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膜厚測量儀

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  • 所在地 深圳市
在線詢價(jià) 收藏產(chǎn)品

更新時間:2019-03-22 13:03:49瀏覽次數(shù):1178

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產(chǎn)品簡介

◆可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度
◆可通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測量,避免直接接觸或破壞被測物。
◆薄膜FP法軟件是標(biāo)準(zhǔn)配置,可同時對多層鍍層及合金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量。此外,也適用于無鉛焊錫的應(yīng)用。
◆備有250種以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。

詳細(xì)介紹

儀器規(guī)格及參數(shù)

 

 

X射線管

油冷式超微細(xì)對焦點(diǎn)X射線管

靶材:鎢(W)、鋁(AL)、鉬(MO)

管電壓:0~50kv

管電流:0.1mA

照射方式

由上往下垂直照射方式

檢測器

正比例計(jì)數(shù)管(PC)

儀器校正

密度校正,標(biāo)準(zhǔn)樣品校正

檢測濾片

Co片,Ni片可選

 

準(zhǔn)直器

固定型或自動型

固定型:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05x0.3mm

自動型:0.1,0.2,0.3,0.4,0.05x0.3mm

輸入電壓

AC220V

溫度控制

前置放大及主機(jī)溫度控制

工作溫度

室溫(22~25℃)

真空樣品室

排氣所需時間

沒有

可測量元素范圍

鈦(Ti)—鈾(U)

可測量厚度范圍

原子序:22-25,0.1-0.8um 26-40,0.05-35um 43-52,0.05-100um 72-82,0.05-5um

測量時間

10~30s

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