北京利曼科技有限公司
利曼Prodigy直流電弧光譜儀 (DC Arc) 測(cè)定高純硅中的痕量元素
檢測(cè)樣品：高純硅
檢測(cè)項(xiàng)目：鋁 硼 鈣 鉻 銅 鐵 錳 鎳 磷 鈦 釩
方案概述：本文檢測(cè)樣品中的鋁、硼、鈣、鉻、銅、鐵、錳、鎳、磷、鈦和釩等，證明TeledyneLeemanLabsProdigy直流電弧光譜儀測(cè)定高純硅中痕量元素的能力。
硅是地殼中第二常見的元素，其熔點(diǎn)為1414℃。但自由態(tài)的硅元素很少在自然界中找到。由于其電阻性和相對(duì)高的熱傳導(dǎo)性能，硅被廣泛應(yīng)用。高純硅被廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能工業(yè)，例如被制成硅晶片，太陽(yáng)能電池和硅基半導(dǎo)體。作為合金，硅鐵合金占世界上硅制品的絕大多數(shù)，被用于鋼鐵工業(yè)。硅同樣用于改善鋁的硬度和抗磨性，使其可用于鋼鐵生產(chǎn)。
本文檢測(cè)樣品中的鋁、硼、鈣、鉻、銅、鐵、錳、鎳、磷、鈦和釩等，證明Teledyne Leeman Labs Prodigy直流電弧光譜儀測(cè)定高純硅中痕量元素的能力。
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項(xiàng)目名稱：福州第8.5代新型半導(dǎo)體顯示器件生產(chǎn)線項(xiàng)目，項(xiàng)目編號(hào)：4197-214BOEFZ0001/...
