掃描離子電導(dǎo)顯微鏡SICM為納米材料和納米化學(xué)研究設(shè)計(jì),離子鏡掃描頭組件提供了zuixianjin的閉環(huán)彎曲掃描系統(tǒng)，可確保精確的測(cè)量、低噪聲水平和亞納米分辨率。
樣品的XY掃描范圍為100μm，移液管的Z掃描范圍為25μm（可擴(kuò)展），適用于對(duì)活細(xì)胞和材料進(jìn)行成像，掃描頭適用于各種現(xiàn)代型號(hào)的倒置顯微鏡。掃描頭與許多互補(bǔ)技術(shù)無縫集成，包括共焦顯微鏡、SECM和電生理學(xué)，為您的分析提供進(jìn)一步的深度。
掃描離子電導(dǎo)顯微鏡主控制器可以作為完整的掃描離子電導(dǎo)顯微鏡（SICM）系統(tǒng)的一部分購買，也可以單獨(dú)作為您自己的掃描頭的控制器購買。
它將控制和反饋信號(hào)、來自電流放大器（內(nèi)部或外部）的離子電流信號(hào)、來自壓電納米定位臺(tái)和掃描頭中的直流電機(jī)的定位信號(hào)連接到xianjin的多環(huán)控制系統(tǒng)。
控制器前面板上有額外的接口，例如，允許將信號(hào)從外部測(cè)量設(shè)備引入控制器，以便與閾值離子電流的檢測(cè)同步捕獲。
掃描離子電導(dǎo)顯微鏡典型應(yīng)用
細(xì)胞樣本表面形貌測(cè)量
活樣本,非接觸式和非侵入式,在電解質(zhì)溶液中,易于制造納米移液管
溶液中的活細(xì)胞/精細(xì)材料形態(tài)表征
細(xì)胞生長(zhǎng)的長(zhǎng)期觀察
智能膜片鉗應(yīng)用
傳統(tǒng)膜片鉗中困難樣品離子通道的研究
小膜特征（~100nm）上的離子通道研究
細(xì)胞研究
繪制細(xì)胞的力學(xué)靈敏度
納米活組織檢查
單細(xì)胞分析
掃描電化學(xué)顯微鏡應(yīng)用
生命科學(xué)和材料科學(xué)中局部形貌與電化學(xué)性質(zhì)的相關(guān)性