光學(xué)高溫顯微鏡是為材料高溫研究設(shè)計的光學(xué)加熱顯微鏡,特別適合熱光學(xué)分析技術(shù),用于分析材料高溫特性確定。在加熱顯微鏡中，使用非接觸技術(shù)在zui高1600°C的溫度下對試樣進(jìn)行光學(xué)分析。EMI III軟件自動分析試件的輪廓，并確定幾何參數(shù)和特征溫度。測量的設(shè)計允許將材料加熱到高于其熔點的溫度。適用于確定：
燒結(jié)特性
軟化特性
熔化特性
熱膨脹特性
潤濕特性。

光學(xué)高溫顯微鏡對測試對象的輪廓不斷進(jìn)行分析,特征溫度描述, 灰化,熔融行為-根據(jù)基于的標(biāo)準(zhǔn)，變形、收縮開始，球體、半球體和流溫度。這些特征溫度與幾何形狀相關(guān)測試對象采用，而它是加熱、軟化和融化。
根據(jù)DIN 51730、ISO 540，CEN/TS 15370和CEN/TR 15404使用固定算法,創(chuàng)建膨脹曲線基于定量威懾-測試對象區(qū)域的分層，高度和寬度。例如：Informa-燒結(jié)和膨脹的影響或甚至隨方向變化收縮行為。潤濕beha-一個熔化相對幾個基底也可以描述通過接觸角測量。

光學(xué)高溫顯微鏡規(guī)格參數(shù)