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電解涂層測(cè)厚儀HQT-IA

HQT-IA型（ZNS-IB型的改進(jìn)型）微電腦多功能電解測(cè)厚儀是一代金屬鍍層電解測(cè)厚儀，該儀器是根據(jù)電化學(xué)中的庫侖法與現(xiàn)代微電腦技術(shù)相結(jié)合的產(chǎn)物，具有結(jié)構(gòu)先進(jìn)，性能穩(wěn)定可靠，功能齊全，適用范圍廣的特點(diǎn)。

電解涂層測(cè)厚儀HQT-IA的參數(shù)規(guī)格：

測(cè)量品種：銅、鎳、鉻、鋅、鎘、銀、金、多層鎳各層厚度及層間電位差。
測(cè)量范圍：0.03μm～99.99μm 準(zhǔn)確度：±10%
復(fù)現(xiàn)精度：<5%
電位測(cè)量范圍：－100mv～ 400mv 電位測(cè)量精度：±5%
本產(chǎn)品榮獲國家輕工部科技成果三等獎(jiǎng)。

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