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徠卡在電子行業(yè)的產(chǎn)品解決方案

檢測樣品:線bonding 金屬材料表面 錫球 導(dǎo)電粒子 液晶屏上劃痕

檢測項(xiàng)目:屬線斷裂或者缺損 表面形貌 三維形貌

方案概述:顯微鏡很難采用均勻的照明,獲得與模具連接部分的導(dǎo)線的清晰圖像。借助DVM6內(nèi)置的多種照明模式并使用勻光器柔化光線,用戶可以通過均勻分布的照明拍攝引導(dǎo)線的清晰圖像。不但能通過圖片確保它們接觸良好。同時(shí)使用DVM6的“景深合成功能”,可克服在高倍率下景深不夠的限制,擁有高倍率下導(dǎo)線的*對焦圖像。

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更新時(shí)間2021年02月26日

上傳企業(yè)徠卡顯微系統(tǒng)(上海)貿(mào)易有限公司

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1.bonding

boding是一種封裝方式,手機(jī)、PDA、MP3播放器、數(shù)位相機(jī)、游戲主機(jī)等設(shè)備的液晶屏幕,很多就是采用bonding技術(shù)。bonding后的產(chǎn)品,相對來說品質(zhì)、性能與規(guī)格都比較好。如果金屬線斷裂或者缺損的話,會導(dǎo)致內(nèi)部電路無法正常連接。

顯微鏡很難采用均勻的照明,獲得與模具連接部分的導(dǎo)線的清晰圖像。借助 DVM6 內(nèi)置

的多種照明模式并使用勻光器柔化光線,用戶可以通過均勻分布的照明拍攝引導(dǎo)線的清晰圖像。不但能通過圖片確保它們接觸良好。同時(shí)使用DVM6的“景深合成功能”,可克服在高倍率下景深不夠的限制,擁有高倍率下導(dǎo)線的*對焦圖像。因此可避免不良產(chǎn)品的出現(xiàn),避免過短的導(dǎo)線在通電時(shí)由于熱膨脹而導(dǎo)致斷開,或者避免過長的導(dǎo)線在移動(dòng)時(shí)產(chǎn)生不需要的接觸。

 

2.金屬材料表面

即使樣品沒有進(jìn)行比較好的切割或拋光,大景深的特性依舊能獲得*對焦圖像。加上使用了DVM6*的同軸光斜照明的照明方式,將樣品表面的難以發(fā)現(xiàn)細(xì)微形貌凸顯出來。

 

3. PCB鉆孔

PCB鉆孔是PCB制版的一個(gè)過程,主要是給板子打孔,走線需要,打個(gè)孔做定位。

使用自有轉(zhuǎn)換的角度進(jìn)行觀察,可無需進(jìn)行繁瑣的樣品位置調(diào)整,即可輕松觀察到印刷線路板側(cè)邊鉆孔的形貌,通過轉(zhuǎn)動(dòng)支架角度,尋找檢測的合適視角。使用DVM6“3D建模以及“3D測量功能,可以快速獲取到鉆孔的三維形貌,并且直接獲取高度等三維數(shù)據(jù)。

 

4. BGA

BGA錫球(BGA錫珠)是用來代替IC元件封裝結(jié)構(gòu)中的引腳,從而滿足電性互連以及機(jī)械連接要求的一種連接件。但如果錫球里面有過多或過大的氣泡,就極有可能會產(chǎn)生斷裂的問題,另外如果錫球的外直徑比起其他相鄰的錫球來得大或小,也有機(jī)會造成空焊。

BGA上的漫反射通常很難觀察,通過使用DVM6的勻光器等配件,將*消除錫球的炫光進(jìn)行觀察。同時(shí)可直接在錫珠的 3D 顯示上進(jìn)行輪廓測量,比較錫球之間的細(xì)微高度差,檢查錫珠是否均勻,確保兩個(gè)芯片之間接觸良好。

5. 小錫球

小錫球的形成可能會有很多種原因,比如回流焊過程中錫膏飛濺,形成小顆粒狀的錫球。

傾斜支架的同時(shí)進(jìn)行景深疊加功能,可將半導(dǎo)體元器件側(cè)壁上的錫珠掃描出來。

6. 導(dǎo)電粒子

無需進(jìn)行前期預(yù)處理,通過DVM6*的斜照明功能,讓液晶屏上的導(dǎo)電粒子清晰可見。

7. 液晶屏噴漆

以往光學(xué)層面上難以分辨出的液晶屏上的噴漆,只需使用DVM6的“同軸光”以及斜照明功能,可分辨出玻璃屏幕上粒徑幾十微米的漆體顆粒。

8. 液晶屏上劃痕

使用傳統(tǒng)金相顯微鏡看液晶屏上細(xì)微劃痕時(shí),也很難看到劃痕的細(xì)節(jié),這樣就必須使用 SEM 來完成檢測。將 DVM6的“景深疊加功能”與“斜照明功能組合使用,可觀察到玻璃面上劃痕的所有形貌。


 

9. 連接器針腳

連接器針腳起到電信號的導(dǎo)電傳輸作用。檢查針腳上鍍層有沒有劃痕,針腳有無斷裂殘缺。

通過景深疊加功能,讓針腳根根清晰可見,在高倍數(shù)下既能看清側(cè)壁是否有劃痕和斷裂,也能大視野看清所有連接器里的pin針。

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