光纖端面檢測(cè)成像儀 參考價(jià)：面議
光纖幾何參數(shù)檢測(cè)儀FGC-GT可測(cè)量光纖尺寸,可測(cè)量直徑達(dá)400µm的光纖幾何結(jié)構(gòu),可對(duì)光纖端面成像,適用于測(cè)量直徑小于等于400µm光纖的...
光纖幾何尺寸測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
光纖幾何尺寸測(cè)試儀FGC-GS可測(cè)量多模光纖芯徑,包層直徑,纖芯圓度,包層圓度,芯到包層同心度等指標(biāo),可測(cè)量直徑達(dá)1000µm的多模光纖幾何結(jié)構(gòu)參數(shù),...
光纖特征參數(shù)測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
光纖特征參數(shù)測(cè)量?jī)x是一種多功能光纖幾何參數(shù)測(cè)量?jī)x器,一臺(tái)這樣的儀器可以測(cè)量光纖v型槽塊幾何形狀,芯對(duì)芯間距和芯X、Y偏移量,適合寬度高達(dá)15mm的多光纖陣列,具...
光纖端面檢測(cè)干涉儀 參考價(jià)：面議
光纖端面檢測(cè)干涉儀VFI-200是一種干涉檢測(cè)系統(tǒng),用于檢查切割或拋光光纖的表面質(zhì)量和平整度。光纖端面檢測(cè)干涉儀廣泛用于科學(xué)實(shí)驗(yàn),光纖生產(chǎn)等領(lǐng)域。
850nm/1300nm光纖測(cè)試光源 參考價(jià)：面議
850nm/1300nm光纖測(cè)試光源是為多模光纖損耗測(cè)試設(shè)計(jì)的光纖損耗測(cè)試LED光源,與光功率計(jì)一起用于多模光纖系統(tǒng)損耗測(cè)量,應(yīng)用于需要85/85%有限相空間模...
光纖Encircled Flux測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
MPX-2可實(shí)時(shí)測(cè)量光纖環(huán)形通量EF,只需將光纖信源和跳線連接到光纖Encircled Flux測(cè)量?jī)xMPX上,就能實(shí)時(shí)測(cè)量光纖模態(tài)發(fā)射狀況Modal Laun...
多模光纖散斑抑制器 參考價(jià)：面議
MPX-SR3專業(yè)為減少抑制多模光纖散斑而設(shè)計(jì)的光纖振動(dòng)器fiber shaker,非常適合透射光源在多模光纖傳輸中減少散斑的應(yīng)用。
光纖色散測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：100000
這款光纖色散測(cè)量?jī)x是為光纖色散分析應(yīng)用設(shè)計(jì)的光纖色散分析儀器,采用inometrix的Virtual Reference干涉儀技術(shù),可與Agilent/Keys...
PMD偏振模色散測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
PMD偏振模色散測(cè)試儀是為偏振模色散PMD測(cè)量設(shè)計(jì)的雙折射色散測(cè)量?jī)x器。PMD偏振模色散測(cè)試儀根據(jù)兩種偏振態(tài)的有效折射率（雙折射）不同，沿光纖長(zhǎng)度隨機(jī)變化分析測(cè)...
高功率光纖合束器 參考價(jià)：面議
這款高功率光纖合束器combiners是為高功率激光傳輸光纖耦合設(shè)計(jì)的高功率激光光纖合路器,可承受激光功率3000W的高功率激光,可把6路光纖合束為1路光纖輸出
SPECT伽瑪射線相機(jī) 參考價(jià)：面議
SPECT伽瑪射線相機(jī)模塊是專業(yè)為伽瑪成像開(kāi)發(fā)的伽瑪射線相機(jī)和伽瑪成像探測(cè)器模塊,它采用CZT伽瑪射線相機(jī)成像,提供靈敏度和分辨率*高的伽瑪射線輻射成像效果,非...
HPGe探測(cè)器 參考價(jià)：面議
這款HPGe探測(cè)器是專業(yè)為X射線和伽瑪射線探測(cè)而設(shè)計(jì)的一種電子制冷的高純鍺探測(cè)器，不需要液氮制冷。 非常適合各種伽瑪射線和X射線探測(cè)使用,是理想的伽瑪射線探測(cè)器...
光致變色透鏡透過(guò)率測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
光致變色透鏡透過(guò)率測(cè)試儀提供褪色和AM2條件狀態(tài)下光致變色（光敏）透鏡透射的準(zhǔn)確特征,作為全自動(dòng)光致變色透鏡光度計(jì),光致變色透鏡光譜儀器BPC300能夠按照國(guó)際...
電子自準(zhǔn)直儀,自動(dòng)準(zhǔn)直 參考價(jià)：面議
電子自準(zhǔn)直儀具有電控內(nèi)焦功能，電動(dòng)內(nèi)部聚焦功能的準(zhǔn)直自準(zhǔn)直儀,使用相機(jī)和圖像處理系統(tǒng)來(lái)記錄測(cè)量值。電動(dòng)控制可以適應(yīng)特殊任務(wù)。這同樣適用于測(cè)量值的獲取和輸出。
硒化鉛PbSe探測(cè)器 參考價(jià)：面議
這款硒化鉛探測(cè)器采用熱電偶制冷,在1-5μm光譜范圍具有良好的光譜響應(yīng)能力,熱電制冷使用方便。
HgCdTe光電探測(cè)器 參考價(jià)：面議
HgCdTe光電探測(cè)器是低溫冷卻MCT光電二極管和2-12μm碲鎘汞二極管,低溫冷卻碲鎘汞對(duì)長(zhǎng)波紅外具有很高的響應(yīng)性。
太赫茲探測(cè)器 參考價(jià)：面議
太赫茲探測(cè)器TeraPyro是高性能太赫茲傳感器,高響應(yīng)度（高達(dá)2kV/W）和低NEP 0.1-30 THz的寬光譜范圍,具有可互換的預(yù)對(duì)準(zhǔn)光學(xué)器件和高品質(zhì)太赫...
無(wú)人機(jī)激光雷達(dá)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
無(wú)人機(jī)激光雷達(dá)系統(tǒng)采用大負(fù)載UAV平臺(tái)和高靈敏度LiDAR系統(tǒng)組成，提供高分辨率3D點(diǎn)云?？梢赃x配不同種類的無(wú)人機(jī)平臺(tái)。
無(wú)人機(jī)LiDAR系統(tǒng),激光雷達(dá) 參考價(jià)：面議
無(wú)人機(jī)LiDAR系統(tǒng)Geo-MMS（移動(dòng)地圖系統(tǒng)）是模塊化無(wú)人機(jī)激光雷達(dá)和圖像捕獲解決方案。
四探針電阻率儀 參考價(jià)：面議
這款四探針電阻率儀是采用四點(diǎn)探針測(cè)量電阻率技術(shù)的四探針電阻率測(cè)試儀。自動(dòng)測(cè)量晶圓電阻率,探針頭方便更換,探針頭由軟件可識(shí)別,探針半徑0.25mm,軟件自動(dòng)計(jì)數(shù),...
光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
高精度光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)量?jī)x是六軸電動(dòng)MTF測(cè)試儀器,軟件控制MTF測(cè)試分析,滿足有限/有限對(duì)象/圖像共軛光學(xué)測(cè)量應(yīng)用。
顯微薄膜測(cè)量?jī)x,進(jìn)口膜厚儀 參考價(jià)：面議
這款顯微薄膜測(cè)量?jī)x是一款多功能薄膜測(cè)厚儀和顯微分光光度計(jì)，可以結(jié)合顯微鏡測(cè)量薄膜吸收率,測(cè)量薄膜透過(guò)率,測(cè)量薄膜反射率以及測(cè)量薄膜熒光。這款顯微薄膜測(cè)試儀通過(guò)測(cè)...
動(dòng)三軸試驗(yàn)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
動(dòng)三軸試驗(yàn)系統(tǒng)是GDS動(dòng)三軸測(cè)試系統(tǒng)ELDYN,基于軸向剛性負(fù)載框架，帶有梁式機(jī)電致動(dòng)器。滿足巖土實(shí)驗(yàn)室測(cè)試行業(yè)對(duì)低成本、更基本的動(dòng)三軸測(cè)試系統(tǒng)的需求。
離子污染測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
離子污染測(cè)試儀盡管通常被稱為“清潔度測(cè)試"，但Contanamimeter實(shí)際上是一種用于測(cè)量離子污染的工具。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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