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單晶片直探頭檢驗(yàn)用對(duì)比試塊

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) GB/T2970-2004
  • 品牌
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 所在地 上海市
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更新時(shí)間:2017-04-01 00:30:23瀏覽次數(shù):1948

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GB/T2970-2004單晶片直探頭檢驗(yàn)用對(duì)比試塊,超聲波試塊 磁粉試塊 滲透試塊 標(biāo)準(zhǔn)試塊 無(wú)損檢測(cè)試塊ASTM 709--焊接缺陷檢測(cè)試塊CSK-IA,IIIA, ASME---45#鋼焊縫自然缺陷試塊

詳細(xì)介紹

GB/T2970-2004單晶片直探頭檢驗(yàn)用對(duì)比試塊

 

試塊編號(hào)  校檢驗(yàn)鋼板厚度 平底孔距離S 試塊厚度T
1        大于13-20      7          大于15
2        大于20-40      15         大于20
3        大于40-60      30         大于40
4        大于60-100     50         大于65

 

加定型
5        大于100-160    90         大于110
6        大于150-200    140        大于170

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