邁可諾技術(shù)有限公司

主營產(chǎn)品: 美國Laurell勻膠機(jī),WS1000濕法刻蝕機(jī),Cargille光學(xué)凝膠,EDC-650顯影機(jī),NOVASCAN紫外臭氧清洗機(jī)

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公司信息

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葉盛
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洪山區(qū)珞獅南路147號(hào)未來城A棟
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FR-uProbe微米級(jí)光學(xué)薄膜測厚儀
微米級(jí)光學(xué)薄膜測厚儀
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) FR-uProbe
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 北京市

更新時(shí)間:2024-05-16 21:18:43瀏覽次數(shù):2054

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【簡單介紹】
產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),電子,航天,汽車
品牌:希臘ThetaMetrisis
名詞:膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀
干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會(huì)非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動(dòng),而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起,所以通過干涉條紋的移動(dòng)變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量,從而測得與此有關(guān)的其他物理量。測量精度決定于測量光程差的精
【詳細(xì)說明】

FR-uProbe是涂層表征應(yīng)用的解決方案,要求光斑尺寸小*小微米,例如微圖案表面,具有不規(guī)則表面的樣品,其表現(xiàn)出高水平的散射光和許多其它。使用FR-uProbe,在UV / Vis / NIR上的局部薄膜厚度,光學(xué)常數(shù),反射率,透射率和吸光度測量只需點(diǎn)擊即可。

 

FR-uProbe簡單地連接到大多數(shù)商用光學(xué)顯微鏡的C接口適配器,并提供:

o實(shí)時(shí)光譜測量

o薄膜厚度,光學(xué)性能,非均勻性測量

o使用集成的USB連接和高質(zhì)量彩色相機(jī)進(jìn)行成像

o顯微鏡本身的性能不受影響

工作原理

白光反射光譜(WLRS)測量在一定波長范圍內(nèi)從薄膜或多層疊堆反射的光量,入射光垂直于(垂直于)樣品表面。

通過來自界面的干涉產(chǎn)生的測量的反射光譜用于確定自支撐和支撐(在透明或部分/全反射基板上)薄膜堆疊的厚度,光學(xué)常數(shù)(nk)等。

 

應(yīng)用

o大學(xué)和研究實(shí)驗(yàn)室

o半導(dǎo)體(氧化物,氮化物,硅,抗蝕劑等)

o MEMS器件(光刻膠,硅膜等)

o LED

o數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

o陽極氧化

o彎曲基板上的硬/軟涂層

o聚合物涂料,粘合劑等

o生物醫(yī)學(xué)(聚對(duì)二甲苯,氣球壁厚等)

 

特征

o   單擊分析(無需初始猜

o   動(dòng)態(tài)測

o   集成USB

o   保存視頻進(jìn)行演示

o    350+不相同的材料

o    3年免費(fèi)軟件更新

o   Windows 7/8/10上運(yùn)行



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