光致發(fā)光掃描成像儀photoluminescence (PL) 是一款光致發(fā)光顯微鏡和顯微光致發(fā)光成像儀,幫助科研人員獲得材料的高分辨率光譜信息。
光致發(fā)光掃描成像儀把激光束照射到樣品表面,采集發(fā)射光,掃描樣品就獲得每個點（x,y)的光致發(fā)光光譜。通過掃描成像,可獲得數(shù)百萬光譜信息,進而軟件分析光譜的峰值能量和強度,獲得理想的對比度和分辨率的光譜圖像。
光致發(fā)光掃描成像儀可以快速改變波長范圍和實驗設(shè)置，除了獲得光致發(fā)光光譜，還可以獲得拉曼光譜和反射光譜。

光致發(fā)光掃描成像儀應(yīng)用

發(fā)光二極管缺陷檢測

寬帶半導(dǎo)體器件光致發(fā)光PL mapping

2D材料發(fā)光學(xué)研究

半導(dǎo)體合金的組份分析

半導(dǎo)體器件失效分析和質(zhì)量控制

光致發(fā)光掃描成像儀功能

亞微米分辨率進行PL mapping

寬視場顯微鏡功能用于樣品檢測

可測量拉曼光譜和反射光譜

光致發(fā)光掃描成像儀亮點

激光發(fā)射355-980nm

PL光譜范圍：355-1700nm

平面內(nèi)亞微米分辨率

采集數(shù)百萬光譜

外殼設(shè)計隔離溫度變化，灰塵和環(huán)境光的影響

光致發(fā)光掃描成像儀規(guī)格參數(shù)

平面分辨率：激光點半徑0.35um@50X,NA0.75物鏡， 以激光點為中心的2.9um區(qū)域內(nèi)采集發(fā)光光譜

樣品XY掃描：5mm行程,20nm重復(fù)精度

物鏡Z掃描：400um行程，5nm重復(fù)精度

采樣時間：10ms積分時間/光譜,

100um x 100um, 0.5um步進需要6分鐘

5mm x 5mm, 50um步進需要2分鐘

5mm x 5mm, 5um步進需要3小時

樣品檢測： LED, 單色相機

供電要求：120V，60Hz, USB3.0接口

尺寸：42cm x 36cm x 55cm

重量：16kg