岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司

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EVG光刻機(jī)
EVG鍵合機(jī)
晶圓關(guān)鍵尺寸測(cè)量
EVG納米壓印機(jī)
膜厚儀
防震臺(tái)
晶圓厚度測(cè)量
應(yīng)力測(cè)量
3D形貌儀/白光干涉輪廓儀
光學(xué)鏡頭對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)(定心儀)
片電阻測(cè)量?jī)x
晶圓缺陷檢測(cè)
等離子去膠
橢偏儀
臺(tái)階儀
4D 動(dòng)態(tài)激光干涉儀
光學(xué)粗糙度測(cè)試儀
電容式位移傳感器
磁性材料檢測(cè)設(shè)備
全自動(dòng)測(cè)量機(jī)臺(tái)

  • Delcom 非接觸式電阻測(cè)試 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    非接觸式電阻測(cè)試可保證被測(cè)試材料的實(shí)際薄膜電阻值偏差不超過 3%。以下圖表所展示的是根據(jù) 10 NIST、VLSI 和 MSA 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試的 Delcom 計(jì)量器...
    型號(hào)： 品牌：DELCOM所在地：上海市 對(duì)比
    非接觸式電阻測(cè)試非接觸薄膜電阻測(cè)量?jī)x
    2024/11/9 14:17:596537

  • 電容式位移傳感器 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：Microsense 5810/6810
    美國Microsense電容式位移傳感器*非接觸式電容式微位移測(cè)量—準(zhǔn)確的電子感應(yīng)技術(shù), 無損樣品測(cè)量。
    型號(hào)： Microsens... 品牌：MicroSense所在地：上海市 對(duì)比
    傳感器位移傳感器電容式位移傳感器電容位移傳感器非接觸式位移傳感器
    2024/11/26 17:17:389267

  • 白光干涉儀 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：Nano X-2000S
    白光干涉儀廣泛應(yīng)用于集成電路制造、MEMS、航空航天、精密加工、表面工程技術(shù)、材料、太陽能電池技術(shù)等領(lǐng)域。
    型號(hào)： Nano X-20... 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    3D光學(xué)輪廓儀臺(tái)階儀白光干涉儀光學(xué)輪廓儀表面形貌儀
    2024/11/9 12:26:196165

  • RTEC 白光干涉儀+共聚焦一體機(jī) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    該儀器具備轉(zhuǎn)盤式針孔共聚焦和白光干涉兩種光學(xué)測(cè)量技術(shù)，用于各種材料/涂層/器件的高精度表面三維特征 測(cè)量，能夠測(cè)量從粗糙的到光滑的，堅(jiān)硬的到柔軟的，黏性的表面以...
    型號(hào)： 品牌：RTEC所在地：上海市 對(duì)比
    白光干涉共聚焦共焦形貌測(cè)量輪廓儀
    2024/11/9 14:46:202897

  • 晶圓幾何形貌及參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：PLS-F1000/F1002
    晶圓幾何形貌及參數(shù)自動(dòng)檢測(cè)機(jī)PLS- F1000/ F1002 是一款專門測(cè)量晶圓厚度、TTV, Bow, Warp, TIR, Sori, Sag, LTV等...
    型號(hào)： PLS-F1000... 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    PLS-F1000PLS-F1002晶圓幾何形貌形貌檢測(cè)岱美儀器
    2024/11/9 14:28:472844

  • 全自動(dòng)帶顯微鏡多點(diǎn)測(cè)量 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：FR-Mic
    FR-Mic 多層膜厚度測(cè)試儀是一款快速、準(zhǔn)確測(cè)量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，可以將光斑縮小到幾個(gè)微米，進(jìn)而分析微小區(qū)域或者粗糙表面薄膜特征。
    型號(hào)： FR-Mic 品牌：ThetaMetrisis所在地：東莞市 對(duì)比
    多層膜厚度測(cè)試Thetametrisis膜厚儀FR-Mic um級(jí)薄膜表征全自動(dòng)顯微鏡多點(diǎn)測(cè)量
    2024/11/9 14:10:075577

  • 高溫薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：FSM 500TC
    美國FSM 高溫薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備：美國FSM成立于1988年，總部位于圣何塞，多年來為半導(dǎo)體行業(yè)等高新行業(yè)提供各式精密的測(cè)量設(shè)備。
    型號(hào)： FSM 500TC 品牌：FSM所在地：上海市 對(duì)比
    應(yīng)力儀高溫應(yīng)力測(cè)量?jī)x應(yīng)力測(cè)試儀應(yīng)力測(cè)量?jī)x薄膜應(yīng)力測(cè)量?jī)x
    2024/11/9 13:35:275657

  • FilmSense多波段橢偏儀 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：FS-1
    FilmSense多波段橢偏儀可通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測(cè)量，快速實(shí)現(xiàn)光學(xué)參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析,適用于薄膜材料的快速測(cè)量表征。
    型號(hào)： FS-1 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    FilmSense多波段橢偏儀多波段橢偏儀多波段橢偏儀橢偏儀
    2024/11/9 15:39:052299

  • Daeil 臺(tái)式主動(dòng)防振臺(tái) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：DVIA-T
    DVIA-T是韓國Daeil公司推出的先進(jìn)的臺(tái)式主動(dòng)防震/隔振平臺(tái)，旨在將納米級(jí)成像儀器與低頻振動(dòng)隔離開來，并在1 Hz時(shí)提供40-80%的隔振。
    型號(hào)： DVIA-T 品牌：DAEIL所在地：上海市 對(duì)比
    防振臺(tái)減震臺(tái)防震臺(tái)主動(dòng)式防震臺(tái)DVIA-T主動(dòng)式隔振臺(tái)
    2024/12/18 13:19:023424

  • 全自動(dòng)帶顯微鏡多點(diǎn)測(cè)量膜厚儀 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：FR-Mic
    硬化涂層膜厚儀是一款快 速、準(zhǔn)確測(cè)量薄膜表征應(yīng)用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個(gè)微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。
    型號(hào)： FR-Mic 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比
    膜厚儀測(cè)膜儀薄膜厚度分析儀薄膜厚度測(cè)量?jī)x薄膜測(cè)量?jī)x
    2025/1/16 10:09:0410361

  • EVG810 LT 低溫等離子活化系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    EVG810 LT 低溫等離子活化系統(tǒng) 應(yīng)用：用于SOI，MEMS，化合物半導(dǎo)體和高級(jí)襯底鍵合的低溫等離子體活化系統(tǒng)
    型號(hào)： 品牌：EVG所在地：上海市 對(duì)比
    自動(dòng)晶圓鍵合對(duì)準(zhǔn)機(jī)晶圓鍵合對(duì)準(zhǔn)機(jī)鍵合對(duì)準(zhǔn)機(jī)鍵合對(duì)準(zhǔn)機(jī)價(jià)格
    2024/11/9 12:38:492097

  • 等離子去膠 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    等離子去膠工藝擁有低污染顆粒，低成本大規(guī)模量產(chǎn)，高均勻性與高可復(fù)制性等工藝特征。
    型號(hào)： 品牌：所在地：上海市 對(duì)比
    等離子去膠
    2024/11/9 14:26:183094

  • 光學(xué)粗糙度測(cè)試儀 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：OptoScan 600
    OptoScan600是一款光學(xué)粗糙度測(cè)試儀，主要用于檢測(cè)晶圓缺陷、粗糙度、波紋度、翹曲度等數(shù)據(jù)。
    型號(hào)： OptoScan ... 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    OptoScan 600光學(xué)粗糙度測(cè)試儀Optosurf
    2024/11/9 14:36:562310

  • 光學(xué)顯微鏡適配器 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：FR-uProbe-LC
    FR-uProbe-LC: 可測(cè)量小至幾微米的光斑尺寸應(yīng)用，例如微圖案表面、高粗糙度表面的樣品等等只需單擊鼠標(biāo)即可在 Vis/NIR波長范圍中測(cè)量微小區(qū)域薄膜厚...
    型號(hào)： FR-uProbe... 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比
    膜厚儀拓展工具測(cè)量
    2024/11/9 16:27:20951

  • 全光譜橢圓偏光測(cè)厚儀SE950 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：Dymek岱美儀器
    Raditech致力于光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，在光學(xué)量測(cè)設(shè)備領(lǐng)域?qū)I(yè)度高、能提供整合性解決方案。推出第一臺(tái)國人自制的「全光譜橢圓偏光量測(cè)儀」及「全光譜反射式膜厚量測(cè)儀」，...
    型號(hào)： Dymek岱美儀器 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    全光譜橢偏儀測(cè)厚偏光Dymek岱美儀器
    2024/11/9 16:25:141899

  • FR-Scanner-AIO-Mic-XY300 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    FR-Scanner-AIO-Mic-XY300 是一款整合自動(dòng)薄膜厚度測(cè)繪系統(tǒng)，用于全自動(dòng)圖案化晶圓上的單層和多層涂層厚度測(cè)量。電動(dòng)X-Y載物臺(tái)提供適用尺寸 ...
    型號(hào)： 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對(duì)比
    膜厚儀薄膜厚度測(cè)繪微米級(jí)
    2024/11/9 16:23:41989

  • Stefan Mayer MR-3 主動(dòng)消磁系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    MR3主動(dòng)式直流消磁器是一款已經(jīng)被證明能夠解決磁場(chǎng)干擾問題的解決方案。通常應(yīng)用于電子顯微鏡，電子束，離子束儀器，核磁成像，生物核磁設(shè)備等的磁場(chǎng)干擾。 MR3是一...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    主動(dòng)消磁隔振MR-3
    2024/11/9 16:21:495887

  • Dymek岱美中國儀器自動(dòng)掩模對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：IQ Aligner NT
    ?新型IQ Aligner NT具有高強(qiáng)度和高均勻度的曝光光學(xué)器件，新的晶圓處理硬件，可實(shí)現(xiàn)全局多點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)的200mm和300mm晶圓全覆蓋范圍以及優(yōu)化的工具軟件...
    型號(hào)： IQ Aligne... 品牌：EVG所在地：上海市 對(duì)比
    光刻機(jī)光刻掩膜掩模曝光
    2024/11/9 16:20:011562

  • LAS-XUP-VIS™ 定心儀（偏心儀） 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    LAS-XUP-VIS™是一個(gè)0.5m大小的非接觸式透鏡對(duì)準(zhǔn)和檢測(cè)儀，從地面開始設(shè)計(jì)，用于單元件、雙透鏡、三重透鏡和多元件透鏡組件的精密透鏡集中和傾...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    對(duì)準(zhǔn)檢測(cè)
    2024/11/9 16:18:131216

  • LAS-UP-VIS™ 定心儀（偏心儀） 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    LAS-UP-VIS™是一個(gè)0.5m大小的非接觸式透鏡對(duì)準(zhǔn)和檢測(cè)儀，從地面開始設(shè)計(jì)，用于單元件、雙透鏡、三重透鏡和多元件透鏡組件的精密透鏡集中和傾斜...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    對(duì)準(zhǔn)檢測(cè)
    2024/11/9 16:16:221091

  • LAS-BT-VIS™ NextGen 定心儀（偏心儀） 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    LAS-BT-VIS™是一款緊湊的（臺(tái)式）非接觸式透鏡對(duì)準(zhǔn)和檢測(cè)系統(tǒng)，從地面開始設(shè)計(jì)，用于精確透鏡聚焦和傾斜測(cè)量單元件，雙透鏡，三重透鏡和多元件透鏡...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    透鏡對(duì)準(zhǔn)檢測(cè)
    2024/11/9 16:12:231260

  • UltraFilm - 薄膜測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    系統(tǒng)可以為各種材質(zhì)薄膜提供高精度的厚度均勻性測(cè)量。使用創(chuàng)新的融合光譜反射技術(shù)、近紅外干涉技術(shù)以及高亮度光源驅(qū)動(dòng)的光譜橢偏儀技術(shù)的多傳感器融合測(cè)量技術(shù)，是國內(nèi)可以...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    薄膜測(cè)量同質(zhì)膜厚全自動(dòng)檢測(cè)
    2024/11/26 17:22:251270

  • UltraShape - 晶圓關(guān)鍵尺寸測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    系統(tǒng)用于磨片、拋光等前道工藝流程中的晶圓尺寸及形貌檢測(cè)，包括TTV，Bow，Warp，TIR等參數(shù)，可覆蓋4寸-12寸任何材質(zhì)晶圓的關(guān)鍵尺寸檢測(cè)，精度達(dá)國際水平...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    測(cè)量關(guān)鍵尺寸前道TTV
    2024/11/9 16:08:531017

  • UltraINSP - 晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)： 面議

    參考價(jià)： 面議 型號(hào)：
    UltraINSP晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)是表面缺陷檢測(cè)的蕞完善的國產(chǎn)化替代產(chǎn)品，系統(tǒng)包括四個(gè)模塊可以檢測(cè)所有晶圓表面并同步采集數(shù)據(jù)：晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測(cè)模...
    型號(hào)： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比
    晶圓檢測(cè)表面缺陷檢測(cè)缺陷檢測(cè)
    2024/11/9 16:06:291109
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