:2025/3/10 7:59:43
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KLA Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀Filmetrics F40薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀Filmetrics F40白光干涉測厚儀
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KLA Filmetrics F30薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F30薄膜厚度測量儀通過實時監(jiān)控沉積過程,提供高精度、快速且非侵入式的測量解決方案,適用于多種半導體和電介質材料。其主要特點包括提...
型號:
所在地:香港特別行政區(qū)
參考價:
¥50000更新時間:2025/3/10 7:53:14
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KLA Filmetrics F30薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀白光干涉測厚儀Filmetrics F30薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量系統(tǒng)
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KLA Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀系列,涵蓋近紅外光波長范圍980 nm、1310 nm及1550 nm,能夠測量從15納米至3毫米的薄膜厚...
型號:
所在地:香港特別行政區(qū)
參考價:
¥50000更新時間:2025/3/10 7:42:31
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KLA Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀F3-sX薄膜厚度測量儀白光干涉測厚儀Filmetrics F3-sX
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KLA Filmetrics F3-CS快速厚度測量系統(tǒng)
KLA Filmetrics F3-CS快速厚度測量系統(tǒng)專為微小視野及樣品設計,支持快速、簡易的厚度測量,適用于聚對二甲苯和真空鍍膜層等。其具備自動校正功能,可...
型號:
所在地:香港特別行政區(qū)
參考價:
¥50000更新時間:2025/3/10 7:34:59
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KLA Filmetrics F3-CS快速厚度測量系統(tǒng)快速厚度測量系統(tǒng)薄膜厚度測量儀白光干涉測厚儀F3-CS快速厚度測量系統(tǒng)
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KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀通過同時測量反射和透射光譜,實現(xiàn)真空鍍膜的快速、精確分析。該設備價格合理,具備分析、FWHM確定及顏色分...
型號:
所在地:香港特別行政區(qū)
參考價:
¥50000更新時間:2025/3/10 7:28:14
對比
Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀白光干涉測厚儀Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量
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KLA Filmetrics F10-HC薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F10-HC薄膜厚度測量儀是一款專為測量單層和多層硬涂層設計的儀器,基于F20平臺,采用光譜反射分析技術,提供快速準確的測量結果。...
型號:
所在地:香港特別行政區(qū)
參考價:
¥50000更新時間:2025/3/10 7:21:12
對比
Filmetrics F10-HC薄膜厚度測量儀汽車薄膜厚度測量白光干涉測厚儀F10-HC薄膜厚度測量儀
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KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)
KLA Filmetrics F20臺式薄膜厚度測量系統(tǒng);經(jīng)濟實惠的膜厚儀系列在幾秒鐘內(nèi)就能完成高精度的薄膜厚度測量。這些易于使用的儀器與智能軟件和一系列附件和...
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所在地:香港特別行政區(qū)
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¥50000更新時間:2025/3/10 7:12:59
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Filmetrics F20Filmetrics F20白光干涉測厚儀薄膜厚度測量儀臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)
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KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測量儀便攜式反射儀帶有內(nèi)部光纖,利用具有長壽命、低功率光源可以測量曲面上的減反射涂層厚度。以極低的價格在幾秒...
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所在地:香港特別行政區(qū)
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¥50000更新時間:2025/3/10 7:02:14
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Filmetrics F10-ARcKLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測量儀白光干涉測厚儀薄膜厚度測量儀Filmetrics F10-ARc白光干涉測厚儀
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KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀
KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀便攜式反射儀帶有內(nèi)部光纖,利用具有長壽命、低功率光源可以測量曲面上的減反射涂層厚度。以極低的價格在幾秒鐘...
型號:
所在地:香港特別行政區(qū)
參考價:
¥50000更新時間:2025/3/10 2:57:44
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KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀KLA Filmetrics白光干涉測厚儀薄膜厚度測量儀光學薄膜測量設備
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KLA Filmetrics R50系列四探針電阻測試儀
KLA Filmetrics R50系列四探針電阻測試儀可對金屬層厚度、薄膜電阻、薄膜電阻率、薄膜電導和薄膜電導率進行測繪。R54是方塊電阻測量的最新一代升級款...
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¥50000更新時間:2025/3/10 2:43:46
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R50方塊電阻測試儀R50系列四探針電阻測試儀電阻測試儀方塊電阻測試四探針電阻測試
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KLA NanoFlip納米壓痕儀
KLA NanoFlip納米壓痕儀可在真空和氣氛條件下,準確、精密地進行硬度、模量、屈服強度、剛度和其它納米力學性能的測試。無論在掃描電子顯微鏡(SEM)或是聚...
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¥50000更新時間:2025/3/10 2:30:38
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KLA NanoFlip納米壓痕儀納米壓痕儀納米劃痕儀NanoFlip納米壓痕儀納米檢測
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KLA iNano®納米壓痕儀
KLA iNano®納米壓痕儀使測量薄膜、涂層和小體積材料變得更簡單。準確、靈活、用戶友好的儀器可以進行多樣的納米材料力學測試,包括壓痕、硬度、劃痕和...
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¥50000更新時間:2025/3/10 2:05:23
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KLA iNano®納米壓痕儀inano納米壓痕儀納米劃痕儀inano壓痕儀
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KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀
KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀是一種易于使用的納米級力學測試工具,可快速提供精確的定量分析結果。G200X系統(tǒng)可處理從硬質...
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所在地:香港特別行政區(qū)
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¥50000更新時間:2025/3/10 1:49:48
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KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀納米壓痕儀納米劃痕儀半導體劃痕壓痕測量
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KLA iMicro納米壓痕儀
KLA iMicro納米壓痕儀可輕松測量硬質涂層、薄膜和小尺寸材料等。其準確、靈活,并且用戶友好,可以提供壓痕、硬度測試、劃痕和納米級萬能試驗等多種納米力學測試...
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所在地:香港特別行政區(qū)
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¥50000更新時間:2025/3/10 1:27:11
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KLA iMicro納米壓痕儀納米壓痕儀納米劃痕儀納米劃痕測試納米壓痕測量
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KLA Candela® 7100系列缺陷檢測和分類系統(tǒng)
KLA Candela® 7100系列缺陷檢測和分類系統(tǒng)為硬盤驅動器基板和介質提供了高級缺陷檢測和分類功能。7100系列硬盤驅動器缺陷檢測和分類系統(tǒng)以...
型號:
所在地:香港特別行政區(qū)
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¥50000更新時間:2025/3/9 23:09:27
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KLA Candela® 7100缺陷檢測分類系統(tǒng)晶圓缺陷檢測和分類系統(tǒng)晶圓缺陷檢測系統(tǒng)晶圓分類系統(tǒng)半導體缺陷檢測和分類系統(tǒng)