目錄:孚光精儀（中國(guó)）有限公司>>高光譜成像系統(tǒng)>>高光譜成像分析>> FPIRI-HPR-IR近紅外高光譜分析儀
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更新時(shí)間：2024-04-23 08:46:52瀏覽次數(shù)：424評(píng)價(jià)
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| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器原理 | 成像 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 實(shí)驗(yàn)室級(jí)別 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,食品,生物產(chǎn)業(yè),電子,綜合 |
近紅外高光譜分析儀采用高光譜成像系統(tǒng)（HSI）技術(shù),分析樣品化學(xué)成分和空間信息的產(chǎn)品信息,特別適合制藥,食品等質(zhì)量檢測(cè)和異物檢查。
近紅外高光譜分析儀特點(diǎn)
連續(xù)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)
表面異物檢測(cè)
摻假檢測(cè)
不需要制備樣品
近紅外高光譜分析儀規(guī)格參數(shù)
速度：60米/分鐘
檢測(cè)能力：30噸/小時(shí)
功耗：2000W
傳送帶：400mm,500mm任選
控制：觸摸屏
重量：200kg
尺寸：1.8m x 1.9m x 1m
高光譜的異物發(fā)現(xiàn)
高光譜的異物發(fā)現(xiàn)
近紅外高光譜分析儀采用高光譜成像系統(tǒng)（HSI）技術(shù),分析樣品化學(xué)成分和空間信息的產(chǎn)品信息,特別適合制藥,食品等質(zhì)量檢測(cè)和異物檢查。
近紅外高光譜分析儀特點(diǎn)
連續(xù)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)
表面異物檢測(cè)
摻假檢測(cè)
不需要制備樣品
近紅外高光譜分析儀規(guī)格參數(shù)
速度：60米/分鐘
檢測(cè)能力：30噸/小時(shí)
功耗：2000W
傳送帶：400mm,500mm任選
控制：觸摸屏
重量：200kg
尺寸：1.8m x 1.9m x 1m
高光譜的異物發(fā)現(xiàn)
高光譜的異物發(fā)現(xiàn)
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