X 射線光電子能譜儀 （XPS） 系統(tǒng) 返回列表頁

分析選項(xiàng)包括革命性的復(fù)合型離子源、一個(gè)用于將空氣敏感樣品從手套箱轉(zhuǎn)移到系統(tǒng)的真空傳遞模塊，以及用于收集 ARXPS 數(shù)據(jù)的傾斜模塊。配備 Thermo Scientific™ Avantage 數(shù)據(jù)系統(tǒng)（全面的表面分析軟件系統(tǒng)），K-Alpha+ 具有一系列的軟件功能，專為優(yōu)化數(shù)據(jù)解讀、數(shù)據(jù)報(bào)告和可用性而設(shè)計(jì)。K-Alpha XPS 系統(tǒng)可滿足經(jīng)驗(yàn)豐富的 XPS 分析員和新手的要求，將高性能單色化 XPS 和濺射深度剖析與智能自動(dòng)化和直觀控制結(jié)合在一起。

強(qiáng)大的性能

可選面積能譜分析

濺射深度剖析

微聚焦單色器

快照采集

高分辨率化學(xué)狀態(tài)能譜分析

絕緣樣品分析

定量化學(xué)成像

無以倫比的易用性

采集——能譜、圖像、剖析、線掃描

解讀—— 元素和化學(xué)狀態(tài)鑒定

處理—— 定量、分峰擬合、實(shí)時(shí)剖析顯示、能譜圖像處理、PCA、相分析、TFA、NLLSF、PSF 扣除、光學(xué)/XPS 圖像疊加

報(bào)告—— 自動(dòng)生成報(bào)告且可輕松導(dǎo)出到其他軟件包

控制——所有硬件都通過 Avantage 軟件界面進(jìn)行控制

Avantage Indexer——數(shù)據(jù)存檔索引

審計(jì)跟蹤記錄

系統(tǒng)性能記錄

按需校準(zhǔn)

*的遠(yuǎn)程操控

主要特點(diǎn)

分析器—— 180° 雙聚焦半球型分析器，配備 128 通道檢測器

X 射線源—— Al Ka 微聚焦單色器，可變光斑尺寸（30-400 µm，以 5 µm 為步長）

離子槍—— 能量范圍 100-4000 eV

荷電補(bǔ)償——雙束源

樣品處理——4 軸樣品臺(tái)、60 x 60 mm 樣品區(qū)域、20 mm 大樣品厚度

真空系統(tǒng)——2 x 260 L/s 渦輪分子泵，用于進(jìn)樣室和分析室

可選配件——Thermo Scientific™ MAGCIS™復(fù)合型離子源、真空傳遞模塊、用于 ARXPS 的傾斜模塊、樣品偏壓模塊。